[發明專利]電路的測試方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202210025329.8
• 申請日: 2022-01-11
• 公開（公告）號: CN114355167A
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 古城
• 申請（專利權）人: 長鑫存儲技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京名華博信知識產權代理有限公司 11453
• 代理人: 李冬梅

本公開提供一種電路的測試方法、裝置、設備及存儲介質。所述電路的測試方法包括：確定待測電路中預設電路模塊以及預設電路模塊中的預設節點；按照預設輸入規則，向待測電路的輸入端輸入測試信號，獲取預設電路模塊中預設節點的信號；根據所獲取的預設節點的信號，確定預設電路模塊的狀態。本公開示例性的實施例提供的電路的測試方法以預設電路模塊作為測試對象，基于其預設節點的信號確定該預設電路模塊的狀態，可以基于電路對應的功能模塊進行測試，無論是在電路設計的初期，中后期都可以對電路進行測試，而不局限于電路設計完成后的測試，以能及時發現電路設計中的缺陷，沖突。

技術領域

本公開涉及半導體技術領域，尤其涉及一種電路的測試方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

隨著芯片技術的發展，芯片的電路設計越來越復雜。在電路設計過程中，可能會存在電路設計缺陷。在相關技術中，通過對電路的功能以及時序進行測試和驗證來確定電路設計中的缺陷。

發明內容

以下是對本公開詳細描述的主題的概述。本概述并非是為了限制權利要求的保護范圍。

本公開提供一種電路的測試方法、裝置、設備及存儲介質。

根據本公開實施例的第一方面，提供一種電路的檢測方法，所述測試方法包括：

確定待測電路中預設電路模塊以及所述預設電路模塊中的預設節點；

按照預設輸入規則，向所述待測電路的輸入端輸入測試信號，獲取所述預設電路模塊中預設節點的信號；

根據所獲取的所述預設節點的信號，確定所述預設電路模塊的狀態。

根據本公開的一些實施例，所述預設節點包括所述預設電路模塊的輸入端、輸出端和中間節點中的一種或多種；其中，所述中間節點包括描述所述預設電路模塊的輸入端和輸出端之間的信號變化的節點。

根據本公開的一些實施例，所述按照預設輸入規則，向所述待測電路的輸入端輸入測試信號，包括：

按照預設順序，向所述待測電路的輸入端依次輸入多個測試信號。

根據本公開的一些實施例，所述按照預設輸入規則，向所述待測電路的輸入端輸入測試信號，包括：

隨機向所述待測電路的輸入端依次輸入多個測試信號。

根據本公開的一些實施例，所述測試方法應用在標的電路設計過程的第一階段；

其中，所述測試電路包括部分所述標的電路。

根據本公開的一些實施例，所述測試方法應用在標的電路設計過程的第二階段；

其中，所述測試電路包括部分或全部所述標的電路。

根據本公開的一些實施例，所述測試方法應用在標的電路設計完成階段；

所述待測電路包括部分或全部標的電路。

根據本公開的一些實施例，所述預設電路模塊包括鎖存器和/或觸發器。

根據本公開的一些實施例，所述確定待測電路中預設電路模塊以及所述預設電路模塊中的預設節點，包括：

按照所述待測電路的預設電路模塊的連接關系，確定所述待測電路中每個預設電路模塊以及每個預設電路模塊中所有的預設節點。

根據本公開的一些實施例，所述根據所獲取的所述預設節點的信號，確定所述預設電路模塊的狀態，包括：

當所獲取的所述預設節點的信號為非真值時，確定所述預設電路模塊為異常。

本公開的第二方面提供一種電路測試裝置，所述電路測試裝置包括：