[發明專利]射頻芯片的測試系統及測試方法

在審

• 申請號: 202111672376.3
• 申請日: 2021-12-31
• 公開（公告）號: CN114325340A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 江明;孫梅芳
• 申請（專利權）人: 南京矽典微系統有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R21/00;G01R23/02
• 代理公司: 深圳市六加知識產權代理有限公司 44372
• 代理人: 陳金賞

本申請涉及芯片測試技術領域，公開了一種射頻芯片的測試系統及測試方法，該射頻芯片的測試系統，通過設置射頻接口模塊，由射頻接口模塊的至少兩個第一功分器連接至少兩顆射頻芯片的射頻輸入端口，由射頻接口模塊的第二功分器和第三功分器將至少兩顆射頻芯片的射頻輸出端口連接至信號測量裝置，以實現至少兩顆射頻芯片的測試，本申請實施例能夠提高射頻芯片的測試效率。

技術領域

本申請實施方式涉及芯片測試技術領域，特別是涉及一種射頻芯片的測試系統及測試方法。

背景技術

芯片量產測試是產品質量要求很高的環節，目的是篩查出不良品，并對良品的測試結果進行記錄和監測，避免不良品流向客戶的同時也保證良品達到產品設計的目標。

射頻芯片可能有多路發射和接收鏈路，對每一路的性能都需要進行測量，同時某些射頻芯片的工作頻率比較高，可能高達數百GHz以上。射頻測試往往需要高精度的儀表，非常考驗測試成本，部分消費類產品為了降低成本只能對其射頻功能做類似環回的基本功能測試，無法兼顧成本和測試質量，給大規模出貨埋下質量隱患。如果使用實驗室級別的高性能儀表，會使得測試成本將急劇上升。

受限于射頻測試資源，無法滿足不同鏈路同時測試的需求，目前，通常使用高性能的射頻開關組成矩陣切換不同的鏈路，通過不同的開關連接使待測芯片的管腳連通到對應的測試資源上。同樣的，滿足要求的射頻開關往往成本高，壽命有限，多顆串行測試導致切換頻繁，生產過程中有失效的風險。一旦遇到問題會引起生產暫停造成更大的損失。機械開關使用過程中會逐漸損耗，無法保證測試過程中的一致性，需要經常校準，導致效率低下。

申請人在實現本申請實施例的過程中發現：現有技術存在芯片的測試效率低、測試成本高的技術問題。

申請內容

本申請實施例提供一種射頻芯片的測試系統及測試方法，以解決現有技術存在的存儲設備的測試效率低，測試成本高的技術問題，以提高測試效率。

為了解決上述技術問題，本申請實施例提供以下技術方案：

第一方面，本申請實施例提供一種射頻芯片的測試系統，包括：

信號測量裝置，用于測量至少兩顆射頻芯片的發射信號；

測試板，用于引出至少兩顆射頻芯片的射頻輸入端口和射頻輸出端口；

射頻接口模塊，包括：

至少兩個第一功分器，每一第一功分器用于連接一顆射頻芯片的射頻輸入端口；

第二功分器，連接至少兩顆射頻芯片的射頻輸出端口，用于將至少兩顆射頻芯片輸出的至少兩路發射信號合并為一路發射信號；

第三功分器，連接第二功分器和信號測量裝置，用于將第二功分器的輸出信號輸出到信號測量裝置，以使信號測量裝置獲取至少兩顆射頻芯片的測量數據；

測試機臺，連接信號測量裝置，用于獲取信號測量裝置的測量數據，以確定至少兩顆射頻芯片的性能是否達標。

在一些實施例中，信號測量裝置包括：

頻率計，用于測量射頻芯片的發射信號的頻率；

功率計，用于測量射頻芯片的發射信號的功率。

在一些實施例中，

第二功分器包括合路端和分路端；

第三功分器包括合路端和分路端；

其中，第三功分器的合路端連接第二功分器的合路端，第三功分器的分路端分別連接功率計和頻率計，第三功分器用于將第二功分器的輸出信號分路至功率計和頻率計，以對至少兩顆射頻芯片的輸出信號進行測量。