[發明專利]用于MCU芯片測試的硬件控制裝置、方法、存儲介質及設備在審
| 申請號: | 202111662008.0 | 申請日: | 2021-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN114297011A | 公開(公告)日: | 2022-04-08 |
| 發明(設計)人: | 孫林;朱勇;韓標;蔣京宏 | 申請(專利權)人: | 百瑞互聯集成電路(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22 |
| 代理公司: | 北京國科程知識產權代理事務所(普通合伙) 11862 | 代理人: | 曹曉斐 |
| 地址: | 201306 上海市浦東新區中國(上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 mcu 芯片 測試 硬件 控制 裝置 方法 存儲 介質 設備 | ||
1.一種用于MCU芯片測試的硬件控制裝置,其特征在于,包括:測試控制端與端口復用硬件模塊,其中,
所述測試控制端與所述端口復用硬件模塊連接,并根據需測試的功能發送相應的測試操作指令以控制所述端口復用硬件模塊中相應通訊接口的開閉,所述端口復用硬件模塊與被測MCU芯片連接,通過所述通訊接口對所述被測MCU芯片進行相應的功能測試。
2.根據權利要求1所述的用于MCU芯片測試的硬件控制裝置,其特征在于,所述端口復用硬件模塊,還包括:
多個功能模塊,其分別與多個所述通訊接口連接并進行通信,根據所述測試操作指令開啟相應的所述通訊接口以連接所述功能模塊,以對所述被測MCU芯片的功能進行測試,其中多個所述通訊接口通過所述被測MCU芯片中的引腳與所述被測MCU芯片連接。
3.根據權利要求1所述的用于MCU芯片測試的硬件控制裝置,其特征在于,所述測試控制端,包括:
控制開關,其根據需測試的功能對相應開關進行開閉,以發送相應的所述測試操作指令。
4.根據權利要求1所述的用于MCU芯片測試的硬件控制裝置,其特征在于,所述測試控制端,還包括:
PC測試模塊,其用于根據需測試的功能發送相應的測試指令;
通信模塊,其與所述PC測試模塊連接,對所述測試指令進行解析,得到所述測試操作指令。
5.根據權利要求4所述的用于MCU芯片測試的硬件控制裝置,其特征在于,在所述通信模塊中,所述通信模塊通過所述端口復用硬件模塊對所述被測MCU芯片進行訪問。
6.根據權利要求4所述的用于MCU芯片測試的硬件控制裝置,其特征在于,
所述通訊模塊包括用于輔助測試的從屬MCU芯片,其中所述從屬MCU芯片與所述被測MCU芯片具有相同類型的引腳。
7.一種用于MCU芯片測試的硬件控制方法,其特征在于,包括:
根據需測試的功能,測試控制端發送相應的測試操作指令;
通過所述測試操作指令控制端口復用硬件模塊中相應通訊接口的開閉,以對與所述端口復用硬件模塊連接的被測MCU芯片進行相應的功能測試。
8.根據權利要求7所述的用于MCU芯片測試的硬件控制方法,其特征在于,所述通過所述測試操作指令控制端口復用硬件模塊中相應通訊接口的開閉,進一步包括:
所述測試控制端中的PC測試模塊根據需測試的功能發送相應的測試指令;
所述測試控制端中的通信模塊對所述測試指令進行解析得到所述測試操作指令,并根據所述測試操作指令控制所述通訊接口的開閉,以與所述被測MCU芯片進行相互訪問,進行對所述被測MCU芯片的相關功能的測試,其中,
所述通信模塊根據所述測試操作指令開啟所述端口復用硬件模塊中的相應功能模塊以及所述功能模塊與所述被測MCU芯片之間相應的通訊接口;
所述被測MCU芯片通過所述通訊接口訪問所述功能模塊,并同時與所述通信模塊訪問,完成所述被測MCU芯片的功能測試。
9.一種計算機可讀存儲介質,其存儲有計算機指令,其特征在于,所述計算機指令被操作以執行權利要求7-8中任一項所述的用于MCU芯片測試的硬件控制方法。
10.一種計算機設備,其特征在于,包括:
至少一個處理器;以及
與所述至少一個處理器進行通信連接的存儲器;
其中,所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的計算機指令,所述至少一個處理器操作所述計算機指令以執行如權利要求7-8任一項所述的用于MCU芯片測試的硬件控制方法。
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