[發明專利]自對準的檢測器單元的陣列

在審

• 申請號: 202180053734.4
• 申請日: 2021-08-13
• 公開（公告）號: CN116034294A
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: S·麥特簡
• 申請（專利權）人: 史密斯探測法國股份公司
• 主分類號: G01T1/29
• 分類號: G01T1/29
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 肖冰濱

1.一種用于確定檢查輻射的通量的方法，

其中所述檢查輻射由輻射源發射并且透射通過貨物以基本上在透射平面(YOZ)中進行檢查，

其中在透射通過所述貨物之后，檢查輻射的所述通量入射到在基本上平行于所述透射平面(YOZ)的平面中延伸的至少一個檢測器單元陣列上，所述陣列具有深度方向和基本上垂直于所述深度方向的縱向方向，

所述檢測器單元被配置成第一多個L，基本上形成所述陣列的行，檢測器單元的每行基本上沿著平行于所述陣列的所述深度方向的方向延伸，

所述檢測器單元還被配置成第二多個λ，基本上形成所述陣列的至少兩列，檢測器單元的每列基本上沿著平行于所述陣列的所述縱向方向的方向延伸，

該方法包括：

獲得與所述陣列的每個檢測器單元相關聯的信號數據S_i′j′，每個檢測器單元位于所述陣列的列j'和行i'的交叉點處的(i'，j')，所獲得的檢測器單元的所述陣列的信號數據S使得：

S＝F(I,R)，

具有：I是與入射到所述陣列的所述行上的所述檢查輻射的所述通量相對應的通量組件，

R是用于檢測器單元的所述陣列的系數的貢獻布置，表示入射到滿足1≤i≤L的行i上的所述檢查輻射的射束對入射到所述陣列的所述行i上的位于(i'，j')的所述檢測器單元的所述信號數據S_i′j′的貢獻，以及

F是I和R的已知函數；以及

基于所獲得的信號數據S_i′j′和用于位于所述陣列的所述列j'和所述行i'的交叉點處的(i'，j')的每個檢測器單元的所述系數針對滿足1≤i≤L的每行i，確定入射到行i上的所述檢查輻射的所述通量I_i。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括歸一化所獲得的信號數據S，使得：

具有：是當沒有對象被放置在所述照射輻射中時獲得的信號；以及

還包括歸一化所述貢獻布置R，使得：

使得：

S^N＝F^N(I,C)，

具有：F^N是I和C的已知函數。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中所述函數F是給定I和R下S的所述條件概率，使得：

F(I,R)＝P(S|I,R)。

4.根據從屬于權利要求2的權利要求3所述的方法，其中所述函數F是使得滿足以下內容的所述條件概率：

F^N(I,C)＝P(S^N|I,C)。

5.根據權利要求3或權利要求4所述的方法，其中對于滿足1≤i≤L的每行i，確定入射到行i上的所述檢查輻射的所述通量I_i包括：通過最大似然估計和/或通過對數似然估計來最大化所述概率P(S|I,R)或所述概率P(S^N|I,C)。

6.根據權利要求1或權利要求2所述的方法，其中所述已知函數F是線性函數，使得：

具有：I_i是入射到行i上的所述檢查輻射的所述通量，以及

表示入射到行i上的所述檢查輻射的射束對位于(i'，j')的所述檢測器單元的所述信號數據S_i′j′的貢獻。