[發明專利]I/O卡件通道精度的測試方法、系統及介質

在審

• 申請號: 202210028170.5
• 申請日: 2022-01-11
• 公開（公告）號: CN114442591A
• 公開（公告）日: 2022-05-06
• 發明（設計）人: 葉康利;崔同海;楊峰;郝龍;趙建鋒;張達;楊時虎;許林紅;羅智明;楊夢遠;余建川;任鑫;童彤
• 申請（專利權）人: 中國華能集團清潔能源技術研究院有限公司;華能大理風力發電有限公司洱源分公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 黃垚琳

1.一種I/O卡件通道精度的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

將待測試的輸入/輸出I/O卡件連接至預設的測試設備，所述I/O卡件具有M個通道，其中，M為正整數；

通過所述測試設備向每個所述通道分別施加對應的2n個測試數據，并獲取每個所述測試數據對應的測試結果，其中，n為正整數，第n+1至第2n個測試數據是與第1至第n個測試數據呈鏡像對稱的回程數據；

根據每個所述通道的全部測試結果依次計算每個所述通道的最大回差和精度；

將所述最大回差和所述精度與預設的標準最大回差和標準精度進行比較，判斷每個所述通道的性能是否合格。

2.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述測試設備包括：模擬量輸出AO信號檢測接口端子、電流信號檢測單元、模擬量輸入AI信號輸出接口端子、電流信號發生單元、AI卡件接口單元、AO卡件接口單元、分散處理單元DPU、集中處理器、存儲器、人機接口單元、電源和通訊總線，所述將待測試的輸入/輸出I/O卡件連接至預設的測試設備，包括：

在所述待測試的I/O卡件為AI卡件時，將所述AI卡件插接在所述AI卡件接口單元上，將所述AI卡件的接線端子與所述模擬量輸入AI信號輸出接口端子相連；

在所述待測試的I/O卡件為AO卡件時，將所述AO卡件插接在所述AO卡件接口單元上，將所述AO卡件的接線端子與所述模擬量輸出AO信號檢測接口端子相連。

3.根據權利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述模擬量輸入AI信號輸出接口端子與所述電流信號發生單元相連，所述通過所述測試設備向每個所述通道分別施加對應的2n個測試數據，并獲取每個所述測試數據對應的測試結果，包括:

S10:在所述待測試的I/O卡件為AI卡件時，確定所述AI卡件的第一個通道為當前通道；

S11:控制所述電流信號發生單元輸出所述當前通道對應的第一測試數據，所述第一測試數據包括2n個預設電流數值的測試電流信號，所述預設電流數值基于所述當前通道的量程確定；

S12:通過所述模擬量輸入AI信號輸出接口端子將所述第一測試數據施加在所述當前通道上，依次獲取所述當前通道輸出的每個所述測試電流信號對應的測試結果，并在2n個測試電流信號全部測試完成后，將所述第一測試數據和所述測試結果存儲至所述存儲器；

S13:判斷所述當前通道是否為所述AI卡件的最后一個通道，若否，則切換至所述當前通道的下一個通道，并重復執行S11和S12，直至對所述AI卡件的全部通道進行測試。

4.根據權利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述模擬量輸出AO信號檢測接口端子與所述電流信號檢測單元相連，所述通過所述測試設備向每個所述通道分別施加對應的2n個測試數據，并獲取每個所述測試數據對應的測試結果，還包括:

S20:在所述待測試的I/O卡件為AO卡件時，確定所述AO卡件的第一個通道為當前通道；

S21:調整分散控制系統DCS向所述當前通道輸出的第二測試數據，所述第二測試數據包括2n個預設電流數值的測試電流信號，所述預設電流數值基于所述當前通道的量程確定；

S22:通過所述分散處理單元DPU將所述第二測試數據施加在所述當前通道上，通過所述模擬量輸出AO信號檢測接口端子傳輸所述當前通道輸出的每個所述測試電流信號對應的輸出信號，并通過所述電流信號檢測單元測量所述輸出信號的數值，以獲取每個所述測試電流信號對應的測試結果，在2n個測試電流信號全部測試完成后，將所述第二測試數據和所述測試結果存儲至所述存儲器；

S23:判斷所述當前通道是否為所述AO卡件的最后一個通道，若否，則切換至所述當前通道的下一個通道，并重復執行S21和S22，直至對所述AO卡件的全部通道進行測試。