[實用新型]一種托盤抗彎撓度值實時檢測系統有效
| 申請號: | 202123263798.3 | 申請日: | 2021-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN216560041U | 公開(公告)日: | 2022-05-17 |
| 發明(設計)人: | 王華科;潘夢垚;周正平 | 申請(專利權)人: | 無錫瀚科檢測有限公司 |
| 主分類號: | G01N3/08 | 分類號: | G01N3/08;G01N3/02;G01B21/02 |
| 代理公司: | 長沙大珂知識產權代理事務所(普通合伙) 43236 | 代理人: | 胡習 |
| 地址: | 214000 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 托盤 撓度 實時 檢測 系統 | ||
本實用新型公開了一種托盤抗彎撓度值實時檢測系統,包括多個探針檢測機構和托盤試驗機構;每一探針檢測機構包括升降平臺、抗壓壞底座和位移探針;升降平臺上磁性相吸有抗壓壞底座,抗壓壞底座內設有多個位移探針,多個位移探針伸出抗壓壞底座;托盤試驗機構包括托盤和抗壓試驗機;托盤設于抗壓試驗機上,托盤的上端壓接有抗壓試驗機平臺,抗壓試驗機平臺對托盤施加壓力;多個探針檢測機構磁性相吸于一基座上,基座磁性相吸于抗壓試驗機的底板上,多個位移探針的頂端與托盤的底端相接觸。本實用新型提供的一種托盤抗彎撓度值實時檢測系統,多個探針檢測機構設在托盤下方,組成多個點的撓度檢測,最終形成一個實時檢測系統,測量精度高且準確。
技術領域
本實用新型涉及一種檢測系統,尤其涉及一種托盤抗彎撓度值實時檢測系統。
背景技術
現有托盤的撓度抗彎撓度值檢測一般采用百分表來測量。采用傳統的百分表來測量托盤撓度的缺點:(1)測試精度不高;(2)測量時在托盤下方百分表的工作姿態調整困難;(3)傳統百分表高度調節繁瑣,難以保證測量桿與被測平面的垂直度;(4)百分表只能測量托盤某一位置的撓度值;(5)當百分表承受托盤壓力過大時,沒有百分表保護裝置。
實用新型內容
有鑒于此,本實用新型提出了一種托盤抗彎撓度值實時檢測系統。
為了實現上述目的,本實用新型采用了如下技術方案:
一種托盤抗彎撓度值實時檢測系統,包括多個探針檢測機構和托盤試驗機構;
每一探針檢測機構包括升降平臺、抗壓壞底座和位移探針;所述升降平臺的上表面呈水平面,所述升降平臺上磁性相吸有抗壓壞底座,所述抗壓壞底座內設有多個位移探針,多個位移探針伸出所述抗壓壞底座;
所述托盤試驗機構包括托盤和抗壓試驗機;所述托盤設于所述抗壓試驗機上,所述托盤的上端壓接有抗壓試驗機平臺,抗壓試驗機平臺對托盤施加壓力;
多個探針檢測機構磁性相吸于一基座上,所述基座磁性相吸于所述抗壓試驗機的底板上,多個位移探針的頂端與所述托盤的底端相接觸。
優選的,所述位移探針通過位移探針座設于所述抗壓壞底座內;所述抗壓壞底座上擰入有緊定螺釘且緊定螺釘緊固壓接在所述位移探針座側面上;所述抗壓壞底座內開設有與位移探針座相連通的緩沖空間。
優選的,所述抗壓試驗機平臺的底板上端面嵌入固定設有第一磁鐵塊層,所述基座中部嵌入固定設有第二磁性塊層,所述第一磁鐵塊層與第二磁性塊層磁性相吸實現抗壓試驗機平臺的底板與底座磁性相吸;所述升降平臺的底部平臺下端面嵌入固定設有第三磁鐵塊層,所述第三磁鐵塊層與第二磁性塊層磁性相吸實現升降平臺與基座磁性相吸;所述升降平臺的頂部平臺上端面嵌入固定設有第四磁鐵塊層,所述抗壓壞底座的底部嵌入固定設有第五磁鐵塊層,所述第四磁鐵塊層與第五磁性塊層磁性相吸實現升降平臺與抗壓壞底座磁性相吸。
優選的,所述第四磁鐵塊層的上端面開設有若干道寬度與抗壓壞底座寬度尺寸相同的滑動槽,所述抗壓壞底座磁性相吸于一滑動槽內。
優選的,所述探針檢測機構具有4個,分別設于所述基座的四角位置;每一抗壓壞底座內設有3個位移探針,呈縱向平行排列。
優選的,每一所述抗壓壞底座上設有壓力傳感器,所述壓力傳感器上連接有壓桿;所述壓桿的高度低于所述位移探針的高度。
與現有的技術相比,本實用新型的有益效果是:
(1)采用探針檢測機構取代了百分表,不僅可以輕松調節高度,而且保證了升降平臺上的位移探針始終呈水平面,保證了位移探針測量桿與托盤被測平面的垂直度,位移探針的垂直姿態調整簡單;
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