[發明專利]用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構、圖像芯片測試裝置及方法

在審

• 申請號: 202111674479.3
• 申請日: 2021-12-31
• 公開（公告）號: CN116418972A
• 公開（公告）日: 2023-07-11
• 發明（設計）人: 李建明;朱彬
• 申請（專利權）人: 格科微電子（上海）有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱蘇華

本發明公開了一種用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構、圖像芯片測試裝置及方法，該鏡頭安裝結構包括：芯片機構、以及用于安裝鏡頭的固定板，在所述芯片機構上設置有鏡頭安裝區域，在所述鏡頭安裝區域外圍設置有調節孔；所述固定板的形狀與所述安裝區域的形狀相適配，并且為間隙配合；所述固定板通過穿過所述調節孔的定位銷調節固定。利用本發明方案，可以方便調節鏡頭的位置，實現光心可調。

技術領域

本發明涉及圖像芯片測試技術領域，具體涉及一種用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構，還涉及一種圖像芯片測試裝置及方法。

背景技術

圖像芯片在生產制造過程中，需要進行成像測試，以檢測圖像芯片成像的感光區域中的各個像素點是否合格。在對圖像芯片進行測試時，通常需要將鏡頭安裝固定到芯片機構的預留位置上。由于部件加工工藝誤差的存在，可能會使得成像透鏡的光軸與圖像芯片的感光中心點不重合，使成像位置出現偏移，導致芯片感光區域出現不能見到圖像的局部區域，影響測試質量及測試效率。

發明內容

本發明實施例一方面提供一種用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構，以方便調節鏡頭的位置，實現光心可調。

本發明實施例另一方面提供一種圖像芯片測試裝置及方法，以提高測試質量及測試效率。

本發明實施例提供一種用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構，所述安裝結構包括：鏡頭活動機構、以及用于安裝鏡頭的固定板，在所述鏡頭活動機構上設置有鏡頭安裝區域，在所述鏡頭安裝區域外圍設置有調節孔；所述固定板的形狀與所述安裝區域的形狀相適配，并且為間隙配合；所述固定板通過穿過所述調節孔的固定螺絲調節固定。

可選地，所述安裝區域為方形、或者圓形、或者橢圓形。

可選地，在所述安裝區域的邊緣有兩個或多個對稱分布的凹弧狀結構。

可選地，所述固定板上設置有螺孔，所述鏡頭通過穿過所述螺孔的螺釘固定。

可選地，所述螺孔有多個。

可選地，在所述鏡頭活動機構上還設置有定位銷。

可選地，所述鏡頭活動機構上設置有多個所述鏡頭安裝區域。

本發明實施例還提供一種圖像芯片測試裝置，所述裝置包括：燈箱、設置在所述燈箱下方的鏡頭安裝結構，在所述鏡頭安裝結構下方設置有用于放置圖像芯片的測試座。

可選地，所述測試座上設置有芯片定位槽。

可選地，所述芯片定位槽的數量與所述鏡頭安裝結構上安裝的鏡頭數量相同，并且一一對應。

本發明實施例還提供一種基于圖像芯片測試裝置的圖像芯片測試方法，所述方法包括：

將圖像芯片放置到所述測試座上；

將鏡頭的光軸對準成圖像芯片感光區域中心點；

打開燈箱的光源；

通過傳感器將所述圖像芯片感光到的圖像信號傳送到顯示器顯示；

根據顯示的圖像確定所述鏡頭的光軸與圖像芯片的感光中心點是否重合；

如果不重合，則調節所述固定板的位置，直至所述鏡頭的光軸與圖像芯片的感光中心點重合。

可選地，所述調節所述固定板的位置包括：

手動調節所述固定板的位置；或者

通過電機驅動自動調節所述固定板的位置。

本發明實施例提供的用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構，將鏡頭的安裝位置設計為活動結構，使鏡頭的相對位置可調，在鏡頭的光軸與圖像芯片的感光中心點不重合時，通過微調鏡頭的位置使兩者相重合，保證測試質量及效率。