[發(fā)明專利]電路的測試方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210025329.8 | 申請日： | 2022-01-11 |
| 公開（公告）號： | CN114355167A | 公開（公告）日： | 2022-04-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 古城 | 申請（專利權(quán)）人： | 長鑫存儲技術(shù)有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京名華博信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11453 | 代理人： | 李冬梅 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電路 測試 方法 裝置 設(shè)備 存儲 介質(zhì) | ||
1.一種電路的測試方法，其特征在于，所述測試方法包括：
確定待測電路中預(yù)設(shè)電路模塊以及所述預(yù)設(shè)電路模塊中的預(yù)設(shè)節(jié)點；
按照預(yù)設(shè)輸入規(guī)則，向所述待測電路的輸入端輸入測試信號，獲取所述預(yù)設(shè)電路模塊中預(yù)設(shè)節(jié)點的信號；
根據(jù)所獲取的所述預(yù)設(shè)節(jié)點的信號，確定所述預(yù)設(shè)電路模塊的狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路的測試方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)節(jié)點包括所述預(yù)設(shè)電路模塊的輸入端、輸出端和中間節(jié)點中的一種或多種；其中，所述中間節(jié)點包括描述所述預(yù)設(shè)電路模塊的輸入端和輸出端之間的信號變化的節(jié)點。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路的測試方法，其特征在于，所述測試方法還包括：
確定所述預(yù)設(shè)電路模塊在所述待測電路中的路徑信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電路的測試方法，其特征在于，所述測試方法還包括：
根據(jù)所述路徑信息，確定所述預(yù)設(shè)電路模塊中預(yù)設(shè)節(jié)點的預(yù)設(shè)信號；
所述根據(jù)所獲取的所述預(yù)設(shè)節(jié)點的信號，確定所述預(yù)設(shè)電路模塊的狀態(tài)，包括：
根據(jù)所獲取的所述預(yù)設(shè)節(jié)點的信號和所述預(yù)設(shè)信號，確定所述預(yù)設(shè)電路模塊的狀態(tài)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路的測試方法，其特征在于，所述按照預(yù)設(shè)輸入規(guī)則，向所述待測電路的輸入端輸入測試信號，包括：
按照預(yù)設(shè)順序，向所述待測電路的輸入端依次輸入多個測試信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路的測試方法，其特征在于，所述按照預(yù)設(shè)輸入規(guī)則，向所述待測電路的輸入端輸入測試信號，包括：
隨機向所述待測電路的輸入端依次輸入多個測試信號。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的電路的測試方法，其特征在于，所述測試方法應(yīng)用在標(biāo)的電路設(shè)計過程的第一階段；
其中，所述測試電路包括部分所述標(biāo)的電路。
8.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的電路的測試方法，其特征在于，所述測試方法應(yīng)用在標(biāo)的電路設(shè)計過程的第二階段；
其中，所述測試電路包括部分或全部所述標(biāo)的電路。
9.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的電路的測試方法，其特征在于，所述測試方法應(yīng)用在標(biāo)的電路設(shè)計完成階段；
所述待測電路包括部分或全部標(biāo)的電路。
10.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路的測試方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)電路模塊包括鎖存器和/或觸發(fā)器。
11.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電路的測試方法，其特征在于，所述確定待測電路中預(yù)設(shè)電路模塊以及所述預(yù)設(shè)電路模塊中的預(yù)設(shè)節(jié)點，包括：
按照所述待測電路的預(yù)設(shè)電路模塊的連接關(guān)系，確定所述待測電路中每個預(yù)設(shè)電路模塊以及每個預(yù)設(shè)電路模塊中所有的預(yù)設(shè)節(jié)點。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路的測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所獲取的所述預(yù)設(shè)節(jié)點的信號，確定所述預(yù)設(shè)電路模塊的狀態(tài)，包括：
當(dāng)所獲取的所述預(yù)設(shè)節(jié)點的信號為非真值時，確定所述預(yù)設(shè)電路模塊為異常。
13.一種電路測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括：
第一確定模塊，所述第一確定模塊被設(shè)置為確定待測電路中預(yù)設(shè)電路模塊以及所述預(yù)設(shè)電路模塊中的預(yù)設(shè)節(jié)點；
檢測模塊，所述檢測模塊被配置為按照預(yù)設(shè)輸入規(guī)則，向所述待測電路的輸入端輸入測試信號，獲取所述預(yù)設(shè)電路模塊中預(yù)設(shè)節(jié)點的信號；
第二確定模塊，所述第二確定模塊被配置為根據(jù)所獲取的所述預(yù)設(shè)節(jié)點的信號，確定所述預(yù)設(shè)電路模塊的狀態(tài)。
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