[發明專利]用于MCU芯片測試的硬件控制裝置、方法、存儲介質及設備

在審

• 申請號: 202111662008.0
• 申請日: 2021-12-31
• 公開（公告）號: CN114297011A
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發明（設計）人: 孫林;朱勇;韓標;蔣京宏
• 申請（專利權）人: 百瑞互聯集成電路（上海）有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京國科程知識產權代理事務所(普通合伙) 11862
• 代理人: 曹曉斐

本申請公開了一種用于MCU芯片測試的硬件控制裝置、方法、存儲介質及設備，屬于硬測試件技術領域。該方法主要包括：測試控制端與端口復用硬件模塊，其中，測試控制端與端口復用硬件模塊連接，并根據需測試的功能發送相應的測試操作指令以控制端口復用硬件模塊中相應通訊接口的開閉，端口復用硬件模塊與被測MCU芯片連接，通過通訊接口對被測MCU芯片進行相應的功能測試。通過采用多路復用的原理，利用端口復用硬件模塊對被測芯片進行連接，使得能夠通過端口復用硬件模塊對被測芯片任意通訊端口進行有效訪問，并且不產生沖突，能夠完全的滿足全測試需求，且本方案具備更高的靈活性，無需反復的人工接線，即可實現硬件的全功能測試。

技術領域

本申請涉及硬件測試技術領域，特別涉及一種用于MCU芯片測試的硬件控制裝置、方法、存儲介質及設備。

背景技術

在MCU芯片的硬件測試環境中，不同芯片之間，通常會存在引腳兼容性的問題，導致前一型號的芯片硬件測試平臺無法直接給另一型號的芯片使用，需要對硬件平臺進行重新的設計。即使是相同的芯片，想要在硬件平臺上實現功能測試的全覆蓋，也非常的不容易。一般MCU芯片中存在各種各樣的外部接口，比如I2C、I2S、UART、SPI等，這些接口互不兼容，各自有各自的通訊協議。這些通訊協議一般是由硬件編解碼，軟件負責收發和處理數據。在進行測試時，需要將相應的接口，接到與其對應的接口上，否則無法進行正常的通訊。

在現有技術中，測試方式一般是兩種，其中一種測試方法是在被測MCU芯片的外部接一個模塊，和模塊進行通訊；另一種則是在外部另接一顆MCU芯片，其中另一顆MCU上也帶有各種各樣的通訊接口，將另一顆MCU芯片上相關的通訊接口接到被測MCU芯片上與其對應的接口上進行通訊。當將兩個MCU芯片的通訊接口正常連接以后，就可以進行通訊了。

針對上述第二種測試方法的情況，一般采取兩種連接方式；其一為做一個PCB板子，在該PCB板子上用線將兩個MCU芯片的引腳引出來，然后人工將兩個MCU芯片的引腳分別連接到各個模塊上進行通訊；其二為做一個硬件PCB板，在硬件PCB板上就將相關的通訊引腳直接接到另一顆MCU芯片對應的引腳上。由于部分MCU芯片存在單個引腳上支持多種通信協議的情況，因此在利用上述兩種連接方式時便會出現只能測該引腳上的其中的一種通訊協議，因為只能固定接到一個相應的接口，從而使得部分功能無法測試，造成被測MCU芯片無法完成全功能測試。

并且，針對上述兩種連接方式中的第一種，針對不同的MCU芯片需要進行相應的連接，因此在更換不同MCU芯片或不同協議的接口時需要人工進行接線，而頻繁的拆線、接線會造成電路的接觸不良，影響硬件測試效果，同時人工成本高。而第二種，只有當另一MCU芯片與該被測MCU芯片是Pin2Pin(引腳分配一模一樣)兼容的情況下，才能夠有效的繼承原有的自動化測試環境，因此該方式的局限性強。

發明內容

針對現有技術存在的只針對特定MCU芯片，局限性強，或因接觸不良影響硬件測試效果的問題，本申請主要提供一種用于MCU芯片測試的硬件控制裝置、方法、存儲介質及設備。

為了實現上述目的，本申請采用的一個技術方案是：提供一種用于MCU芯片測試的硬件控制裝置，其包括：測試控制端與端口復用硬件模塊，其中，測試控制端與端口復用硬件模塊連接，并根據需測試的功能發送相應的測試操作指令以控制端口復用硬件模塊中相應通訊接口的開閉，端口復用硬件模塊與被測MCU芯片連接，通過通訊接口對被測MCU芯片進行相應的功能測試。

可選地，端口復用硬件模塊還包括：多個功能模塊，其分別與多個通訊接口連接并進行通信，根據測試操作指令開啟相應的通訊接口以連接功能模塊，對被測MCU芯片的功能進行測試，其中多個通訊接口通過被測MCU芯片中的引腳與被測MCU芯片連接。

可選地，測試控制端包括：控制開關，其根據需測試的功能對相應開關進行開閉，以發送相應的測試操作指令。