[實(shí)用新型]一種裂紋檢測的多波段光打光裝置及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202120668501.2 | 申請日: | 2021-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN214472841U | 公開(公告)日: | 2021-10-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張建偉;代榮富;劉佳桐;霍利佳 | 申請(專利權(quán))人: | 成都宋元光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司: | 成都華風(fēng)專利事務(wù)所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 張巨箭 |
| 地址: | 610011 四川省成都市錦江區(qū)工業(yè)*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 裂紋 檢測 波段 打光 裝置 系統(tǒng) | ||
本實(shí)用新型公開了一種裂紋檢測的多波段光打光裝置及系統(tǒng),屬于裂紋檢測技術(shù)領(lǐng)域,所述打光裝置包括三個(gè)不同波段的側(cè)面裂紋檢測光源,各側(cè)面裂紋檢測光源設(shè)于圖像采集設(shè)備上并圍繞待檢測面分布,且各側(cè)面裂紋檢測光源之間呈120°,實(shí)現(xiàn)了360°無死角的打光,且采用的是不同波段的光源,圖像采集設(shè)備的鏡頭上設(shè)有與側(cè)面裂紋檢測光源對應(yīng)的濾光片,濾光片能夠?yàn)V除其他波段的光,進(jìn)而避免光源之間的干擾,保證了成像效果,側(cè)面提升了墩頭裂紋檢測的精準(zhǔn)性。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及裂紋檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種裂紋檢測的多波段光打光裝置及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在智能制造中,機(jī)器視覺的缺陷檢測是非常重要的技術(shù)之一,對于常見的機(jī)器視覺系統(tǒng)由相機(jī)、鏡頭和光源組成,其中相機(jī)和鏡頭相對選型容易,唯獨(dú)光源的確認(rèn)較為復(fù)雜,需要在不同尺寸、不同顏色、不同功率、不同角度、不同類型的光源中進(jìn)行選擇和組合才可能達(dá)到預(yù)期的效果,另外由于被檢測物體的形狀、材質(zhì)不同也決定了光源的個(gè)數(shù)和位置,光源系統(tǒng)設(shè)計(jì)的合理性對整個(gè)視覺系統(tǒng)算法性能有著直接的影響。以鉚釘墩頭的裂紋檢測為例,打光裝置大多都采用四周采用3-4個(gè)打白色環(huán)形光源,確保360°檢測無死角的對鉚釘整個(gè)柱面進(jìn)行裂紋檢測。
現(xiàn)有的打光方法雖然解決了無死角的問題,但該打光方式下得到的圖像對于檢測裂紋非常不利,這是由于每個(gè)光源同時(shí)點(diǎn)亮造成光源之間的相互影響,對圖像算法處理挑戰(zhàn)較大,極易造成誤判和和漏判,雖然采用頻閃的光源控制光源先后點(diǎn)亮可以解決光源之間的影響,但是由于檢測鉚釘時(shí),整個(gè)視覺系統(tǒng)存在快速的移動(dòng),因此造成的時(shí)間差導(dǎo)致后拍照的相機(jī)拍照位置上的偏差,影響成像效果。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中各白色光源之間相互干擾、影響檢測精準(zhǔn)度的問題,提供了一種裂紋檢測的多波段光打光裝置及系統(tǒng)。
本實(shí)用新型的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的:一種裂紋檢測的多波段光打光裝置,打光裝置具體包括三個(gè)不同波段的側(cè)面裂紋檢測光源,各側(cè)面裂紋檢測光源設(shè)于圖像采集設(shè)備上并圍繞待檢測面分布,且各側(cè)面裂紋檢測光源之間呈120°,圖像采集設(shè)備的鏡頭上設(shè)有與側(cè)面裂紋檢測光源對應(yīng)的濾光片。
作為一選項(xiàng),所述三個(gè)不同波段的側(cè)面裂紋檢測光源包括650nm紅光光源、520nm綠光光源和450nm藍(lán)光光源。
作為一選項(xiàng),所述側(cè)面裂紋檢測光源具體為環(huán)形側(cè)面裂紋檢測光源。
作為一選項(xiàng),所述三個(gè)環(huán)形側(cè)面裂紋檢測光源分別套設(shè)于不同鏡頭上。
作為一選項(xiàng),所述三個(gè)側(cè)面裂紋檢測光源與待檢測面之間的角度范圍為30°-70°。
作為一選項(xiàng),所述待檢測面表面垂直方向上設(shè)有一表面裂紋檢測光源,所述表面裂紋檢測光源與側(cè)面裂紋檢測光源的波段不同。
作為一選項(xiàng),所述表面裂紋檢測光源具體為780nm紅外光源。
作為一選項(xiàng),所述表面裂紋檢測光源具體為環(huán)形表面裂紋檢測光源。
作為一選項(xiàng),所述表面裂紋檢測光源套設(shè)于鏡頭上。
需要進(jìn)一步說明的是,上述裝置各選項(xiàng)對應(yīng)的技術(shù)特征可以相互組合或替換構(gòu)成新的技術(shù)方案。
本實(shí)用新型還包括一種裂紋檢測系統(tǒng),所述檢測系統(tǒng)包括如上所述打光裝置。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型有益效果是:
(1)本實(shí)用新型側(cè)面裂紋檢測光源為不同波段的光源,且各光源之間呈120°設(shè)置,實(shí)現(xiàn)了360°無死角的打光,且采用的是不同波段的光源,圖像采集設(shè)備的鏡頭上設(shè)置有濾光片,濾光片能夠?yàn)V除其他波段的光,進(jìn)而避免光源之間的干擾,保證了成像效果,側(cè)面提升了墩頭裂紋檢測的精準(zhǔn)性。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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