[實用新型]一種化驗分析稱量電子天平

有效

• 申請號: 202120745116.3
• 申請日: 2021-04-13
• 公開（公告）號: CN215003872U
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: 黎金梅
• 申請（專利權）人: 黎金梅
• 主分類號: G01G17/00
• 分類號: G01G17/00;B08B1/04
• 代理公司: 濟南鼎信專利商標代理事務所(普通合伙) 37245
• 代理人: 李雙

本實用新型公開了一種化驗分析稱量電子天平，包括裝置主體和清理片，所述裝置主體上方安裝有刮片，且刮片一側連接有第一支撐帶，并且第一支撐帶一側連接有轉動軸，所述轉動軸中間連接有第二支撐帶，且轉動軸一側固定連接有轉動塊，并且第二支撐帶一側連接有開合蓋，所述清理片底部連接有傳輸塊，且清理片一側安裝有固定塊。該化驗分析稱量電子天平，在使用的過程中，可將化驗物品直接放置在天平上，有利于去除化驗杯燒杯等對天平的影響，提高電子天平的測量結果準確性，便于工作人員使用便利，化驗物品直接在天平上化驗后，將容器放置在出料口，接取物品，便于簡化工作流程，提高了工作效率。

技術領域

本實用新型涉及電子天平技術領域，具體為一種化驗分析稱量電子天平。

背景技術

天平是一種用于質量(重量)測量的一種衡器，在日常生活中也較為常見，為了滿足精確測量的要求，尤其是實驗室測量的要求，出現了電子天平，該天平是傳感技術、模擬電子技術和微處理器技術發展的綜合產物，具有自動數據輸出、自動故障尋跡、超載保護等多功能，是實驗室定量分析工作中不可缺少的儀器，但是目前市場上的電子天平還是存在以下的問題：

1、現有的化驗分析稱量電子天平在工作過程中非常容易受到外界調節的影響，例如化驗杯、實驗紙以及包裝袋等等，都會使得電子天平的稱重產生波動，容易影響電子天平的稱重準確性；

2、在化驗分析過程中，需要先將化驗杯放置在電子天平上方，測量電子天平的重量，后再加入化驗物品，減去化驗杯重量，使用過程繁瑣且影響工作效率。

針對上述問題，在原有的電子天平的基礎上進行創新設計。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種化驗分析稱量電子天平，以解決上述背景技術中提出的目前市場上常見的化驗分析稱量電子天平，現有的化驗分析稱量電子天平在工作過程中非常容易受到外界調節的影響，例如化驗杯、實驗紙以及包裝袋等等，都會使得電子天平的稱重產生撥動，容易影響電子天平的稱重準確性，在化驗分析過程中，需要先將化驗杯放置在電子天平上方，測量電子天平的重量，后再加入化驗物品，減去化驗杯重量，使用過程繁瑣且影響工作效率的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種化驗分析稱量電子天平，包括裝置主體和清理片，所述裝置主體上方安裝有刮片，且刮片一側連接有第一支撐帶，并且第一支撐帶一側連接有轉動軸，所述轉動軸中間連接有第二支撐帶，且轉動軸一側固定連接有轉動塊，并且第二支撐帶一側連接有開合蓋，所述清理片底部連接有傳輸塊，且清理片一側安裝有固定塊。

優選的，所述刮片分前后兩層，且刮片通過第一支撐帶與轉動軸呈收卷結構。

優選的，所述第二支撐帶與開合蓋的連接方式為固定連接，且第二支撐帶一側固定連接在轉動軸中心點。

優選的，所述傳輸塊一側低于另一側，并且傳輸塊兩側呈“V”字形。

優選的，所述清理片與傳輸塊的連接方式為滑動連接，且清理片頂部為磁石，并且清理片頂部與刮片相交，所述刮片底部為磁石。

優選的，所述固定塊與傳輸塊的連接方式為固定連接，且固定塊位于清理片底部滑道頂端。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：該化驗分析稱量電子天平，

1、在使用的過程中，可將化驗物品直接放置在天平上，有利于去除化驗杯燒杯等對天平的影響，提高電子天平的測量結果準確性，便于工作人員使用便利；

2、化驗物品直接在天平上化驗后，將容器放置在出料口，接取物品，便于簡化工作流程，提高了工作效率。

附圖說明

圖1為本實用新型整體正視結構示意圖；

圖2為本實用新型整體俯視結構示意圖；

圖3為本實用新型傳輸塊與清理片側視結構示意圖；