[發(fā)明專利]用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構、圖像芯片測試裝置及方法

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• 申請日: 2021-12-31
• 公開（公告）號: CN116418972A
• 公開（公告）日: 2023-07-11
• 發(fā)明（設計）人: 李建明;朱彬
• 申請（專利權）人: 格科微電子（上海）有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱蘇華

1.一種用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構，其特征在于，所述安裝結構包括：鏡頭活動機構、以及用于安裝鏡頭的固定板，在所述鏡頭活動機構上設置有鏡頭安裝區(qū)域，在所述鏡頭安裝區(qū)域外圍設置有調節(jié)孔；所述固定板的形狀與所述安裝區(qū)域的形狀相適配，并且為間隙配合；所述固定板通過穿過所述調節(jié)孔的固定螺絲調節(jié)固定。

2.根據(jù)權利要求1所述的用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構，其特征在于，所述安裝區(qū)域為方形、或者圓形、或者橢圓形。

3.根據(jù)權利要求2所述的用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構，其特征在于，在所述安裝區(qū)域的邊緣有兩個或多個對稱分布的凹弧狀結構。

4.根據(jù)權利要求1所述的用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構，其特征在于，所述固定板上設置有螺孔，所述鏡頭通過穿過所述螺孔的螺釘固定。

5.根據(jù)權利要求4所述的用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構，其特征在于，所述螺孔有多個。

6.根據(jù)權利要求1所述的用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構，其特征在于，在所述鏡頭活動機構上還設置有定位銷。

7.根據(jù)權利要求1至6任一項所述的用于圖像芯片測試的鏡頭安裝結構，其特征在于，所述鏡頭活動機構上設置有多個所述鏡頭安裝區(qū)域。

8.一種圖像芯片測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：燈箱、設置在所述燈箱下方的如權利要求1至7任一項所述的鏡頭安裝結構，在所述鏡頭安裝結構下方設置有用于放置圖像芯片的測試座。

9.根據(jù)權利要求8所述的圖像芯片測試裝置，其特征在于，所述測試座上設置有芯片定位槽。

10.根據(jù)權利要求9所述的圖像芯片測試裝置，其特征在于，所述芯片定位槽的數(shù)量與所述鏡頭安裝結構上安裝的鏡頭數(shù)量相同，并且一一對應。

11.一種基于權利要求8至10任一項所述的圖像芯片測試裝置的圖像芯片測試方法，其特征在于，所述方法包括：

將圖像芯片放置到所述測試座上；

將鏡頭的光軸對準成圖像芯片感光區(qū)域中心點；

打開燈箱的光源；

通過傳感器將所述圖像芯片感光到的圖像信號傳送到顯示器顯示；

根據(jù)顯示的圖像確定所述鏡頭的光軸與圖像芯片的感光中心點是否重合；

如果不重合，則調節(jié)所述固定板的位置，直至所述鏡頭的光軸與圖像芯片的感光中心點重合。

12.根據(jù)權利要求11所述的圖像芯片測試方法，其特征在于，所述調節(jié)所述固定板的位置包括：

手動調節(jié)所述固定板的位置；或者

通過電機驅動自動調節(jié)所述固定板的位置。