[發(fā)明專利]I/O卡件通道精度的測試方法、系統(tǒng)及介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210028170.5 | 申請日: | 2022-01-11 |
| 公開(公告)號: | CN114442591A | 公開(公告)日: | 2022-05-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 葉康利;崔同海;楊峰;郝龍;趙建鋒;張達(dá);楊時虎;許林紅;羅智明;楊夢遠(yuǎn);余建川;任鑫;童彤 | 申請(專利權(quán))人: | 中國華能集團(tuán)清潔能源技術(shù)研究院有限公司;華能大理風(fēng)力發(fā)電有限公司洱源分公司 |
| 主分類號: | G05B23/02 | 分類號: | G05B23/02 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 黃垚琳 |
| 地址: | 102209 北京市昌平區(qū)北七家*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 通道 精度 測試 方法 系統(tǒng) 介質(zhì) | ||
本申請?zhí)岢隽艘环NI/O卡件通道精度的測試方法、系統(tǒng)及介質(zhì),該方法包括:將待測試的輸入/輸出I/O卡件連接至預(yù)設(shè)的測試設(shè)備,I/O卡件具有M個通道,M為正整數(shù);通過測試設(shè)備向每個通道分別施加對應(yīng)的2n個測試數(shù)據(jù),并獲取每個測試數(shù)據(jù)對應(yīng)的測試結(jié)果,n為正整數(shù),第n+1至第2n個測試數(shù)據(jù)是與第1至第n個測試數(shù)據(jù)呈鏡像對稱的回程數(shù)據(jù);根據(jù)每個通道的全部測試結(jié)果依次計算每個通道的最大回差和精度;將最大回差和所述精度與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)最大回差和標(biāo)準(zhǔn)精度進(jìn)行比較,判斷每個通道的性能是否合格。該方法實現(xiàn)了I/O卡件的通道精度的自動化測試,提高了通道精度測試的效率和準(zhǔn)確性,降低了測試成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及信號測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種I/O卡件通道精度的測試方法、系統(tǒng)及介質(zhì)。
背景技術(shù)
目前,在分散控制系統(tǒng)(Distributed Control System,簡稱DCS)中經(jīng)常會用到輸入/輸出(Input/Output,簡稱I/O)卡件。I/O卡件是可以接收生產(chǎn)現(xiàn)場的模擬量和數(shù)字量信號,然后轉(zhuǎn)換成分散控制系統(tǒng)的控制器能接收的數(shù)字信號的模件。比如,生產(chǎn)現(xiàn)場最常用的模擬量I/O卡件為量程為4mA至20mA的模擬量輸入(Analog Input,簡稱AI)卡件和模擬量輸出(Analog Output,簡稱AO)卡件。其中,為了確保I/O卡件的正常運行,需要對I/O卡件的通道精度進(jìn)行測試。
相關(guān)技術(shù)中,進(jìn)行I/O卡件通道精度測試時通常采用人工手動測試的方法。具體而言,對AI卡件通道精度進(jìn)行測試時,手動在AI卡件待測試通道上依次施加電流信號,在分散控制系統(tǒng)中讀取通道的顯示值。對AO卡件通道精度進(jìn)行測試時,先在分散控制系統(tǒng)中修改待測試通道的數(shù)值,然后使用測試儀器測量卡件端的電流。
然而,申請人發(fā)現(xiàn),由于I/O卡件通常具有多個通道,通過上述手動操作試驗儀器進(jìn)行測試,并記錄數(shù)據(jù)和計算測試結(jié)果的方式,耗費的時間和精力較多,至少需要兩個工作人員配合才能完成測試工作,并且,人工測試時在操作和記錄數(shù)據(jù)過程中容易出錯,測量結(jié)果的準(zhǔn)確性較低。
發(fā)明內(nèi)容
本申請旨在至少在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問題之一。
為此,本申請的第一個目的在于提出一種I/O卡件通道精度的測試方法,該方法可以自動在線對I/O卡件通道精度進(jìn)行測試,可以高效率的進(jìn)行測試通道精度并輸出結(jié)果,提高了通道精度測試的效率和準(zhǔn)確性,降低了測試成本。
本申請的第二個目的在于提出一種I/O卡件通道精度的測試系統(tǒng);
本申請的第三個目的在于提出一種非臨時性計算機可讀存儲介質(zhì)。
為達(dá)上述目的,本申請的第一方面實施例在于提出一種I/O卡件通道精度的測試方法,該方法包括以下步驟:
將待測試的輸入/輸出I/O卡件連接至預(yù)設(shè)的測試設(shè)備,所述I/O卡件具有M個通道,其中,M為正整數(shù);
通過所述測試設(shè)備向每個所述通道分別施加對應(yīng)的2n個測試數(shù)據(jù),并獲取每個所述測試數(shù)據(jù)對應(yīng)的測試結(jié)果,其中,n為正整數(shù),第n+1至第2n個測試數(shù)據(jù)是與第1至第n個測試數(shù)據(jù)呈鏡像對稱的回程數(shù)據(jù);
根據(jù)每個所述通道的全部測試結(jié)果依次計算每個所述通道的最大回差和精度;
將所述最大回差和所述精度與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)最大回差和標(biāo)準(zhǔn)精度進(jìn)行比較,判斷每個所述通道的性能是否合格。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國華能集團(tuán)清潔能源技術(shù)研究院有限公司;華能大理風(fēng)力發(fā)電有限公司洱源分公司,未經(jīng)中國華能集團(tuán)清潔能源技術(shù)研究院有限公司;華能大理風(fēng)力發(fā)電有限公司洱源分公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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