[實用新型]一種用于微帶電路調試的模塊

有效

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• 申請日: 2021-03-31
• 公開（公告）號: CN215297571U
• 公開（公告）日: 2021-12-24
• 發(fā)明（設計）人: 默江輝;王川寶;馬杰;張力江;崔玉興;高永輝;徐守利;蔡樹軍;卜愛民
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十三研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 石家莊國為知識產(chǎn)權事務所 13120
• 代理人: 付曉娣

本實用新型提供了一種用于微帶電路調試的模塊，微帶電路與相應的微波測試系統(tǒng)匹配，模塊為金屬塊狀物，金屬塊狀物的底面為長方形、上部設有便于夾取的夾持部，該長方形的寬度小于等于待測微波器件波長的四分之一；一個或多個金屬塊狀物借助絕緣夾沿微帶電路延伸方向設置、用于微波器件或微波模塊的阻抗匹配調試；金屬塊狀物的材質與微波測試系統(tǒng)配套的微帶線的材質相同，可以使用無氧銅，金屬塊狀物也可以使用鋁。金屬塊狀物的寬度大于等于1mm，且小于等于待測微波器件波長的四分之一，金屬塊狀物的長度為所述金屬塊狀物的寬度的整數(shù)倍。本實用新型提供的微帶電路調試的模塊可實現(xiàn)待測微波器件的精細調試，可提高微波器件測試的準確性。

技術領域

本實用新型屬于半導體器件測試技術領域，更具體地說，是涉及一種用于微帶電路調試的模塊。

背景技術

常規(guī)微波器件測試或微波模塊調試中，對微波器件的測試夾具中的微帶線或微波模塊中的匹配微帶電路的調試一般采用調節(jié)棒、烙鐵及銅皮結合的方法。一方面，調節(jié)棒為手工制作，制作精度很差，只能實現(xiàn)粗調。且調節(jié)棒只能用于4GHz以下匹配微帶電路的調試，對于4-8GHz常用微波器件及模塊的調試，無法使用調節(jié)棒。另一方面，微波器件的效率提升目前廣泛采用諧波匹配技術，但是調節(jié)棒由于尺寸太大，無法實現(xiàn)微帶電路的諧波匹配，影響了器件微波特性評價的準確性及微波模塊性能的提升。

由于微波器件測試或微波模塊調試需要反復進行多次，為了得到微波器件或微波模塊的最佳性能，需要對微波器件的測試夾具或微波模塊匹配的微帶電路進行精細調試。

如何實現(xiàn)微波器件的測試夾具的微帶線及微波模塊的匹配微帶電路的精細調試，成為亟需解決的技術問題。

實用新型內容

本實用新型實施例提供了一種用于微帶電路調試的模塊，能夠用于微波器件的測試夾具或微波模塊匹配的微帶電路的精細調試，提高調試效率。

為實現(xiàn)上述目的，本申請實施例提供了一種用于微帶電路調試的模塊，所述微帶電路與相應的微波測試系統(tǒng)匹配，所述模塊為金屬塊狀物，所述金屬塊狀物的底面為長方形、上部設有便于夾取的夾持部，該長方形的寬度小于等于待測微波器件波長的四分之一；

一個或多個所述金屬塊狀物借助絕緣夾沿所述微帶電路延伸方向邊緣移動、用于微波器件或微波模塊的阻抗匹配調試。

在一種可能的實現(xiàn)方式中，所述金屬塊狀物的寬度大于等于1mm，且小于等于待測微波器件波長的四分之一。

在一種可能的實現(xiàn)方式中，所述金屬塊狀物的長度為寬度的整數(shù)倍。

在一種可能的實現(xiàn)方式中，所述金屬塊狀物的材質與所述微帶電路的材質相同。

在一種可能的實現(xiàn)方式中，所述金屬塊狀物采用無氧銅或鋁制作。

在一種可能的實現(xiàn)方式中，所述金屬塊狀物的形狀為正方體、長方體或底面為長方形或正方形的異形體。

在一種可能的實現(xiàn)方式中，所述正方體、長方體或異形體的相對側面對稱設有夾持凹坑或粘接有絕緣防滑墊。

本申請實施例提供的金屬塊狀物可代替目前常規(guī)調試中使用的測試棒。金屬塊狀物可根據(jù)待測微波器件的的頻率、不同的調試需求制作多個不同尺寸的金屬塊狀物。測試過程中使用金屬塊狀物不僅提高了器件測試的準確性，而且測試的效率也大大提升。金屬塊狀物還可以用于微帶電路的諧波或基波匹配中，可提高微波器件特性評價的準確性。

附圖說明

圖1是本實用新型提供的一種金屬塊狀物的使用方法示意圖；

圖2是本實用新型提供的另一種金屬塊狀物的使用方法示意圖；

圖3是本實用新型提供的第三種金屬塊狀物的使用方法示意圖；

圖中：1-PCB板，2-微帶線，3-金屬塊狀物，4-絕緣夾。