[實用新型]光電子器件測試設備

有效

• 申請號: 202120495533.7
• 申請日: 2021-03-09
• 公開（公告）號: CN214473679U
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 冉茂武
• 申請（專利權）人: 銅仁學院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04;F16H37/12
• 代理公司: 北京佐行專利代理事務所(特殊普通合伙) 11683
• 代理人: 王二娟;王占愈

1.一種光電子器件測試設備，其特征在于，包括：

主動輪，所述主動輪和電機驅動連接；

從動輪，所述從動輪上連接有凸輪；

傳送帶，所述傳送帶套設在所述主動輪和所述從動輪上，所述傳送帶上沿傳送帶的長度方向上依次設置有多個器件放置槽；

頂部支撐裝置，所述頂部支撐裝置設置在所述傳送帶的上方，所述頂部支撐裝置上連接有第一縱向導桿和第二縱向導桿，所述第一縱向導桿位于所述傳送帶上方，所述第二縱向導桿位于所述凸輪的上方；

測試裝置，所述測試裝置可滑動地連接在所述縱向導桿上，所述測試裝置底端設置有測試探針；

傳動部件，所述傳動部件包括滑動連接部和連接在所述滑動連接部的延伸部，所述滑動連接部連接在所述第二縱向導桿上，且所述滑動連接部和所述凸輪相抵接，所述滑動連接部和所述頂部支撐裝置之間設置有彈簧，所述延伸部末端設有推頂部；

所述凸輪轉動，能驅動所述傳動部件升降運動，使得所述推頂部上推或下拉所述測試裝置，以測試光電子器件。

2.如權利要求1所述的光電子器件測試設備，其特征在于，所述滑動連接部底部設置有滾輪，所述滾輪和所述凸輪的滾動面相接觸。

3.如權利要求2所述的光電子器件測試設備，其特征在于，所述測試裝置包括座體和連接所述座體的測試部件，所述測試部件上設置有所述測試探針；所述座體具有滑槽，所述座體通過所述滑槽套設在所述第一縱向導桿上，所述座體設置有連接孔，所述座體上設置有延伸至所述連接孔上的避讓槽，所述延伸部穿過所述避讓槽，所述延伸部端部的推頂部位于所述連接孔內。

4.如權利要求3所述的光電子器件測試設備，其特征在于，所述推頂部包括垂直連接所述延伸部的插接柱和設置在所述插接柱兩側的兩個徑向延伸部，兩個所述徑向延伸部分別限位在所述連接孔的兩側。

5.如權利要求4所述的光電子器件測試設備，其特征在于，所述傳送帶上位于所述放置槽的周側設置有定位柱，所述座體上沿所傳送帶的長度方向設置導桿，所述測試部件可滑動地連接在所述導桿上，且所述導桿上位于所述測試部件兩側均設置有彈簧，所述測試部件底部凸出設置有定位塊，所述定位塊下表面上開設有錐形槽，錐形槽和所述定位柱插接配合。

6.如權利要求1所述的光電子器件測試設備，其特征在于，還包括測試主機，所述測試裝置和所述測試主機通過線纜電連接。