[實用新型]一種化驗分析稱量電子天平有效
| 申請號： | 202120745116.3 | 申請日： | 2021-04-13 |
| 公開（公告）號： | CN215003872U | 公開（公告）日： | 2021-12-03 |
| 發明（設計）人： | 黎金梅 | 申請（專利權）人： | 黎金梅 |
| 主分類號： | G01G17/00 | 分類號： | G01G17/00;B08B1/04 |
| 代理公司： | 濟南鼎信專利商標代理事務所(普通合伙) 37245 | 代理人： | 李雙 |
| 地址： | 550300 貴州省貴陽*** | 國省代碼： | 貴州;52 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 化驗 分析 稱量 電子天平 | ||
1.一種化驗分析稱量電子天平，包括裝置主體(1)和清理片(8)，其特征在于：所述裝置主體(1)上方安裝有刮片(2)，且刮片(2)一側連接有第一支撐帶(3)，并且第一支撐帶(3)一側連接有轉動軸(4)，所述轉動軸(4)中間連接有第二支撐帶(5)，且轉動軸(4)一側固定連接有轉動塊(9)，并且第二支撐帶(5)一側連接有開合蓋(6)，所述清理片(8)底部連接有傳輸塊(7)，且清理片(8)一側安裝有固定塊(10)。
2.根據權利要求1所述的一種化驗分析稱量電子天平，其特征在于：所述刮片(2)分前后兩層，且刮片(2)通過第一支撐帶(3)與轉動軸(4)呈收卷結構。
3.根據權利要求2所述的一種化驗分析稱量電子天平，其特征在于：所述第二支撐帶(5)與開合蓋(6)的連接方式為固定連接，且第二支撐帶(5)一側固定連接在轉動軸(4)中心點。
4.根據權利要求1所述的一種化驗分析稱量電子天平，其特征在于：所述傳輸塊(7)一側低于另一側，并且傳輸塊(7)兩側呈“V”字形。
5.根據權利要求4所述的一種化驗分析稱量電子天平，其特征在于：所述清理片(8)與傳輸塊(7)的連接方式為滑動連接，且清理片(8)頂部為磁石，并且清理片(8)頂部與刮片(2)相交，所述刮片(2)底部為磁石。
6.根據權利要求5所述的一種化驗分析稱量電子天平，其特征在于：所述固定塊(10)與傳輸塊(7)的連接方式為固定連接，且固定塊(10)位于清理片(8)底部滑道頂端。
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