[發明專利]自對準的檢測器單元的陣列在審

申請號：	202180053734.4	申請日：	2021-08-13
公開（公告）號：	CN116034294A	公開（公告）日：	2023-04-28
發明（設計）人：	S·麥特簡	申請（專利權）人：	史密斯探測法國股份公司
主分類號：	G01T1/29	分類號：	G01T1/29
代理公司：	北京潤平知識產權代理有限公司 11283	代理人：	肖冰濱
地址：	法國塞納***	國省代碼：	暫無信息
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摘要：
搜索關鍵詞：	對準檢測器單元陣列
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【說明書】：

在一些示例中，公開了一種用于確定檢查輻射的通量的方法，其中所述檢查輻射由輻射源發射并且透射通過貨物以基本上在透射平面(YOZ)中進行檢查，其中在透射通過所述貨物之后，檢查輻射的所述通量入射到在基本上平行于所述透射平面(YOZ)的平面中延伸的至少一個檢測器單元陣列上，所述陣列具有深度方向和基本上垂直于所述深度方向的縱向方向，所述檢測器單元被配置成第一多個L以基本上形成所述陣列的行，檢測器單元的每行基本上沿著平行于所述陣列的所述深度方向的方向延伸，所述檢測器單元還被配置成第二多個λ以基本上形成所述陣列的列，檢測器單元的每列基本上沿著平行于所述陣列的縱向方向的方向延伸，該方法包括：獲得與所述陣列的每個檢測器單元相關聯的信號數據；以及基于用于每個檢測器單元的所述信號數據，針對諸如1≤i≤L的每行i，確定入射到行i上的所述檢查輻射的所述通量。

技術領域

本發明涉及但不限于一種用于確定檢查輻射的通量的方法。本發明還涉及相關聯的裝置和相關聯的計算機程序或計算機程序產品。

背景技術

對于高能放射線透視應用(例如，貨物檢查的掃描儀)，檢測器(例如基于閃爍體/光電二極管的檢測器或半導體檢測器)在檢查輻射通量的傳播方向上具有重要的厚度(例如，幾厘米)，以便檢測大部分入射通量并提供量子泊松噪聲盡可能低的可靠成像數據。

檢查系統通常包括在垂直于檢查輻射通量方向的一個或多個方向上的多個檢測器的陣列，用于提供在一個或多個方向上的空間分辨率(在一個或多個方向上的多個檢測器的典型間距是幾毫米)。

由于檢測器的厚度，檢測器必須朝向檢查輻射通量的發射焦斑(focal?spot)定向。這是因為，雖然保持了面向焦斑的檢測器的分辨率，但是如果檢測器沒有朝向焦斑定向，則空間分辨率受到視差效應的影響。沒有朝向焦斑的檢測器的空間分辨率降低，因為檢查輻射通量在被吸收之前穿過幾個相鄰的檢測器。分辨率隨著檢查輻射束和正交于檢測器入射面的方向之間的角度而逐漸降低。

因此，任何常規檢查系統的檢測器必須仔細對準，并且每個檢測器必須精確地指向焦斑。對常規檢查系統的檢測器的對準要求對常規檢查系統的機械設計和機械公差具有重要的機械后果。

當制造檢查系統時或當更換檢查系統中的關鍵元件(如檢查輻射源或檢測器)時，所需的對準是耗時的。所需的對準還使得不可能具有用于多視圖系統的單個檢測線，并且常規的雙視圖檢查系統必須具有雙檢測線。

發明內容

本發明的方面和實施例在所附權利要求中闡述。本發明的這些和其它方面和實施例也在此描述。

附圖說明

圖1示意性地示出了根據本公開的第一示例方法；

圖2示意性地示出了包括根據本公開的示例陣列的示例系統；

圖3示意性地示出了根據本公開的陣列的行的細節；

圖4示意性地示出了截取入射到三個連續行(i-1、i和i+1)上的射束的在(i'，j')處的檢測器單元的系數C的圖形表示；

圖5示意性地示出了每個系數與檢查系統的一些參數的相關性；

圖6示意性地示出了調節矩陣M_ki以使得矩陣M_ki不具有遠離對角線的有效系數的方法的示例步驟；

圖7示意性地示出了估計基本上圍繞矩陣M_ki的對角線的每個系數的方法的示例步驟；