[實用新型]一種芯片測試座

有效

• 申請號: 202121056401.0
• 申請日: 2021-05-17
• 公開（公告）號: CN215005521U
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: 寧麗娟
• 申請（專利權）人: 深圳市福瑞達電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28;G01R27/08
• 代理公司: 深圳紫晴專利代理事務所(普通合伙) 44646
• 代理人: 梁彥

1.一種芯片測試座，其特征在于，包括測試座主體、以及均勻設置在所述測試座主體的若干組測試片組件，其中，每組所述測試片組件均至少包括有第一測試片和第二測試片，所述第一測試片和第二測試片沿X軸水平方向并列設置在所述測試座主體上，并且所述第一測試片和第二測試片的外表均涂有絕緣材料。

2.根據權利要求1所述的一種芯片測試座，其特征在于：所述第一測試片和第二測試片均分別包括有測試片主體、用于與芯片接觸的第一接觸端、以及用于與PCB板接觸的第二接觸端，所述測試片主體設于所述測試座主體上，所述第一接觸端和第二接觸端為自試片主體沿Y軸水平方向向兩側延伸的部分，其中，所述第一測試片和第二測試片的第一接觸端沿Y軸水平方向對稱設置，所述第一測試片和第二測試片的第二接觸端沿Y軸水平方向錯落設置。

3.根據權利要求2所述的一種芯片測試座，其特征在于：所述第一接觸端在與芯片接觸的端面設有便于與芯片接觸的第一凸起。

4.根據權利要求2所述的一種芯片測試座，其特征在于：所述第一接觸端在與芯片接觸的端面設有傾斜面，該傾斜面使第一接觸端與芯片接觸點減少，便于第一接觸端與芯片之間更好接觸。

5.根據權利要求2所述的一種芯片測試座，其特征在于：所述第一接觸端在遠離芯片的端面設有第二凸起，所述第二凸起對所述芯片測試座安裝在外部殼體上起到導向定位作用。

6.根據權利要求2所述的一種芯片測試座，其特征在于：所述第二接觸端包括有一體成型的彎折部和接觸部，所述接觸部的端面保持水平，便于與PCB板更好地接觸。

7.根據權利要求2所述的一種芯片測試座，其特征在于：所述測試片主體上設有用于限制第一測試片和第二測試片在測試座主體上位置的限位塊。

8.根據權利要求7所述的一種芯片測試座，其特征在于：所述測試座主體包括可拆卸連接在一起的下殼體和上殼體，在所述上殼體或下殼體上沿Y軸水平方向貫穿設置有容置測試片主體的容置槽。

9.根據權利要求8所述的一種芯片測試座，其特征在于：在所述容置槽內設有與所述限位塊相匹配的限位槽。

10.根據權利要求1～9任意一項所述的一種芯片測試座，其特征在于：所述測試片組件的制作材料為銅片、鐵片或合金片。