[實用新型]光電子器件測試設備

有效

• 申請號: 202120495533.7
• 申請日: 2021-03-09
• 公開（公告）號: CN214473679U
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 冉茂武
• 申請（專利權）人: 銅仁學院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04;F16H37/12
• 代理公司: 北京佐行專利代理事務所(特殊普通合伙) 11683
• 代理人: 王二娟;王占愈

本申請提供一種光電子器件測試設備，包括主動輪、從動輪、傳送帶、頂部支撐裝置、測試裝置和傳動部件。從動輪上連接有凸輪，傳送帶上設置有器件放置槽。頂部支撐裝置設置在傳送帶的上方，頂部支撐裝置上連接有第一縱向導桿和第二縱向導桿，測試裝置可滑動地連接在縱向導桿上，測試裝置底端設置有測試探針。傳動部件包括滑動連接部和連接在滑動連接部的延伸部，滑動連接部連接在第二縱向導桿上，且滑動連接部和凸輪相抵接，延伸部末端設有推頂部。凸輪轉動，能驅動傳動部件升降運動，使得推頂部上推或下拉測試裝置，以測試光電子器件。本申請的測試設備采用了凸輪傳動機構，簡化了設備結構，降低了成本，且提高了設備的可靠性。

技術領域

本申請涉及光電子器件測試技術領域，尤其是涉及一種光電子器件測試設備。

背景技術

光電子器件是光電子技術的關鍵和核心部件，是現代光電技術與微電子技術的前沿研究領域，是信息技術的重要組成部分。光電子器件是根據光電效應制作的器件。現有的光電子器件自動測試設備一般是設置傳送機構和可升降的測試部件，傳送機構傳動電子元器件，測試部件升降運動，實現對途徑的電子元器件的測試?，F有技術中，傳送機構和測試部件分別由不同的驅動裝置驅動，如此需要在傳送機構上設置位置傳感器以感應位置信息，然后再控制測試部件的驅動機構執行驅動動作。現有的傳送機構一般會選用步進電機驅動，步進電機行每行進一步，測試部件升降一次，整個設備的執行機構多，成本高昂，且工作效率低，設備穩定性一般。

實用新型內容

為解決上述問題，本申請提供一種光電子器件測試設備，采用了凸輪傳動機構，簡化了設備結構，降低了成本，且提高了設備的可靠性。

一種光電子器件測試設備，包括：

主動輪，所述主動輪和電機驅動連接；

從動輪，所述從動輪上連接有凸輪；

傳送帶，所述傳送帶套設在所述主動輪和所述從動輪上，所述傳送帶上沿傳送帶的長度方向上依次設置有多個器件放置槽；

頂部支撐裝置，所述頂部支撐裝置設置在所述傳送帶的上方，所述頂部支撐裝置上連接有第一縱向導桿和第二縱向導桿，所述第一縱向導桿位于所述傳送帶上方，所述第二縱向導桿位于所述凸輪的上方；

測試裝置，所述測試裝置可滑動地連接在所述縱向導桿上，所述測試裝置底端設置有測試探針；

傳動部件，所述傳動部件包括滑動連接部和連接在所述滑動連接部的延伸部，所述滑動連接部連接在所述第二縱向導桿上，且所述滑動連接部和所述凸輪相抵接，所述滑動連接部和所述頂部支撐裝置之間設置有彈簧，所述延伸部末端設有推頂部；

所述凸輪轉動，能驅動所述傳動部件升降運動，使得所述推頂部上推或下拉所述測試裝置，以測試光電子器件。

可選的，所述滑動連接部底部設置有滾輪，所述滾輪和所述凸輪的滾動面相接觸。

可選的，所述測試裝置包括座體和連接所述座體的測試部件，所述測試部件上設置有所述測試探針；所述座體具有滑槽，所述座體通過所述滑槽套設在所述第一縱向導桿上，所述座體設置有連接孔，所述座體上設置有延伸至所述連接孔上的避讓槽，所述延伸部穿過所述避讓槽，所述延伸部端部的推頂部位于所述連接孔內。

可選的，所述推頂部包括垂直連接所述延伸部的插接柱和設置在所述插接柱兩側的兩個徑向延伸部，兩個所述徑向延伸部分別限位在所述連接孔的兩側。

可選的，所述傳送帶上位于所述放置槽的周側設置有定位柱，所述座體上沿所傳送帶的長度方向設置導桿，所述測試部件可滑動地連接在所述導桿上，且所述導桿上位于所述測試部件兩側均設置有彈簧，所述測試部件底部凸出設置有定位塊，所述定位塊下表面上開設有錐形槽，錐形槽和所述定位柱插接配合。

可選的，光電子器件測試設備還包括測試主機，所述測試裝置和所述測試主機通過線纜電連接。