[實(shí)用新型]一種用于微帶電路調(diào)試的模塊有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202120665664.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN215297571U | 公開(公告)日: | 2021-12-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 默江輝;王川寶;馬杰;張力江;崔玉興;高永輝;徐守利;蔡樹軍;卜愛民 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 石家莊國(guó)為知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120 | 代理人: | 付曉娣 |
| 地址: | 050051 *** | 國(guó)省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 微帶 電路 調(diào)試 模塊 | ||
1.一種用于微帶電路調(diào)試的模塊,所述微帶電路與相應(yīng)的微波測(cè)試系統(tǒng)匹配,其特征在于,所述模塊為金屬塊狀物,所述金屬塊狀物的底面為長(zhǎng)方形、上部設(shè)有便于夾取的夾持部,該長(zhǎng)方形的寬度小于等于待測(cè)微波器件波長(zhǎng)的四分之一;
一個(gè)或多個(gè)所述金屬塊狀物借助絕緣夾沿所述微帶電路延伸方向邊緣移動(dòng)、用于微波器件或微波模塊的阻抗匹配調(diào)試。
2.如權(quán)利要求1所述的用于微帶電路調(diào)試的模塊,其特征在于,所述金屬塊狀物的寬度大于等于1mm,且小于等于待測(cè)微波器件波長(zhǎng)的四分之一。
3.如權(quán)利要求1所述的用于微帶電路調(diào)試的模塊,其特征在于,所述金屬塊狀物的長(zhǎng)度為寬度的整數(shù)倍。
4.如權(quán)利要求1所述的用于微帶電路調(diào)試的模塊,其特征在于,所述金屬塊狀物的材質(zhì)與所述微帶電路的材質(zhì)相同。
5.如權(quán)利要求1所述的用于微帶電路調(diào)試的模塊,其特征在于,所述金屬塊狀物采用無氧銅或鋁制作。
6.如權(quán)利要求5所述的用于微帶電路調(diào)試的模塊,其特征在于,所述金屬塊狀物的形狀為正方體、長(zhǎng)方體或底面為長(zhǎng)方形或正方形的異形體。
7.如權(quán)利要求6所述的用于微帶電路調(diào)試的模塊,其特征在于,所述正方體、長(zhǎng)方體或異形體的相對(duì)側(cè)面對(duì)稱設(shè)有夾持凹坑或粘接有絕緣防滑墊。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 調(diào)試系統(tǒng)、調(diào)試方法和調(diào)試控制方法
- 一種終端調(diào)試方法和裝置
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