[發(fā)明專(zhuān)利]晶圓氣鎖裝置、晶圓處理裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210009980.6 | 申請(qǐng)日: | 2022-01-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114334744A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-04-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邵波;張博維;汪錚錚 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 長(zhǎng)鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/67 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/67;H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京律智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11438 | 代理人: | 趙新龍;闞梓瑄 |
| 地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶圓氣鎖 裝置 處理 方法 | ||
1.一種晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述晶圓氣鎖裝置用于調(diào)整所述晶圓經(jīng)受的壓力,包括:
腔體,內(nèi)部具有一中空腔室,所述腔體包括進(jìn)氣口和排氣口,且所述進(jìn)氣口、所述排氣口均與所述中空腔室連通;
支撐組件,設(shè)置在所述中空腔室內(nèi),用于支撐晶圓;以及
氣源,連接于所述進(jìn)氣口,用于向所述中空腔室內(nèi)提供清掃氣體,以使所述清掃氣體吹掃所述晶圓的背面,并由所述排氣口排出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述進(jìn)氣口正對(duì)所述晶圓的背面。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述進(jìn)氣口在所述晶圓的正投影位于所述晶圓的圓心。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述支撐組件包括三個(gè)支撐腳,各所述支撐腳均與所述晶圓的背面形成一支撐點(diǎn),各所述支撐點(diǎn)位于所述晶圓的邊緣。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,三個(gè)所述支撐點(diǎn)形成一等邊三角形。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述晶圓氣鎖裝置還包括控制器和三個(gè)傳感器,三個(gè)所述傳感器分別設(shè)置在三個(gè)所述支撐腳上,且與所述控制器信號(hào)連接,用于檢測(cè)與其對(duì)應(yīng)的所述支撐腳是否支撐所述晶圓,所述控制器用于根據(jù)所述傳感器的檢測(cè)結(jié)果,判斷出三個(gè)所述支撐腳是否均支撐所述晶圓。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述晶圓氣鎖裝置還包括靜電發(fā)生器,設(shè)置在所述支撐組件上,用以產(chǎn)生靜電并吸附所述晶圓。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述晶圓氣鎖裝置還包括抽氣裝置,連接于所述排氣口,用于抽取所述中空腔室內(nèi)的氣體。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述清掃氣體包括氮?dú)狻?/p>
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述氣源向所述中空腔室內(nèi)提供的所述清掃氣體的流量為200-5000sccm。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述清掃氣體吹掃所述晶圓的時(shí)間為3-10min。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述腔體還包括進(jìn)料口和出料口,所述進(jìn)料口、所述出料口均與所述中空腔室連通,所述進(jìn)料口用于供所述晶圓傳送至所述中空腔室內(nèi),所述出料口用于供所述晶圓由所述中空腔室內(nèi)傳送出去。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓氣鎖裝置,其特征在于,所述晶圓氣鎖裝置還包括均流板,覆蓋在所述進(jìn)氣口,用于使氣體均勻擴(kuò)散至所述中空腔室內(nèi)。
14.一種晶圓處理裝置,其特征在于,包括如權(quán)利要求1至13任一項(xiàng)所述的晶圓氣鎖裝置。
15.一種晶圓處理方法,其特征在于,包括:
提供如權(quán)利要求1至13任一項(xiàng)所述的晶圓氣鎖裝置;
利用大氣傳送模組,將所述晶圓傳送至所述晶圓氣鎖裝置,以對(duì)所述晶圓的背面進(jìn)行吹掃以及調(diào)整所述晶圓的壓力;
利用真空傳送模組,將位于所述晶圓氣鎖裝置內(nèi)的所述晶圓傳送至處理腔室。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的晶圓處理方法,其特征在于,所述晶圓處理方法還包括:
利用所述真空傳送模組,將經(jīng)所述處理腔室處理完成的所述晶圓傳送至所述晶圓氣鎖裝置。
17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的晶圓處理方法,其特征在于,所述晶圓氣鎖裝置提供的清掃氣體包括氮?dú)狻?/p>
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的晶圓處理方法,其特征在于,利用大氣傳送模組,將所述晶圓傳送至所述晶圓氣鎖裝置,以對(duì)所述晶圓的背面進(jìn)行吹掃,包括:
所述清掃氣體的流量為200-5000sccm,所述清掃氣體吹掃所述晶圓的時(shí)間為3-10min。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于長(zhǎng)鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司,未經(jīng)長(zhǎng)鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210009980.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專(zhuān)門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 光源裝置、照明裝置、液晶裝置和電子裝置
- 預(yù)測(cè)裝置、編輯裝置、逆預(yù)測(cè)裝置、解碼裝置及運(yùn)算裝置
- 圖像形成裝置、定影裝置、遮光裝置以及保持裝置
- 打印裝置、讀取裝置、復(fù)合裝置以及打印裝置、讀取裝置、復(fù)合裝置的控制方法
- 電子裝置、光盤(pán)裝置、顯示裝置和攝像裝置
- 光源裝置、照明裝置、曝光裝置和裝置制造方法
- 用戶(hù)裝置、裝置對(duì)裝置用戶(hù)裝置、后端裝置及其定位方法
- 遙控裝置、通信裝置、可變裝置及照明裝置
- 透鏡裝置、攝像裝置、處理裝置和相機(jī)裝置
- 抖動(dòng)校正裝置、驅(qū)動(dòng)裝置、成像裝置、和電子裝置
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫(xiě)分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





