[發明專利]產品的不良原因分析方法、系統、終端設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202210010150.5
• 申請日: 2022-01-06
• 公開（公告）號: CN114022059B
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 王嘉毅;李綱
• 申請（專利權）人: 錙云（上海）物聯網科技有限公司
• 主分類號: G06F17/00
• 分類號: G06F17/00;G06Q10/06;G06K9/62
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所(普通合伙) 31251
• 代理人: 楊用玲

1.一種產品的不良原因分析方法，其特征在于，包括步驟：

獲取目標產品在當前生產加工環節期間內，生產所述目標產品的所有加工設備的各項工藝參數；

計算在所述當前生產加工環節期間內，所有工藝參數在良品區間和不良品區間分別對應的良品波動率和不良波動率；其中，良品區間為當前生產加工環節期間內生產出良品的時間段，不良品區間為當前生產加工環節期間內生產出不良品的區間段；

所述計算在所述當前生產加工環節期間內，所有工藝參數在良品區間和不良品區間對應的良品波動率和不良波動率包括步驟：

根據產品生產日志從所述當前生產加工環節期間內中，查找所述良品區間對應的所有工藝參數，以及所述不良品區間對應的所有工藝參數；

對所述當前生產加工環節期間內相同工藝參數的最大值和最小值進行差值計算，分別計算得到不同工藝參數對應的波動差，將所述波動差對應的工藝參數降序排列；

對所述良品區間對應的所有工藝參數，進行均值計算得到所述良品波動率；其中，對產品的同工藝設備在良品區間的工藝參數的波動進行分析，計算出所有工藝參數的平均量，得出的最大波動率范圍就是良品波動率；

對所述不良品區間對應的所有工藝參數，進行均值計算得到所述不良波動率；其中，對產品的同工藝設備在不良品區間的工藝參數的波動進行分析，計算出所有工藝參數的平均量，得出的最大波動率范圍就是不良波動率；

比較所述良品波動率和不良波動率的大小，根據比較結果得到引發所述目標產品不良的原因；

所述比較所述良品波動率和不良波動率的大小，根據比較結果得到引發所述目標產品不良的原因包括步驟：

將所述良品波動率與所述不良波動率進行差值計算得到波動率差值；

判斷所述波動率差值是否大于預設閾值；

若所述波動率差值小于所述預設閾值，確定引發不良的原因是排列順序靠后的工藝參數；

若所述波動率差值大于所述預設閾值，確定引發不良的原因是排列順序靠前的工藝參數。

2.根據權利要求1所述的產品的不良原因分析方法，其特征在于，所述比較所述良品波動率和不良波動率的大小，根據比較結果得到引發所述目標產品不良的原因之后包括步驟：

獲取引發不良的原因對應的工藝參數，將不同的工藝參數采用不同顏色和/或圖形進行標記。

3.一種產品的不良原因分析系統，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取目標產品在當前生產加工環節期間內，生產所述目標產品的所有加工設備的各項工藝參數；

處理模塊，用于計算在所述當前生產加工環節期間內，所有工藝參數在良品區間和不良品區間對應的良品波動率和不良波動率；其中，良品區間為當前生產加工環節期間內生產出良品的時間段，不良品區間為當前生產加工環節期間內生產出不良品的區間段；

處理模塊包括：

查找單元，用于根據產品生產日志從所述當前生產加工環節期間內中，查找所述良品區間對應的所有工藝參數，以及所述不良品區間對應的所有工藝參數；

第一計算單元，用于對所述當前生產加工環節期間內相同工藝參數的最大值和最小值進行差值計算，分別計算得到不同工藝參數對應的波動差，將所述波動差對應的工藝參數降序排列；其中，對產品的同工藝設備在良品區間的工藝參數的波動進行分析，計算出所有工藝參數的平均量，得出的最大波動率范圍就是良品波動率；

第二計算單元，用于對所述良品區間對應的所有工藝參數，進行均值計算得到所述良品波動率，對所述不良品區間對應的所有工藝參數，進行均值計算得到所述不良波動率；其中，對產品的同工藝設備在不良品區間的工藝參數的波動進行分析，計算出所有工藝參數的平均量，得出的最大波動率范圍就是不良波動率；

分析模塊，用于比較所述良品波動率和不良波動率的大小，根據比較結果得到引發所述目標產品不良的原因；

分析模塊包括：

第三計算單元，用于將所述良品波動率與所述不良波動率進行差值計算得到波動率差值；

判斷單元，用于判斷所述波動率差值是否大于預設閾值；

處理單元，用于若所述波動率差值小于所述預設閾值，確定引發不良的原因是排列順序靠后的工藝參數；

所述處理單元，還用于若所述波動率差值大于所述預設閾值，確定引發不良的原因是排列順序靠前的工藝參數。