[發(fā)明專利]eMMC測試方法、裝置、可讀存儲介質(zhì)及電子設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210021369.5
• 申請日: 2022-01-10
• 公開（公告）號: CN114518981A
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孫成思;孫日欣;趙穎
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳佰維存儲科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市博銳專利事務(wù)所 44275
• 代理人: 歐陽燕明

1.一種eMMC測試方法，其特征在于，包括：

接收待測eMMC芯片的穩(wěn)態(tài)性能測試請求；

根據(jù)所述穩(wěn)態(tài)性能測試請求按照第一預(yù)設(shè)容量對所述待測eMMC芯片進(jìn)行區(qū)域劃分，得到劃分后的待測eMMC芯片；

對所述劃分后的待測eMMC芯片按照第二預(yù)設(shè)容量進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作，并保存所述數(shù)據(jù)讀寫操作對應(yīng)的數(shù)據(jù)讀寫結(jié)果；

基于所述數(shù)據(jù)讀寫結(jié)果確定所述穩(wěn)態(tài)性能測試請求對應(yīng)的穩(wěn)態(tài)性能測試結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種eMMC測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述穩(wěn)態(tài)性能測試請求按照第一預(yù)設(shè)容量對所述待測eMMC芯片進(jìn)行區(qū)域劃分之前包括：

根據(jù)所述穩(wěn)態(tài)性能測試請求按照第一預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)對所述待測eMMC芯片進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的順序?qū)?，得到處于穩(wěn)態(tài)的待測eMMC芯片。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種eMMC測試方法，其特征在于，所述穩(wěn)態(tài)性能測試請求包括測試指標(biāo)；

所述對所述劃分后的待測eMMC芯片按照第二預(yù)設(shè)容量進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作，并保存所述數(shù)據(jù)讀寫操作對應(yīng)的數(shù)據(jù)讀寫結(jié)果包括：

根據(jù)所述測試指標(biāo)確定與所述測試指標(biāo)對應(yīng)的測試模型；

根據(jù)所述測試模型對所述劃分后的待測eMMC芯片按照第二預(yù)設(shè)容量進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作，并按照所述測試指標(biāo)保存所述數(shù)據(jù)讀寫操作對應(yīng)的數(shù)據(jù)讀寫結(jié)果。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種eMMC測試方法，其特征在于，所述測試模型包括順序讀寫模型和/或隨機(jī)讀寫模型；

所述根據(jù)所述測試模型對所述劃分后的待測eMMC芯片按照第二預(yù)設(shè)容量進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作包括：

根據(jù)所述順序讀寫模型從所述劃分后的待測eMMC芯片的每一所述第一預(yù)設(shè)容量中順序選取第二預(yù)設(shè)容量，對所述順序選取的第二預(yù)設(shè)容量進(jìn)行順序讀寫操作；

根據(jù)所述隨機(jī)讀寫模型從所述劃分后的待測eMMC芯片的每一所述第一預(yù)設(shè)容量中隨機(jī)選取第二預(yù)設(shè)容量，對所述隨機(jī)選取的第二預(yù)設(shè)容量進(jìn)行隨機(jī)讀寫操作。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種eMMC測試方法，其特征在于，所述測試指標(biāo)包括運行時間指標(biāo)；

所述根據(jù)所述測試指標(biāo)確定與所述測試指標(biāo)對應(yīng)的測試模型包括：

根據(jù)所述運行時間指標(biāo)確定與所述運行時間指標(biāo)對應(yīng)的第一順序讀寫模型和第一隨機(jī)讀寫模型。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種eMMC測試方法，其特征在于，所述測試指標(biāo)包括帶寬指標(biāo)；

所述根據(jù)所述測試指標(biāo)確定與所述測試指標(biāo)對應(yīng)的測試模型包括：

根據(jù)所述帶寬指標(biāo)確定與所述帶寬指標(biāo)對應(yīng)的第二順序讀寫模型。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種eMMC測試方法，其特征在于，所述測試指標(biāo)包括IOPS指標(biāo)或時延指標(biāo)；

所述根據(jù)所述測試指標(biāo)確定與所述測試指標(biāo)對應(yīng)的測試模型包括：

根據(jù)所述IOPS指標(biāo)確定與所述IOPS指標(biāo)對應(yīng)的第二隨機(jī)讀寫模型；

根據(jù)所述時延指標(biāo)確定與所述時延指標(biāo)對應(yīng)的第三隨機(jī)讀寫模型。

8.一種eMMC測試裝置，其特征在于，包括：

請求接收模塊，用于接收待測eMMC芯片的穩(wěn)態(tài)性能測試請求；

區(qū)域劃分模塊，用于根據(jù)所述穩(wěn)態(tài)性能測試請求按照第一預(yù)設(shè)容量對所述待測eMMC芯片進(jìn)行區(qū)域劃分，得到劃分后的待測eMMC芯片；

測試模塊，用于對所述劃分后的待測eMMC芯片按照第二預(yù)設(shè)容量進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作，并保存所述數(shù)據(jù)讀寫操作對應(yīng)的數(shù)據(jù)讀寫結(jié)果；

結(jié)果確定模塊，用于基于所述數(shù)據(jù)讀寫結(jié)果確定所述穩(wěn)態(tài)性能測試請求對應(yīng)的穩(wěn)態(tài)性能測試結(jié)果。

9.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，其特征在于，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項所述的一種eMMC測試方法中的各個步驟。

10.一種電子設(shè)備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計算機(jī)程序時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項所述的一種eMMC測試方法中的各個步驟。