[發明專利]基于STIL技術的芯片自動測試方法、系統及裝置

在審

• 申請號: 202111651110.0
• 申請日: 2021-12-30
• 公開（公告）號: CN114325330A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 任朝旭;路林海;韓惠婕;李立佳;張俊霞;秦留洋
• 申請（專利權）人: 北京航天測控技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/3183
• 代理公司: 北京華夏泰和知識產權代理有限公司 11662
• 代理人: 張亞輝

本發明公開了一種基于STIL技術的芯片自動測試方法、系統及裝置，所述方法包括：若接收到數據加載指令，獲取待測數據并解析，生成基于STIL標準的第一測試數據；對所述第一測試數據進行解析，生成第二測試數據；若接收到測試執行指令，根據所述第二測試數據進行測試，得到測試結果；若接收到數據分析指令，對所述測試結果進行處理，生成基于STDF標準的第三測試數據。本發明可實現芯片測試統一標準。

技術領域

本發明涉及芯片測試技術領域，具體地涉及一種基于STIL技術的芯片自動測試方法、系統及裝置。

背景技術

芯片測試系統的方式涵蓋VCD、EVCD、WGL、PAT等多種格式，各個格式的描述標準與特定廠家綁定緊密，并不完全對外開放或兼容，且無法完全涵蓋芯片測試可能用到的數字、模擬、串行、射頻、DPS等通用測試資源，因此最終發展出了基于IEEE Std 1450(STIL)系列標準體系的新一代先進芯片自動測試交互方式。無論是哪種方式的芯片自動測試系統，其內部都需要一套完善的測試運行管理機制來支持、維護。測試運行管理模塊用于實現STIL文件解析、測試程序定義與開發、測試程序執行、分析硬件鏈路、控制硬件資源、獲取結果數據等，是芯片測試系統執行的核心。目前大部分芯片測試系統以兼容國外設備或文件格式為目的，不能脫離特定廠商的技術生態，隨著芯片測試系統的自主研發與工程化應用要求，對標準化的芯片自動測試系統的測試運行服務提出了要求。

發明內容

本發明的目的在于提供一種開放式的、可通用的基于STIL技術的芯片自動測試方法、系統及裝置。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種基于STIL技術的芯片自動測試方法，所述方法包括：

若接收到數據加載指令，獲取待測數據并解析，生成基于STIL標準的第一測試數據；

對所述第一測試數據進行解析，生成第二測試數據；

若接收到測試執行指令，根據所述第二測試數據進行測試，得到測試結果；

若接收到數據分析指令，對所述測試結果進行處理，生成基于STDF標準的第三測試數據。

為解決上述技術問題，本發明采用的另一個技術方案是：提供一種基于STIL技術的芯片自動測試系統，所述系統包括交互管理模塊、文件解析服務模塊、測試執行模塊、數據分析服務模塊、STIL標準引擎模塊、資源調用引擎模塊、STDF標準引擎模塊和硬件資源模塊。

交互管理模塊，用于進行人機交互。

文件解析服務模塊，所述文件解析服務模塊與所述交互管理模塊連接，所述文件解析服務模塊用于生成基于STIL標準的第一測試數據。

STIL標準引擎模塊，所述標準引擎模塊與所述文件解析服務模塊和測試執行模塊連接，所述標準引擎模塊用于對文件解析服務模塊生成的的STIL標準測試數據進行進一步解析。

測試執行模塊，所述測試執行模塊與所述交互管理模塊、STIL標準引擎模塊和資源調用模塊連接，所述測試執行服務模塊用于將經過進一步解析的STIL標準測試數據傳輸至資源調用引擎模塊。

資源調用引擎模塊，所述資源調用引擎模塊還與所述數據分析服務模塊和硬件資源模塊連接，所述資源調用模塊用于將經過進一步解析的STIL標準測試數據分配至硬件資源模塊。

硬件資源模塊，所述硬件資源模塊與所述資源調用引擎模塊連接，所述硬件資源模塊接收所述資源調用模塊傳輸來的STIL標準測試數據并執行相應的測試，并將測試得到的測試結果反饋給資源調用引擎模塊。

數據分析服務模塊，所述數據分析服務模塊與所述交互管理模塊、資源調用引擎模塊連接，所述數據分析服務模塊對資源調用引擎模塊反饋的測試結果進行分析并存儲。