[發明專利]一種基于BIM模型的檢驗批定位方法和系統在審
| 申請號: | 202210021114.9 | 申請日: | 2022-01-10 |
| 公開(公告)號: | CN114519499A | 公開(公告)日: | 2022-05-20 |
| 發明(設計)人: | 劉立新;馮曉平;朱方海;劉鳴秋;鄒先強;張贛;張書浩;黃鎮雄 | 申請(專利權)人: | 湖北國際物流機場有限公司 |
| 主分類號: | G06Q10/06 | 分類號: | G06Q10/06;G06Q50/08;G06F16/29 |
| 代理公司: | 武漢惠創知識產權代理事務所(普通合伙) 42243 | 代理人: | 陳薇 |
| 地址: | 436000 湖北省*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 bim 模型 檢驗 定位 方法 系統 | ||
1.一種基于BIM模型的檢驗批定位方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1,獲取施工現場中存在質量安全問題的問題圖像以及所述問題圖像對應的經緯度坐標;
步驟2,將所述問題圖像對應的經緯度坐標轉換為BIM模型下的建模參考坐標;
步驟3,根據建模參考坐標和BIM模型中構件的坐標范圍,確定問題圖像對應的目標構件;
步驟4,獲取目標構件與檢驗批的關聯關系,并根據目標構件與檢驗批的關聯關系建立問題圖像與檢驗批的關聯關系。
2.根據權利要求1所述基于BIM模型的檢驗批定位方法,其特征在于,步驟1中,根據所述問題圖像對應的經緯度坐標在所述BIM模型中生成并顯示對應的標段信息、工程信息、監理單位信息和/或施工單位信息。
3.根據權利要求1或2所述基于BIM模型的檢驗批定位方法,其特征在于,根據建模參考坐標和BIM構件的坐標范圍,確定問題圖像對應的目標構件,具體包括以下步驟:
獲取所述問題圖像對應的建模參考坐標和目標精度;
以所述建模參考坐標為中心,目標精度為半徑確定目標定位范圍;
查詢所述BIM模型的構件信息總表,生成位于所述目標定位范圍內的至少一個目標構件的實體信息以及對應的檢驗批信息。
4.根據權利要求3所述基于BIM模型的檢驗批定位方法,其特征在于,獲取目標精度具體包括以下步驟:
S3011,獲取預設精度范圍;
S3012,采集當前環境信息,對當前環境信息進行識別,根據識別結果判斷當前環境信息的信號強弱程度;
S3013,根據所述信號強弱程度在所述預設精度范圍內選取初始精度值;
S3014,通過所述BIM模型生成所述初始精度值下所述建模參考坐標對應目標構件實體的檢驗批數量,當檢驗批數量大于第一預設值時,以第一預設幅度減小所述初始精度值,并重復本步驟,直到檢驗批數量小于或等于第一預設值時,將對應的當前精度作為目標精度,并將所述目標精度作為當前環境下的默認精度。
5.根據權利要求4所述基于BIM模型的檢驗批定位方法,其特征在于,通過所述BIM模型生成所述初始精度值下所述建模參考坐標對應目標構件實體的檢驗批數量時,當檢驗批數量為0時,以第二預設幅度增大初始精度值,并重復本步驟,直至生成的檢驗批數量不為0,且檢驗批數量小于或等于第一預設值,將對應的當前精度作為目標精度,并將所述目標精度作為當前環境下的默認精度。
6.根據權利要求5所述基于BIM模型的檢驗批定位方法,其特征在于,通過所述BIM模型生成所述初始精度值下所述建模參考坐標對應目標構件實體的檢驗批數量,當檢驗批數量為0時,通過所述BIM模型顯示當前所有的檢驗批信息。
7.根據權利要求4所述基于BIM模型的檢驗批定位方法,其特征在于,所述預設精度范圍為5-20米,當前環境信息對應的信號強度越強所述初始精度值越小,當前環境信息對應的信號強度越弱所述初始精度值越大。
8.一種基于BIM模型的檢驗批定位系統,其特征在于,包括獲取模塊、坐標轉換模塊、構件確定模塊和關聯模塊,
所述獲取模塊用于獲取施工現場中存在質量安全問題的問題圖像以及所述問題圖像對應的經緯度坐標;
所述坐標轉換模塊用于將所述問題圖像對應的經緯度坐標轉換為BIM模型下的建模參考坐標;
所述構件確定模塊用于根據建模參考坐標和BIM模型中構件的坐標范圍,確定問題圖像對應的目標構件;
所述關聯模塊用于獲取目標構件與檢驗批的關聯關系,并根據目標構件與檢驗批的關聯關系建立問題圖像與檢驗批的關聯關系。
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