[發(fā)明專利]測量直流參數(shù)的電路、方法及系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111653042.1
• 申請日: 2021-12-30
• 公開（公告）號: CN114325331A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉磊;胡志臣;楊立杰;武福存;儲艷莉;劉文旭;黃月芳;王紅宇
• 申請（專利權(quán)）人: 北京航天測控技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京華夏泰和知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11662
• 代理人: 韓月玲

1.一種測量直流參數(shù)的電路，其特征在于，所述電路包括主控單元、通道控制單元以及模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元；所述通道控制單元包括PMU通道，所述PMU通道的數(shù)量為至少一個(gè)；所述PMU通道包括PMU芯片電路以及輸出放大電路，所述輸出放大電路與所述PMU芯片電路連接，所述輸出放大電路用于放大所述PMU芯片電路的輸出電壓，以增加所述PMU通道的量程；

所述主控單元與所述模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元連接，所述主控單元與所述通道控制單元連接，所述模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元與所述通道控制單元連接，所述通道控制單元與待測IC芯片連接；

所述主控單元用于通過所述模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元向所述通道控制單元傳輸測量信號，并通過所述模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元獲取所述通道控制單元傳輸?shù)臏y量結(jié)果；所述測量信號包括對所述待測IC芯片進(jìn)行測量的電壓的值；

所述通道控制單元用于根據(jù)所述測量信號以目標(biāo)量程對所述待測IC芯片進(jìn)行測量，并將采集到的測量結(jié)果通過所述模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元傳輸給所述主控單元；所述測量結(jié)果包括所述待測IC芯片的直流參數(shù)；所述目標(biāo)量程為所述PMU通道的至少一個(gè)量程中的任意一個(gè)；

所述模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元用于將所述主控單元傳輸?shù)臄?shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號，并傳輸給所述通道控制單元，所述模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元還用于將所述通道控制單元傳輸?shù)哪M信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，并傳輸給所述主控單元。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量直流參數(shù)的電路，其特征在于，所述主控單元與所述通道控制單元連接；

所述主控單元用于控制所述通道控制單元中的目標(biāo)PMU通道開啟；所述目標(biāo)PMU通道為所述PMU通道中的至少一個(gè)；

所述主控單元用于通過所述模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元向所述目標(biāo)PMU通道傳輸測量信號，并通過所述模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元獲取所述目標(biāo)PMU通道傳輸?shù)臏y量結(jié)果。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量直流參數(shù)的電路，其特征在于，所述目標(biāo)PMU通道包括第一目標(biāo)PMU通道與第二目標(biāo)PMU通道；

所述主控單元用于通過所述模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元向所述第一目標(biāo)PMU通道傳輸測量信號，并通過所述模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元獲取所述第二目標(biāo)PMU通道傳輸?shù)臏y量結(jié)果；

所述第一目標(biāo)PMU通道用于向所述待測IC芯片傳輸電壓/電流信號，并以所述目標(biāo)量程測量所述待測IC芯片在所述電壓/電流信號下的直流參數(shù)；所述電壓/電流信號的值根據(jù)所述測量信號確定；

所述第二目標(biāo)PMU通道用于采集對所述待測IC芯片進(jìn)行測量得到的測量結(jié)果。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測量直流參數(shù)的電路，其特征在于，所述第一目標(biāo)PMU通道通過所述第一目標(biāo)PMU通道的第一連接線和第二連接線與所述待測IC芯片的正端連接，所述第一目標(biāo)PMU通道通過所述第一目標(biāo)PMU通道的第三連接線和第四連接線與所述待測IC芯片的負(fù)端連接；

所述第二目標(biāo)PMU通道通過所述第二目標(biāo)PMU通道的第一連接線和第二連接線與所述待測IC芯片的正端連接；所述第二目標(biāo)PMU通道通過所述第二目標(biāo)PMU通道的第三連接線和第四連接線與所述待測IC芯片的負(fù)端連接；

所述第一目標(biāo)PMU通道的第一連接線、第二連接線、第三連接線和第四連接線用于傳輸所述電壓/電流信號；

所述第二目標(biāo)PMU通道的第一連接線、第二連接線、第三連接線和第四連接線用于采集所述測量結(jié)果；

所述第一目標(biāo)PMU通道用于根據(jù)所述測量信號，通過所述第一目標(biāo)PMU通道的第一連接線、第二連接線、第三連接線和第四連接線將所述電壓/電流信號傳輸給所述待測IC芯片，并以所述目標(biāo)量程測量所述待測IC芯片的直流參數(shù)；所述第二目標(biāo)PMU通道用于通過所述第二目標(biāo)PMU通道的第一連接線、第二連接線、第三連接線與所述第四連接線采集對所述待測IC芯片進(jìn)行測量的測量結(jié)果。