[實用新型]一種托盤抗彎撓度值實時檢測系統

有效

• 申請號: 202123263798.3
• 申請日: 2021-12-23
• 公開（公告）號: CN216560041U
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發明（設計）人: 王華科;潘夢垚;周正平
• 申請（專利權）人: 無錫瀚科檢測有限公司
• 主分類號: G01N3/08
• 分類號: G01N3/08;G01N3/02;G01B21/02
• 代理公司: 長沙大珂知識產權代理事務所(普通合伙) 43236
• 代理人: 胡習

1.一種托盤抗彎撓度值實時檢測系統，其特征在于，包括多個探針檢測機構和托盤試驗機構；

每一探針檢測機構包括升降平臺(1)、抗壓壞底座(2)和位移探針(3)；所述升降平臺(1)的上表面呈水平面，所述升降平臺(1)上磁性相吸有抗壓壞底座(2)，所述抗壓壞底座(2)內設有多個位移探針(3)，多個位移探針(3)伸出所述抗壓壞底座(2)；

所述托盤試驗機構包括托盤(4)和抗壓試驗機(5)；所述托盤(4)設于所述抗壓試驗機(5)上，所述托盤(4)的上端壓接有抗壓試驗機平臺(51)，抗壓試驗機平臺(51)對托盤(4)施加壓力；

多個探針檢測機構磁性相吸于一基座(15)上，所述基座(15)磁性相吸于所述抗壓試驗機(5)的底板上，多個位移探針(3)的頂端與所述托盤(4)的底端相接觸。

2.根據權利要求1所述的托盤抗彎撓度值實時檢測系統，其特征在于，所述位移探針(3)通過位移探針(3)座設于所述抗壓壞底座(2)內；所述抗壓壞底座(2)上擰入有緊定螺釘(6)且緊定螺釘(6)緊固壓接在所述位移探針(3)座側面上；所述抗壓壞底座(2)內開設有與位移探針(3)座相連通的緩沖空間(7)。

3.根據權利要求2所述的托盤抗彎撓度值實時檢測系統，其特征在于，所述抗壓試驗機平臺(51)的底板上端面嵌入固定設有第一磁鐵塊層(10)，所述基座(15)中部嵌入固定設有第二磁性塊層(11)，所述第一磁鐵塊層(10)與第二磁性塊層(11)磁性相吸實現抗壓試驗機平臺(51)的底板與底座磁性相吸；所述升降平臺(1)的底部平臺下端面嵌入固定設有第三磁鐵塊層(12)，所述第三磁鐵塊層(12)與第二磁性塊層(11)磁性相吸實現升降平臺(1)與基座(15)磁性相吸；所述升降平臺(1)的頂部平臺上端面嵌入固定設有第四磁鐵塊層(13)，所述抗壓壞底座(2)的底部嵌入固定設有第五磁鐵塊層，所述第四磁鐵塊層(13)與第五磁性塊層(14)磁性相吸實現升降平臺(1)與抗壓壞底座(2)磁性相吸。

4.根據權利要求3所述的托盤抗彎撓度值實時檢測系統，其特征在于，所述第四磁鐵塊層(13)的上端面開設有若干道寬度與抗壓壞底座(2)寬度尺寸相同的滑動槽，所述抗壓壞底座(2)磁性相吸于一滑動槽內。

5.根據權利要求4所述的托盤抗彎撓度值實時檢測系統，其特征在于，所述探針檢測機構具有4個，分別設于所述基座(15)的四角位置；每一抗壓壞底座(2)內設有3個位移探針(3)，呈縱向平行排列。

6.根據權利要求5所述的托盤抗彎撓度值實時檢測系統，其特征在于，每一所述抗壓壞底座(2)上設有壓力傳感器(8)，所述壓力傳感器(8)上連接有壓桿(9)；所述壓桿(9)的高度低于所述位移探針(3)的高度。