[發(fā)明專利]氣浮平臺動態(tài)水平度檢測方法及應(yīng)用該方法的晶圓傳輸系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111676800.1 | 申請日: | 2021-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN114322853B | 公開(公告)日: | 2023-07-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鮑偉成;張冬峰;王旭晨;王文廣;葉瑩 | 申請(專利權(quán))人: | 上海果納半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/26 | 分類號: | G01B11/26;H01L21/677 |
| 代理公司: | 蘇州匯誠匯智專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32623 | 代理人: | 莫英妍 |
| 地址: | 200000 上海市中國(上海)*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 平臺 動態(tài) 水平 檢測 方法 應(yīng)用 傳輸 系統(tǒng) | ||
1.氣浮平臺動態(tài)水平度檢測方法,其特征在于:應(yīng)用于晶圓傳輸系統(tǒng),通過圖像記錄裝置記錄晶圓在氣浮平臺上的坐標(biāo)信息,所述圖像記錄裝置設(shè)置在所述氣浮平臺的垂直正上方,位置保持不變;每次拍攝范圍固定,每檢測一片晶圓,拍攝一次;其中,拍攝第一片晶圓的照片為標(biāo)準(zhǔn)正圓,拍攝第n+1片晶圓的照片是傾斜貼合在氣浮平臺上的晶圓在水平面上的投影,第n+1片晶圓的照片不是標(biāo)準(zhǔn)的正圓,第一片晶圓和第n+1片晶圓在所述氣浮平臺上有共同的接觸點;
其中,晶圓的運動過程如下?:在放置第一片晶圓時,氣浮平臺為水平狀體,此時氣浮平臺保持水平,此時圖像記錄裝置拍攝第一片晶圓的照片;放置第n+1片晶圓時,氣浮平臺發(fā)生傾斜,第n+1片晶圓的放置過程為:釋放晶圓后,晶圓首先以自由落體方式向下垂直運動,但由于此時氣浮平臺已經(jīng)發(fā)生傾斜,不再是水平狀態(tài),故晶圓邊緣的某一個點首先與氣浮平臺接觸,另一邊緣再以傾斜的方式下落,并貼合至氣浮平臺表面;
通過圖像分析模塊讀取第一片晶圓與第n+1片晶圓的坐標(biāo)信息,根據(jù)第一片晶圓的位置與氣浮平臺達(dá)到動態(tài)穩(wěn)定后的第n+1片晶圓的位置之間的偏移量α,計算出氣浮平臺的在達(dá)到動態(tài)平衡后的水平度偏差θ,所述水平度偏差θ的計算公式如下:
其中,α是根據(jù)圖像記錄裝置記錄的圖像的像素計算得出的第一片晶圓與第n+1片晶圓在側(cè)邊的相切點與圓心的連線延長線上的最大偏移量;L為晶圓直徑。
2.晶圓傳輸系統(tǒng),該晶圓傳輸系統(tǒng)用于將晶圓傳輸?shù)綒飧∑脚_,并在晶圓完成檢測后,將晶圓從氣浮平臺上搬走,其特征在于:應(yīng)用權(quán)利要求1中所述的氣浮平臺動態(tài)水平度檢測方法,該傳輸系統(tǒng)包括:
裝載機(jī)器人:用于將晶圓搬運至若干個指定位置;
晶圓校準(zhǔn)臺:用于并根據(jù)預(yù)先設(shè)定好的位置和NOTCH角度來調(diào)整晶圓的位置;
圖像記錄裝置:設(shè)置在氣浮平臺正上方,通過拍照記錄晶圓在氣浮平臺上的坐標(biāo)信息,所述圖像記錄裝置設(shè)置在所述氣浮平臺的垂直正上方,位置保持不變;每次拍攝范圍固定,每檢測一片晶圓,拍攝一次;其中,拍攝第一片晶圓的照片為標(biāo)準(zhǔn)正圓,拍攝第n+1片晶圓的照片是傾斜貼合在氣浮平臺上的晶圓在水平面上的投影,第n+1片晶圓的照片不是標(biāo)準(zhǔn)的正圓,第一片晶圓和第n+1片晶圓在所述氣浮平臺上有共同的接觸點。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶圓傳輸系統(tǒng),其特征在于:所述裝載機(jī)器人每次搬運一片晶圓至氣浮平臺,待檢測結(jié)束后,將此片晶圓搬走,再搬運下一片晶圓至氣浮平臺進(jìn)行檢測,如此往復(fù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶圓傳輸系統(tǒng),其特征在于:所述裝載機(jī)器人重復(fù)搬運并釋放晶圓的空間位置固定不變。
5.?根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶圓傳輸系統(tǒng),其特征在于:所述晶圓校準(zhǔn)臺的正上方還設(shè)置有工業(yè)相機(jī),用于讀取晶圓wafer?ID碼和NOTCH角度。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣浮平臺動態(tài)水平度檢測方法,其特征在于:所述圖像分析模塊采用matlab,以讀取圖片中任一點位的坐標(biāo)。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶圓傳輸系統(tǒng),其特征在于:所述指定位置包括晶圓校準(zhǔn)臺上的校準(zhǔn)位置和氣浮平臺上的晶圓檢測位置。
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