[實用新型]一種芯片測試座

有效

• 申請號: 202121056401.0
• 申請日: 2021-05-17
• 公開（公告）號: CN215005521U
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: 寧麗娟
• 申請（專利權）人: 深圳市福瑞達電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28;G01R27/08
• 代理公司: 深圳紫晴專利代理事務所(普通合伙) 44646
• 代理人: 梁彥

本實用新型涉及電子芯片測試技術領域，特別涉及一種芯片測試座，包括測試座主體、以及均勻設置在所述測試座主體的若干組測試片組件，其中，每組所述測試片組件均至少包括有第一測試片和第二測試片，所述第一測試片和第二測試片沿X軸水平方向并列設置在所述測試座主體上，并且所述第一測試片和第二測試片的外表均涂有絕緣材料。通過將第一測試片和第二測試片沿X軸水平方向并列設置在測試座主體上，便于第一測試片和第二測試片安裝在測試座主體上，也使得測試座的結構更加地簡單、緊湊，并且也更加地便于第一測試片和第二測試片的安裝和更換，此外，第一測試片和第二測試片的外表均涂有絕緣材料，防止第一測試片和第二測試片之間相互導通，實現電子芯片的開爾文測試方法。

技術領域

實用新型涉及電子芯片測試技術領域，特別涉及一種芯片測試座。

背景技術

隨著現代電子產品的飛速發展，電子芯片作為其重要的組成核心，在生產與加工的過程中，對質量的檢測管控越發的嚴格，在實際檢測過程中，通過自動化產線，由測試夾具置電子芯片于限位框內并施力按壓，電子芯片經由測試彈片與檢測電路連通，以此實現電子芯片的性能檢測。

目前，電子芯片的檢測裝置多采用開爾文測試方法進行芯片的性能測試，其亦被稱之為四端子檢測(4T檢測，4T sensing)、四線檢測或4點探針法，是一種電阻抗測量技術，使用單獨的對載電流和電壓檢測電極，相比傳統的兩個終端(2T)傳感能夠進行更精確的測量，開爾文四線檢測被用于一些歐姆表和阻抗分析儀，并在精密應變計和電阻溫度計的接線配置，也可用于測量薄膜的薄層或芯片的電阻。

現有技術中，多采用金屬片來連接電子芯片與檢測電路，以此實現針對電子芯片的開爾文測試。由于芯片的一個管腳需要接觸兩個金屬片進行接觸，以實現多觸點測試，但是現有的金屬片多采用層疊結構設計，使得測試座的結構復雜、不夠緊湊，并且金屬片更換不方便。

因此，如何設計一種結構簡單、緊湊的芯片測試座，成為了一亟需解決的技術問題。

實用新型內容

為了克服現有技術的上述缺陷，本實用新型提供一種芯片測試座，以解決上述背景技術中提出的問題。

本實用新型解決現有技術中的問題所采用的技術方案為：一種芯片測試座，包括測試座主體、以及均勻設置在所述測試座主體的若干組測試片組件，其中，每組所述測試片組件均至少包括有第一測試片和第二測試片，所述第一測試片和第二測試片沿X軸水平方向并列設置在所述測試座主體上，并且所述第一測試片和第二測試片之間涂有絕緣材料。

作為本實用新型的優選方案，所述第一測試片和第二測試片均分別包括有測試片主體、用于與芯片接觸的第一接觸端、以及用于與PCB板接觸的第二接觸端，所述測試片主體設于所述測試座主體上，所述第一接觸端和第二接觸端為自試片主體沿Y軸水平方向向兩側延伸的部分，其中，所述第一測試片和第二測試片的第一接觸端沿Y軸水平方向對稱設置，所述第一測試片和第二測試片的第二接觸端沿Y軸水平方向錯落設置。

作為本實用新型的優選方案，所述第一接觸端在與芯片接觸的端面設有便于與芯片接觸的第一凸起。

作為本實用新型的優選方案，所述第一接觸端在與芯片接觸的端面設有傾斜面，該傾斜面使第一接觸端與芯片接觸點減少，便于第一接觸端與芯片之間更好接觸。

作為本實用新型的優選方案，所述第一接觸端在遠離芯片的端面設有第二凸起，所述第二凸起對所述芯片測試座安裝在外部殼體上起到導向定位作用。

作為本實用新型的優選方案，所述第二接觸端包括有一體成型的彎折部和接觸部，所述接觸部的端面保持水平，便于與PCB板更好地接觸。

作為本實用新型的優選方案，所述測試片主體上設有用于限制第一測試片和第二測試片在測試座主體上位置的限位塊。