[實用新型]一種封裝外形用定位裝置有效
| 申請號: | 202122673399.8 | 申請日: | 2021-11-03 |
| 公開(公告)號: | CN216597540U | 公開(公告)日: | 2022-05-24 |
| 發明(設計)人: | 李亞濤;崔先偉;宗啟明 | 申請(專利權)人: | 山東博通微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/68 | 分類號: | H01L21/68 |
| 代理公司: | 濟南尚本知識產權代理事務所(普通合伙) 37307 | 代理人: | 張笑 |
| 地址: | 273100 山東省濟寧*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 封裝 外形 定位 裝置 | ||
本實用新型提供一種封裝外形用定位裝置,主要涉及定位設備領域。一種封裝外形用定位裝置,包括底板,所述底板頂面開設矩形放置槽,所述矩形放置槽前面與外界相通,所述矩形放置槽兩側均開設條形槽,每條所述條形槽內均安裝導向桿,每根所述導向桿外周均套裝導向套,所述導向套能夠沿對應的導向桿滑動,每個所述導向套一側均通過彈簧與對應的條形槽連接,每根所述導向桿均穿過對應的彈簧,每個所述導向套一側均安裝擋板。本實用新型的有益效果在于:本實用新型結構簡單,使用方便,通過導向套與擋桿的配合,在彈簧彈力作用下,能夠將封裝板限位在矩形放置槽內,進而避免了封裝板發生移動,提高了封裝效果,給封裝帶來方便。
技術領域
本實用新型主要涉及定位設備領域,具體是一種封裝外形用定位裝置。
背景技術
集成電路是一種微型電子器件或部件,采用一定的工藝,把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上,然后封裝在一個管殼內,成為具有所需電路功能的微型結構;其中所有元件在結構上已組成一個整體,使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進了一大步,目前在對集成電路進行封裝時,多是直接將封裝板放置在工作臺面上,讓后進行封裝,由于封裝板沒有限位裝置,在封裝時容易發生移動,造成封裝精度低,封裝位置出現偏差,導致封裝板報廢,給封裝帶來不便。
實用新型內容
為解決現有技術的不足,本實用新型提供了一種封裝外形用定位裝置,本實用新型結構簡單,使用方便,通過導向套與擋桿的配合,在彈簧彈力作用下,能夠將封裝板限位在矩形放置槽內,進而避免了封裝板發生移動,提高了封裝效果,給封裝帶來方便。
本實用新型為實現上述目的,通過以下技術方案實現:
一種封裝外形用定位裝置,包括底板,所述底板頂面開設矩形放置槽,所述矩形放置槽前面與外界相通,所述矩形放置槽兩側均開設條形槽,每條所述條形槽內均安裝導向桿,每根所述導向桿外周均套裝導向套,所述導向套能夠沿對應的導向桿滑動,每個所述導向套一側均通過彈簧與對應的條形槽連接,每根所述導向桿均穿過對應的彈簧,每個所述導向套一側均安裝擋板。
進一步的,每塊所述擋板后面均安裝連接桿,兩根所述連接桿之間通過連桿連接。
進一步的,所述連桿外周套裝彈性防護套。
進一步的,所述矩形放置槽頂面后側安裝兩根限位桿,兩根限位桿左右分布且相互平齊。
對比現有技術,本實用新型的有益效果是:
本實用新型結構簡單,使用方便,通過導向套與擋桿的配合,在彈簧彈力作用下,能夠將封裝板限位在矩形放置槽內,進而避免了封裝板發生移動,提高了封裝效果,給封裝帶來方便。
附圖說明
附圖1是本實用新型結構示意圖;
附圖2是圖1的A向視圖;
附圖中所示標號:1、底板;2、矩形放置槽;3、條形槽;4、導向桿;5、導向套;6、彈簧;7、擋板;8、連接桿;9、連桿;10、限位桿。
具體實施方式
結合附圖和具體實施例,對本實用新型作進一步說明。應理解,這些實施例僅用于說明本實用新型而不用于限制本實用新型的范圍。此外應理解,在閱讀了本實用新型講授的內容之后,本領域技術人員可以對本實用新型作各種改動或修改,這些等價形式同樣落于本申請所限定的范圍。
如圖1-2所示,本實用新型所述一種封裝外形用定位裝置,包括底板1,所述底板1頂面開設矩形放置槽2,所述矩形放置槽2前面與外界相通,所述矩形放置槽2兩側均開設條形槽3,每條所述條形槽3內均安裝導向桿4,每根所述導向桿4外周均套裝導向套5,所述導向套5能夠沿對應的導向桿4滑動,每個所述導向套5一側均通過彈簧6與對應的條形槽3連接,每根所述導向桿4均穿過對應的彈簧6,每個所述導向套5一側均安裝擋板7。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





