[發明專利]eMMC測試方法、裝置、可讀存儲介質及電子設備

在審

• 申請號: 202210021369.5
• 申請日: 2022-01-10
• 公開（公告）號: CN114518981A
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發明（設計）人: 孫成思;孫日欣;趙穎
• 申請（專利權）人: 深圳佰維存儲科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市博銳專利事務所 44275
• 代理人: 歐陽燕明

本發明公開一種eMMC測試方法、裝置、可讀存儲介質及電子設備，接收待測eMMC芯片的穩態性能測試請求；根據所述穩態性能測試請求按照第一預設容量對所述待測eMMC芯片進行區域劃分，得到劃分后的待測eMMC芯片；對所述劃分后的待測eMMC芯片按照第二預設容量進行數據讀寫操作，并保存所述數據讀寫操作對應的數據讀寫結果；基于所述數據讀寫結果確定所述穩態性能測試請求對應的穩態性能測試結果，以容量為測試維度進行測試，既能夠測試eMMC芯片的穩態性能是否正常，也能夠準確知道穩態性能是否下跌，并且相較于以時間為測試維度的測試方法更加便捷，降低了測試的繁瑣程度，從而能夠提高穩態性能測試的便捷性。

技術領域

本發明涉及存儲器技術領域，尤其涉及一種eMMC測試方法、裝置、可讀存儲介質及電子設備。

背景技術

eMMC芯片(Embedded Multi Media Card，嵌入式多媒體卡)廣泛應用于各種移動電子設備中，常用Androbench(一個基準測試應用程序)測試其性能。eMMC芯片作為單體存儲設備使用時，如果按照傳統的單體穩態性能測試方法，即待測試到達穩態后以一定時間(常設置為6小時)為測試時長來測試這段時間內的帶寬、時延、IOPS(Input/OutputOperations Per Second，每秒進行讀寫操作的次數)，對于僅僅想知道穩態性能是否有下跌的用戶來說，該測試方法過于繁瑣，浪費大量測試資源。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供一種eMMC測試方法、裝置、可讀存儲介質及電子設備，能夠提高穩態性能測試的便捷性。

為了解決上述技術問題，本發明采用的一種技術方案為：

一種eMMC測試方法，包括：

接收待測eMMC芯片的穩態性能測試請求；

根據所述穩態性能測試請求按照第一預設容量對所述待測eMMC芯片進行區域劃分，得到劃分后的待測eMMC芯片；

對所述劃分后的待測eMMC芯片按照第二預設容量進行數據讀寫操作，并保存所述數據讀寫操作對應的數據讀寫結果；

基于所述數據讀寫結果確定所述穩態性能測試請求對應的穩態性能測試結果。

為了解決上述技術問題，本發明采用的另一種技術方案為：

一種eMMC測試裝置，包括：

請求接收模塊，用于接收待測eMMC芯片的穩態性能測試請求；

區域劃分模塊，用于根據所述穩態性能測試請求按照第一預設容量對所述待測eMMC芯片進行區域劃分，得到劃分后的待測eMMC芯片；

測試模塊，用于對所述劃分后的待測eMMC芯片按照第二預設容量進行數據讀寫操作，并保存所述數據讀寫操作對應的數據讀寫結果；

結果確定模塊，用于基于所述數據讀寫結果確定所述穩態性能測試請求對應的穩態性能測試結果。

為了解決上述技術問題，本發明采用的另一種技術方案為：

一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現上述一種eMMC測試方法中的各個步驟。

為了解決上述技術問題，本發明采用的另一種技術方案為：

一種電子設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序時實現上述一種eMMC測試方法中的各個步驟。