[發明專利]產品的不良原因分析方法、系統、終端設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202210010150.5
• 申請日: 2022-01-06
• 公開（公告）號: CN114022059B
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 王嘉毅;李綱
• 申請（專利權）人: 錙云（上海）物聯網科技有限公司
• 主分類號: G06F17/00
• 分類號: G06F17/00;G06Q10/06;G06K9/62
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所(普通合伙) 31251
• 代理人: 楊用玲

本發明提供了一種產品的不良原因分析方法、系統、終端設備和存儲介質，其方法包括：獲取目標產品在當前生產加工環節期間內，生產所述目標產品的所有加工設備的各項工藝參數；計算在所述當前生產加工環節期間內，所有工藝參數在良品區間和不良品區間對應的良品波動率和不良波動率；比較所述良品波動率和不良波動率的大小，根據比較結果得到引發所述目標產品不良的原因。本發明能夠對工業制造產品的不良原因進行準確分析，便于對制造過程進行優化。

技術領域

本發明涉及工業生產技術領域，尤指一種產品的不良原因分析方法、系統、終端設備和存儲介質。

背景技術

化工、電子等工業生產中，各工程的不合格率常被稱為不良率，其反應了在各工程的檢測環節不合格產品的比例。不良率直接關系到生產成本，能否在最短的時間內實現快速提高良率即降低不良率，很大程度上決定了能否按時收回生產成本。不良率作為工廠產品的產能指標，在元件生產制造的各個環節都有應用價值，較高的不良率會導致各類成本的增加，比如生產原材料投入的預算，生產工序的控制管理費用，產品質量的改進審核費用都會增加。因此，高水平的良率是體現產品可靠性和實現產品收益的關鍵指標，在元件加工行業生產制造型企業中尤為重要。

傳統工業生產中，生產過程中遇到發生不良件時，很難從加工設備的大量的工藝參數中找出引發不良的原因，主要依靠人工經驗判定產生不良件的原因，這種方式效果差且時效慢，往往耗費大量財力、物力和時間，不能滿足企業的快速發展。

發明內容

本發明的目的是提供一種產品的不良原因分析方法、系統、終端設備和存儲介質，解決了人工分析不良件產生原因，效果差且時效慢，往往耗費大量財力、物力和時間的技術問題。

本發明提供的技術方案如下：

本發明提供一種產品的不良原因分析方法，包括步驟：

獲取目標產品在當前生產加工環節期間內，生產所述目標產品的所有加工設備的各項工藝參數；

計算在所述當前生產加工環節期間內，所有工藝參數在良品區間和不良品區間對應的良品波動率和不良波動率；

比較所述良品波動率和不良波動率的大小，根據比較結果得到引發所述目標產品不良的原因。

進一步的，所述計算在所述當前生產加工環節期間內，所有工藝參數在良品區間和不良品區間對應的良品波動率和不良波動率包括步驟：

根據產品生產日志從所述當前生產加工環節期間內中，查找所述良品區間對應的所有工藝參數，以及所述不良品區間對應的所有工藝參數；

對所述當前生產加工環節期間內所述工藝參數的最大值和最小值進行差值計算，分別計算得到不同工藝參數對應的波動差，將所述波動差對應的工藝參數降序排列；

對所述良品區間對應的所有工藝參數，進行均值計算得到所述良品波動率；

對所述不良品區間對應的所有工藝參數，進行均值計算得到所述不良波動率。

進一步的，所述比較所述良品波動率和不良波動率的大小，根據比較結果得到引發所述目標產品不良的原因包括步驟：

將所述良品波動率與所述不良波動率進行差值計算得到波動率差值；

判斷所述波動率差值是否大于預設閾值；

若所述波動率差值小于所述預設閾值，確定引發不良的原因是排列順序靠后的工藝參數；

若所述波動率差值大于所述預設閾值，確定引發不良的原因是排列順序靠前的工藝參數。

進一步的，所述比較所述良品波動率和不良波動率的大小，根據比較結果得到引發所述目標產品不良的原因之后包括步驟：