[發明專利]顯示面板及其修復方法、顯示裝置有效
| 申請號: | 202210031444.6 | 申請日: | 2022-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN114420882B | 公開(公告)日: | 2023-09-05 |
| 發明(設計)人: | 王若男 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | H10K50/805 | 分類號: | H10K50/805;H10K59/121;H10K71/00 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570 | 代理人: | 黃舒悅 |
| 地址: | 518132 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 面板 及其 修復 方法 顯示裝置 | ||
1.一種顯示面板,其特征在于,所述顯示面板包括多個子像素,每一所述子像素包括:
襯底;
有源層,設置在所述襯底的一側;
源極和漏極,設置在所述有源層遠離所述襯底的一側;
陽極,設置在所述源極遠離所述有源層的一側,所述陽極與所述源極連接;
第一修復電極,設置在所述有源層和所述陽極之間,所述第一修復電極位于所述源極遠離所述漏極的一側,并與所述源極連接;
陰極,設置在所述陽極遠離所述源極的一側;以及
第二修復電極,設置在所述第一修復電極與所述陰極之間,并與所述陰極連接,所述第二修復電極于所述襯底所在平面的正投影與所述第一修復電極于所述襯底所在平面的正投影至少部分重疊,所述第二修復電極與所述第一修復電極絕緣或者連接;
其中,所述第一修復電極與所述源極同層設置,并自所述源極的一端向遠離所述漏極的方向延伸;所述第二修復電極與所述陽極同層設置。
2.根據權利要求1所述的顯示面板,其特征在于,所述子像素還包括像素定義層,所述像素定義層位于所述陽極和所述陰極之間,所述像素定義層中開設有連接孔,所述陰極通過所述連接孔與所述第二修復電極連接。
3.根據權利要求2所述的顯示面板,其特征在于,所述子像素還包括設置在所述源極和所述陽極之間的平坦化層,所述平坦化層中開設有第一過孔,所述陽極通過所述第一過孔與所述源極連接;
所述連接孔裸露出所述第二修復電極,所述陰極延伸至所述連接孔內,并與所述第二修復電極相連。
4.根據權利要求2所述的顯示面板,其特征在于,所述子像素還包括依次設置在所述源極與所述陽極之間的鈍化層、保護電極以及平坦化層;
所述鈍化層中開設有接觸孔,所述保護電極通過所述接觸孔與所述源極連接;所述平坦化層中開設有第一過孔和第二過孔,所述第一過孔連通于所述接觸孔,所述陽極通過所述第一過孔與所述保護電極連接,所述第二過孔連通于所述連接孔,所述第二修復電極延伸至所述第二過孔內,所述陰極自所述連接孔延伸至所述第二過孔內,并與所述第二修復電極相連。
5.根據權利要求4所述的顯示面板,其特征在于,所述子像素還包括輔助修復電極,所述輔助修復電極與所述保護電極同層設置,所述第二過孔裸露出所述輔助修復電極,所述第二修復電極延伸至所述第二過孔內,并與所述輔助修復電極連接。
6.根據權利要求1所述的顯示面板,其特征在于,所述子像素還包括依次設置在所述源極與所述陰極之間的鈍化層、保護電極、平坦化層以及像素定義層;
所述鈍化層中開設有接觸孔,所述保護電極通過所述接觸孔與所述源極連接,所述第二修復電極與所述保護電極同層設置;所述平坦化層中開設有第一過孔和第二過孔,所述第一過孔連通于所述接觸孔,所述陽極通過所述第一過孔與所述保護電極連接,所述第二過孔裸露出所述第二修復電極;所述像素定義層中開設有連通于所述第二過孔的連接孔,所述陰極延伸至所述連接孔和所述第二過孔內,并與所述第二修復電極相連。
7.根據權利要求1所述的顯示面板,其特征在于,所述子像素還包括依次設置在所述源極與所述陽極之間的鈍化層、保護電極以及平坦化層,所述鈍化層中開設有接觸孔,所述保護電極通過所述接觸孔與所述源極連接;所述平坦化層中開設有連通于所述接觸孔的第一過孔,所述陽極通過所述第一過孔與所述保護電極連接;
所述第一修復電極與所述保護電極同層設置,并自所述保護電極的一端向遠離所述漏極的方向延伸。
8.根據權利要求7所述的顯示面板,其特征在于,所述子像素還包括像素定義層,所述像素定義層位于所述陽極和所述陰極之間,所述像素定義層中開設有連接孔,所述連接孔裸露出所述第二修復電極,所述陰極延伸至所述連接孔內,并與所述第二修復電極相連。
9.一種顯示裝置,其特征在于,包括如權利要求1至8任一項所述的顯示面板。
10.一種如權利要求1至8任一項所述的顯示面板的修復方法,其特征在于,包括以下步驟:
檢測多個所述子像素中是否存在亮點子像素;
若存在亮點子像素,將所述亮點子像素中的所述第一修復電極、所述第二修復電極以及所述陰極熔接,以使所述亮點子像素中的所述陽極和所述陰極導通。
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