[發明專利]測量直流參數的電路、方法及系統

在審

• 申請號: 202111653042.1
• 申請日: 2021-12-30
• 公開（公告）號: CN114325331A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 劉磊;胡志臣;楊立杰;武福存;儲艷莉;劉文旭;黃月芳;王紅宇
• 申請（專利權）人: 北京航天測控技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京華夏泰和知識產權代理有限公司 11662
• 代理人: 韓月玲

本申請涉及一種測量直流參數的電路、方法及系統，該電路包括主控單元、通道控制單元以及模數/數模轉換單元；通道控制單元包括PMU通道，PMU通道的數量為至少一個；PMU通道包括PMU芯片電路以及輸出放大電路，輸出放大電路與PMU芯片電路連接，輸出放大電路用于放大PMU芯片電路的輸出電壓，以增加PMU通道的量程；主控單元與模數/數模轉換單元連接，主控單元與通道控制單元連接，模數/數模轉換單元與通道控制單元連接，通道控制單元與待測IC芯片連接。本申請通過在通道控制單元中設置輸出放大電路以及至少一個PMU通道，來增加PMU通道的量程，解決測量量程較少的問題，提高IC測試的便利性。

技術領域

本申請涉及集成電路(integrated circuit，IC)測試領域，尤其涉及一種測量直流參數的電路、方法及系統。

背景技術

IC測試作為IC芯片生產中的重要環節，其測量結果不僅可以用于判斷IC芯片性能是否符合標準，是否可以進入市場，還可以充分定量地反映出該IC芯片從結構、功能到電氣特性的各種指標。因此，IC測試主要用于保證IC芯片能夠完全實現其設計規格書所規定的功能及性能指標。在現有用于IC測試的精密測量單元(phasor management unit,PMU)測試方式中，通常是使用測試儀中集成的PMU測試通道對IC芯片進行電流和電壓測試，來獲取用于表征IC芯片性能的直流參數。其中，該直流參數是表征IC芯片性能的重要指標。但是，現有的測試方法中存在測量量程較少的問題，可能為IC測試造成不便。

發明內容

本申請提供了一種測量直流參數的電路、方法及系統，以解決現有的測試方法中的測量量程較少，導致IC測試不便的問題。

第一方面，本申請提供了一種測量直流參數的電路，該測量直流參數的電路包括主控單元、通道控制單元以及模數/數模轉換單元；所述通道控制單元包括PMU通道，所述PMU通道的數量為至少一個；所述PMU通道包括PMU芯片電路以及輸出放大電路，所述輸出放大電路與所述PMU芯片電路連接，所述輸出放大電路用于放大所述PMU芯片電路的輸出電壓，以增加所述PMU通道的量程；

所述主控單元與所述模數/數模轉換單元連接，所述主控單元與所述通道控制單元連接，所述模數/數模轉換單元與所述通道控制單元連接，所述通道控制單元與待測IC芯片連接；

所述主控單元用于通過所述模數/數模轉換單元向所述通道控制單元傳輸測量信號，并通過所述模數/數模轉換單元獲取所述通道控制單元傳輸的測量結果；所述測量信號包括對所述待測IC芯片進行測量的電壓的值；

所述通道控制單元用于根據所述測量信號以目標量程對所述待測IC芯片進行測量，并將采集到的測量結果通過所述模數/數模轉換單元傳輸給所述主控單元；所述測量結果包括所述待測IC芯片的直流參數；所述目標量程為所述PMU通道的至少一個量程中的任意一個；

所述模數/數模轉換單元用于將所述主控單元傳輸的數字信號轉換為模擬信號，并傳輸給所述通道控制單元，所述模數/數模轉換單元還用于將所述通道控制單元傳輸的模擬信號轉換為數字信號，并傳輸給所述主控單元。

可選地，所述主控單元與所述通道控制單元連接；

所述主控單元用于控制所述通道控制單元中的目標PMU通道開啟；所述目標PMU通道為所述PMU通道中的至少一個；

所述主控單元用于通過所述模數/數模轉換單元向所述目標PMU通道傳輸測量信號，并通過所述模數/數模轉換單元獲取所述目標PMU通道傳輸的測量結果。

可選地，所述目標PMU通道包括第一目標PMU通道與第二目標PMU通道；

所述主控單元用于通過所述模數/數模轉換單元向所述第一目標PMU通道傳輸測量信號，并通過所述模數/數模轉換單元獲取所述第二目標PMU通道傳輸的測量結果；