[實用新型]一種用于半導體芯片蓋膜后的字符檢測光源有效
| 申請號： | 202121498381.2 | 申請日： | 2021-07-02 |
| 公開（公告）號： | CN215812356U | 公開（公告）日： | 2022-02-11 |
| 發明（設計）人： | 張祥明;劉圣祥;萬求 | 申請（專利權）人： | 合肥圖迅電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/01 | 分類號： | G01N21/01;G01N21/956 |
| 代理公司： | 北京知聯天下知識產權代理事務所(普通合伙) 11594 | 代理人： | 張陸軍;張迎新 |
| 地址： | 230031 安徽省合肥市高新*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 半導體 芯片 蓋膜后 字符 檢測 光源 | ||
1.一種用于半導體芯片蓋膜后的字符檢測光源，其特征在于，所述檢測光源包括有第一發光組件、光路改變組件以及第二發光組件；
所述第一發光組件，用于對芯片進行照明；
所述光路改變組件，用于改變經過照明后，芯片的成像光路；
所述第二發光組件，用于對芯片進行光照定位。
2.根據權利要求1所述的一種用于半導體芯片蓋膜后的字符檢測光源，其特征在于，所述光路改變組件設于第一發光組件上。
3.根據權利要求2所述的一種用于半導體芯片蓋膜后的字符檢測光源，其特征在于，所述第二發光組件位于第一發光組件的下方。
4.根據權利要求3所述的一種用于半導體芯片蓋膜后的字符檢測光源，其特征在于，所述第一發光組件包括有殼體(11)、第一連接板(24)以及第一光源(20)；
第一連接板(24)傾斜設置在殼體(11)的內部，所述第一光源(20)設于第一連接板(24)上并位于第一連接板(24)的下方。
5.根據權利要求4所述的一種用于半導體芯片蓋膜后的字符檢測光源，其特征在于，所述光路改變組件包括有棱鏡(22)以及兩個壓板件(16)；
所述棱鏡(22)通過兩個壓板件(16)固定在殼體(11)上。
6.根據權利要求5所述的一種用于半導體芯片蓋膜后的字符檢測光源，其特征在于，所述第二發光組件包括有底盒(13)；所述底盒(13)位于殼體(11)的下方。
7.根據權利要求6所述的一種用于半導體芯片蓋膜后的字符檢測光源，其特征在于，所述底盒(13)內設有第三光源(23)、第三連接板(27)；所述第三連接板(27)設在底盒(13)的內部，所述第三光源(23)設于第三連接板(27)上。
8.根據權利要求7所述的一種用于半導體芯片蓋膜后的字符檢測光源，其特征在于，經過第一光源(20)照明后，芯片的成像光路，通過棱鏡(22)折射給拍攝組件(19)。
9.根據權利要求8所述的一種用于半導體芯片蓋膜后的字符檢測光源，其特征在于，所述底盒(13)的頂部設有遮光板(39)，所述底盒(13)內設有透光板(28)，所述透光板(28)位于遮光板(39)以及第三光源(23)之間。
10.根據權利要求9所述的一種用于半導體芯片蓋膜后的字符檢測光源，其特征在于，所述遮光板(39)與底盒(13)之間可拆卸式的連接。
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