[實用新型]一種芯片雙模組取放料裝置

有效

• 申請號: 202120473039.0
• 申請日: 2021-03-04
• 公開（公告）號: CN214718556U
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發明（設計）人: 呂波
• 申請（專利權）人: 珠海市科迪電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;B07C5/36;B07C5/02
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 盧澤明

本實用新型提供一種芯片雙模組取放料裝置，包括左取放料模組、右取放料模組、測試治具、供料單元、收料單元和第一CCD照相單元，供料單元用于提供待測料盤，待測料盤上放置有待測芯片，第一CCD照相單元設于待測料盤上方，第一CCD照相單元用于對待測料盤進行檢測定位，左取放料模組根據第一CCD照相單元反饋的定位信息、對待測料盤上的待測芯片進行抓取、并將待測芯片放置在測試治具上，右取放料模組用于將測試治具上的待測芯片抓取并放置在收料單元上，測試治具數量為至少一個。當存在多個測試治具時，在一個測試治具正在測試時，即可利用左取放料模組向另外的測試治具放置芯片，多線程同時運行，芯片移料速率快，提高測試效率。

技術領域

本實用新型屬于芯片測試設備技術領域，尤其涉及一種芯片雙模組取放料裝置。

背景技術

目前芯片的生產產量越來越高，且對每顆芯片的測試要求越來越高，逐漸發展成需要對每顆芯片都進行測試。結合現在的情況，一臺設備每小時產能都達到1000PCS以上，目前測試治具大多采取IPQC抽檢方式，即生產過程中每間隔固定的時間，如2小時抽檢多少顆產品，以確認生產產品是否合格，如每2000PCS產品抽檢20PCS產品，如抽檢產品都合格的話就默認前面時間段生產的產品為合格產品，且設備可繼續生產，如出現不良，則需要全檢上一時段生產的芯片，且停機檢查生產異常問題發生原因。

這種方法并不能做到每顆芯片都經過測試，而測試效率是限制這一目標完成的重大因素，芯片從提取、定位到測試、放料等過程速率不高，導致測試效率低下，無法實現每顆芯片都經過測試。

實用新型內容

本實用新型的目的在于克服上述現有技術存在的不足，提供一種芯片雙模組取放料裝置，解決了現有技術中芯片在測試過程中移料速率慢、測試效率低下的問題。

本實用新型提供一種芯片雙模組取放料裝置，包括左取放料模組、右取放料模組、測試治具、供料單元、收料單元和第一CCD照相單元，所述供料單元用于提供待測料盤，所述待測料盤上放置有待測芯片，所述第一CCD照相單元設于所述待測料盤上方，所述第一CCD照相單元用于對所述待測料盤進行檢測定位，所述左取放料模組根據所述第一CCD照相單元反饋的定位信息、對所述待測料盤上的待測芯片進行抓取、并將待測芯片放置在所述測試治具上，所述右取放料模組用于將所述測試治具上的待測芯片抓取并放置在收料單元上，所述測試治具數量為至少一個。

進一步地，所述左取放料模組、右取放料模組固定于第一支架，所述左取放料模組、右取放料模組分別在直線電機的驅動下沿所述第一支架作直線移動。

進一步地，還包括第二CCD照相單元，所述第二CCD照相單元設于所述測試治具上方，所述第二CCD照相單元用于對所述測試治具上的待測芯片進行檢測定位。

進一步地，所述左取放料模組包括第一垂直移動單元、第一固定板和若干個提取單元，所述若干個提取單元并排布置與所述第一固定板，所述第一固定板通過所述第一垂直移動單元連接于所述第一支架。

進一步地，所述右取放料模組包括第二垂直移動單元、第二固定板和若干個提取單元，所述若干個提取單元并排布置與所述第二固定板，所述第二固定板通過所述第二垂直移動單元連接于所述第一支架。

進一步地，所述第一CCD照相單元、第二CCD照相單元固定于第二支架，所述第一CCD照相單元、第二CCD照相單元分別在直線電機的驅動下沿所述第二支架作直線移動。

進一步地，所述左取放料模組包括六個提取單元。

進一步地，所述右取放料模組包括六個提取單元。

進一步地，所述測試治具數量為兩個。

本實用新型的有益效果：