[發(fā)明專利]一種基于BIM模型的檢驗批定位方法和系統(tǒng)

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• 申請日: 2022-01-10
• 公開（公告）號: CN114519499A
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發(fā)明（設計）人: 劉立新;馮曉平;朱方海;劉鳴秋;鄒先強;張贛;張書浩;黃鎮(zhèn)雄
• 申請（專利權）人: 湖北國際物流機場有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q50/08;G06F16/29
• 代理公司: 武漢惠創(chuàng)知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 42243
• 代理人: 陳薇

本發(fā)明公開了一種基于BIM模型的檢驗批定位方法和系統(tǒng)，屬于施工驗收技術領域。方法包括以下步驟：步驟1，獲獲取施工現(xiàn)場中存在質(zhì)量安全問題的問題圖像以及所述問題圖像對應的經(jīng)緯度坐標；步驟2，將所述問題圖像對應的經(jīng)緯度坐標轉換為BIM模型下的建模參考坐標；步驟3，根據(jù)建模參考坐標和BIM模型中構件的坐標范圍，確定問題圖像對應的目標構件；步驟4，獲取目標構件與檢驗批的關聯(lián)關系，并根據(jù)目標構件與檢驗批的關聯(lián)關系建立問題圖像與檢驗批的關聯(lián)關系。該方法和系統(tǒng)能讓驗收人員快速獲取目標構件的檢驗批信息，并能將檢驗批信息、問題圖像、驗收信息等快速關聯(lián)，從而方便各施工單位快速、準確的解決問題。

技術領域

本發(fā)明屬于施工驗收技術領域，特別涉及一種基于BIM模型的檢驗批定位方法和系統(tǒng)。

背景技術

建筑施工的過程中或施工完成后，需要對項目進行驗收或者根據(jù)監(jiān)理要求對項目進行巡檢。項目的驗收通常以檢驗批的形式進行。檢驗批（inspection lot）是指按同一生產(chǎn)條件或按規(guī)定的方式匯總起來供檢驗用的，由一定數(shù)量樣本組成的檢驗體。是建筑學術語，屬性是工程質(zhì)量驗收的基本單元，應用在建筑、橋梁工程。對于大型工程，如飛機場的建設，會具有大量檢驗批，驗收人員如果發(fā)現(xiàn)問題，需要花費大量時間來確定驗收標對應的檢驗批，而在向相應的系統(tǒng)發(fā)送驗收信息時，也不便于將檢驗批與驗收信息關聯(lián)。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決前述問題，本發(fā)明實施例提供了一種基于BIM模型的檢驗批定位方法和系統(tǒng)，能讓驗收人員將目標構件快速關聯(lián)檢驗批并將問題圖像與檢驗批信息關聯(lián)。所述技術方案如下：

本發(fā)明實施例提供了一種基于BIM模型的檢驗批定位方法，包括以下步驟：

步驟1，獲取施工現(xiàn)場中存在質(zhì)量安全問題的問題圖像以及所述問題圖像對應的經(jīng)緯度坐標；

步驟2，將所述問題圖像對應的經(jīng)緯度坐標轉換為BIM模型下的建模參考坐標；

步驟3，根據(jù)建模參考坐標和BIM模型中構件的坐標范圍，確定問題圖像對應的目標構件；

步驟4，獲取目標構件與檢驗批的關聯(lián)關系，并根據(jù)目標構件與檢驗批的關聯(lián)關系建立問題圖像與檢驗批的關聯(lián)關系。

進一步地，步驟1中，根據(jù)所述問題圖像對應的經(jīng)緯度坐標在所述BIM模型中生成并顯示對應的標段信息、工程信息、監(jiān)理單位信息和/或施工單位信息。

進一步地，根據(jù)建模參考坐標和BIM構件的坐標范圍，確定問題圖像對應的目標構件，具體包括以下步驟：

S301，獲取所述問題圖像對應的建模參考坐標和目標精度；

S302，以所述建模參考坐標為中心，目標精度為半徑確定目標定位范圍；

S303，查詢所述BIM模型的構件信息總表，生成位于所述目標定位范圍內(nèi)的至少一個目標構件的實體信息以及對應的檢驗批信息。

進一步地，獲取目標精度具體包括以下步驟：

S3011，獲取預設精度范圍；

S3012，采集當前環(huán)境信息，對當前環(huán)境信息進行識別，根據(jù)識別結果判斷當前環(huán)境信息的信號強弱程度；

S3013，根據(jù)所述信號強弱程度在所述預設精度范圍內(nèi)選取初始精度值；

S3014，通過所述BIM模型生成所述初始精度值下所述建模參考坐標對應目標構件實體的檢驗批數(shù)量，當檢驗批數(shù)量大于第一預設值時，以第一預設幅度減小所述初始精度值，并重復本步驟，直到檢驗批數(shù)量小于或等于第一預設值時，將對應的當前精度作為目標精度，并將所述目標精度作為當前環(huán)境下的默認精度。

進一步地，通過所述BIM模型生成所述初始精度值下所述建模參考坐標對應目標構件實體的檢驗批數(shù)量時，當檢驗批數(shù)量為0時，以第二預設幅度增大初始精度值，并重復本步驟，直至生成的檢驗批數(shù)量不為0，且檢驗批數(shù)量小于或等于第一預設值，將對應的當前精度作為目標精度，并將所述目標精度作為當前環(huán)境下的默認精度。