[實用新型]一種裂紋檢測的多波段光打光裝置及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202120668501.2 | 申請日： | 2021-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN214472841U | 公開（公告）日： | 2021-10-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張建偉;代榮富;劉佳桐;霍利佳 | 申請（專利權(quán)）人： | 成都宋元光電科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/88 | 分類號： | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 成都華風專利事務(wù)所(普通合伙) 51223 | 代理人： | 張巨箭 |
| 地址： | 610011 四川省成都市錦江區(qū)工業(yè)*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 裂紋 檢測 波段 打光 裝置 系統(tǒng) | ||
1.一種裂紋檢測的多波段光打光裝置，其特征在于：所述打光裝置包括三個不同波段的側(cè)面裂紋檢測光源，各側(cè)面裂紋檢測光源設(shè)于圖像采集設(shè)備上并圍繞待檢測面(1)分布，且各側(cè)面裂紋檢測光源之間呈120°，圖像采集設(shè)備的鏡頭(5)上設(shè)有與側(cè)面裂紋檢測光源對應(yīng)的濾光片。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述裂紋檢測的多波段光打光裝置，其特征在于：所述三個不同波段的側(cè)面裂紋檢測光源包括650nm紅光光源(2)、520nm綠光光源(3)和450nm藍光光源(4)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述裂紋檢測的多波段光打光裝置，其特征在于：所述側(cè)面裂紋檢測光源具體為環(huán)形側(cè)面裂紋檢測光源。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述裂紋檢測的多波段光打光裝置，其特征在于：所述三個環(huán)形側(cè)面裂紋檢測光源分別套設(shè)于不同鏡頭(5)上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述裂紋檢測的多波段光打光裝置，其特征在于：所述側(cè)面裂紋檢測光源與待檢測面(1)之間的角度范圍為30°-70°。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述裂紋檢測的多波段光打光裝置，其特征在于：所述待檢測面(1)表面垂直方向上設(shè)有一表面裂紋檢測光源，所述表面裂紋檢測光源與側(cè)面裂紋檢測光源的波段不同。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述裂紋檢測的多波段光打光裝置，其特征在于：所述表面裂紋檢測光源具體為780nm紅外光源(6)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述裂紋檢測的多波段光打光裝置，其特征在于：所述表面裂紋檢測光源具體為環(huán)形表面裂紋檢測光源。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述裂紋檢測的多波段光打光裝置，其特征在于：所述環(huán)形表面裂紋檢測光源套設(shè)于鏡頭(5)上。
10.一種裂紋檢測系統(tǒng)，其特征在于：所述檢測系統(tǒng)包括如權(quán)利要求1-9中任意一項所述打光裝置。
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G01N 借助于測定材料的化學或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
