[發(fā)明專利]射頻芯片的測試系統(tǒng)及測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111672376.3
• 申請日: 2021-12-31
• 公開（公告）號(hào): CN114325340A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 江明;孫梅芳
• 申請（專利權(quán)）人: 南京矽典微系統(tǒng)有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R21/00;G01R23/02
• 代理公司: 深圳市六加知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44372
• 代理人: 陳金賞

1.一種射頻芯片的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

信號(hào)測量裝置，用于測量至少兩顆射頻芯片的發(fā)射信號(hào)；

測試板，用于引出至少兩顆所述射頻芯片的射頻輸入端口和射頻輸出端口；

射頻接口模塊，包括：

至少兩個(gè)第一功分器，每一所述第一功分器用于連接一顆射頻芯片的射頻輸入端口；

第二功分器，連接至少兩顆所述射頻芯片的射頻輸出端口，用于將至少兩顆所述射頻芯片輸出的至少兩路發(fā)射信號(hào)合并為一路發(fā)射信號(hào)；

第三功分器，連接所述第二功分器和所述信號(hào)測量裝置，用于將所述第二功分器的輸出信號(hào)輸出到所述信號(hào)測量裝置，以使所述信號(hào)測量裝置獲取至少兩顆所述射頻芯片的測量數(shù)據(jù)；

測試機(jī)臺(tái)，連接所述信號(hào)測量裝置，用于獲取所述信號(hào)測量裝置的測量數(shù)據(jù)，以確定至少兩顆所述射頻芯片的性能是否達(dá)標(biāo)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述信號(hào)測量裝置包括：

頻率計(jì)，用于測量射頻芯片的發(fā)射信號(hào)的頻率；

功率計(jì)，用于測量射頻芯片的發(fā)射信號(hào)的功率。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，

所述第二功分器包括合路端和分路端；

所述第三功分器包括合路端和分路端；

其中，所述第三功分器的合路端連接所述第二功分器的合路端，所述第三功分器的分路端分別連接所述功率計(jì)和所述頻率計(jì)，所述第三功分器用于將所述第二功分器的輸出信號(hào)分路至所述功率計(jì)和所述頻率計(jì)，以對至少兩顆所述射頻芯片的輸出信號(hào)進(jìn)行測量。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述射頻接口模塊，還包括：

至少兩個(gè)耦合器，每一耦合器均包括輸入端、輸出端和耦合端；

至少兩個(gè)衰減器，每一衰減器均包括輸入端和輸出端；

其中，每一所述射頻芯片的射頻輸出端口連接一耦合器的輸入端，所述耦合器的輸出端連接一衰減器的輸入端，所述衰減器的輸出端連接所述第二功分器的分路端。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，

每一所述第一功分器包括合路端和分路端；

每一所述耦合器包括輸入端、輸出端和耦合端，其中，一顆射頻芯片的射頻輸出端口連接一個(gè)耦合器的輸入端，該耦合器的輸出端連接一個(gè)衰減器的輸入端，該耦合器的耦合端連接一個(gè)第一功分器的合路端，該第一功分器的分路端連接另一顆射頻芯片的射頻輸入端。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，

每一所述射頻芯片包括至少兩個(gè)射頻輸入端口和至少兩個(gè)射頻輸出端口；

每一所述第一功分器包括一個(gè)合路端和至少兩個(gè)分路端，其中，每一分路端對應(yīng)一個(gè)衰減器。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，每一所述射頻芯片的至少兩個(gè)射頻輸入端口一一連接所述第一功分器的至少兩個(gè)分路端，所述第一功分器的合路端連接一個(gè)耦合器的耦合端。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，

每一所述射頻芯片的一個(gè)射頻輸出端口連接一個(gè)耦合器的輸入端，該耦合器的輸出端連接一衰減器的輸入端，該衰減器的輸出端連接所述第二功分器的一個(gè)分路端；

每一所述射頻芯片的另一個(gè)射頻輸出端口連接另一個(gè)衰減器的輸入端，該衰減器的輸出端連接所述第二功分器的另一個(gè)分路端。

9.一種射頻芯片的測試方法，其特征在于，應(yīng)用于如權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的射頻芯片的測試系統(tǒng)，所述方法包括：

獲取所述信號(hào)測量裝置發(fā)送的測量數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)，確定至少兩顆所述射頻芯片的發(fā)射性能或接收性能是否達(dá)標(biāo)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試方法，其特征在于，所述信號(hào)測量裝置包括頻率計(jì)和功率計(jì)，所述根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)，確定至少兩顆所述射頻芯片的發(fā)射性能或接收性能是否達(dá)標(biāo)，包括：

根據(jù)所述頻率計(jì)獲取的測試頻率，判斷所述測試頻率是否處于預(yù)設(shè)頻率范圍；

和/或，根據(jù)所述功率計(jì)獲取的測試功率，判斷所述測試功率是否處于預(yù)設(shè)功率范圍，確定至少兩顆所述射頻芯片的發(fā)射性能或接收性能是否達(dá)標(biāo)。