[發(fā)明專利]基于STIL技術(shù)的芯片自動(dòng)測(cè)試方法、系統(tǒng)及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202111651110.0
• 申請(qǐng)日: 2021-12-30
• 公開（公告）號(hào): CN114325330A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 任朝旭;路林海;韓惠婕;李立佳;張俊霞;秦留洋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京航天測(cè)控技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R31/3183
• 代理公司: 北京華夏泰和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11662
• 代理人: 張亞輝

1.一種基于STIL技術(shù)的芯片自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：

若接收到數(shù)據(jù)加載指令，獲取待測(cè)數(shù)據(jù)并解析，生成基于STIL標(biāo)準(zhǔn)的第一測(cè)試數(shù)據(jù)；

對(duì)所述第一測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析，生成第二測(cè)試數(shù)據(jù)；

若接收到測(cè)試執(zhí)行指令，根據(jù)所述第二測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)試，得到測(cè)試結(jié)果；

若接收到數(shù)據(jù)分析指令，對(duì)所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行處理，生成基于STDF標(biāo)準(zhǔn)的第三測(cè)試數(shù)據(jù)。

2.如權(quán)利要求1所述的基于STIL技術(shù)的芯片自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述若接收到數(shù)據(jù)加載指令，獲取待測(cè)數(shù)據(jù)并解析，生成基于STIL標(biāo)準(zhǔn)的第一測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

對(duì)所述待測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行信號(hào)、向量、時(shí)序、波形的分解和解析，生成基于STIL標(biāo)準(zhǔn)的信號(hào)信息、向量信息、時(shí)序信息和波形信息；

將生成的信號(hào)信息、向量信息、時(shí)序信息和波形信息作為所述第一測(cè)試數(shù)據(jù)。

3.如權(quán)利要求2所述的基于STIL技術(shù)的芯片自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述對(duì)所述第一測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析，生成第二測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

獲取信號(hào)信息；

基于所述信號(hào)信息，對(duì)信號(hào)信息進(jìn)行名稱、類型、輸入輸出、連接關(guān)系的解析，生成標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)信息；

將所述標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)信息作為所述第二測(cè)試數(shù)據(jù)。

4.如權(quán)利要求3所述的基于STIL技術(shù)的芯片自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述對(duì)所述第一測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析，生成第二測(cè)試數(shù)據(jù)還包括：

獲取標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)信息和第一測(cè)試數(shù)據(jù)，

基于所述標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)信息和第一測(cè)試數(shù)據(jù)，確定用于測(cè)試的邏輯數(shù)據(jù)、基于周期信號(hào)格式的輸入輸出數(shù)據(jù)和具體信號(hào)的定義，生成標(biāo)準(zhǔn)向量信息；

將所述標(biāo)準(zhǔn)向量信息作為所述第二測(cè)試數(shù)據(jù)。

5.如權(quán)利要求4所述的基于STIL技術(shù)的芯片自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述對(duì)所述第一測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析，生成第二測(cè)試數(shù)據(jù)還包括：

獲取標(biāo)準(zhǔn)向量信息和第一測(cè)試數(shù)據(jù)；

基于所述標(biāo)準(zhǔn)向量信息和第一測(cè)試數(shù)據(jù)，確定各個(gè)具體信號(hào)在每個(gè)時(shí)間周期的值以及向量的前后時(shí)序關(guān)系定義，生成標(biāo)準(zhǔn)時(shí)序信息；

將所述標(biāo)準(zhǔn)時(shí)序信息作為所述第二測(cè)試數(shù)據(jù)。

6.如權(quán)利要求5所述的基于STIL技術(shù)的芯片自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述對(duì)所述第一測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析，生成第二測(cè)試數(shù)據(jù)還包括：

獲取標(biāo)準(zhǔn)時(shí)序信息和第一測(cè)試數(shù)據(jù)；

基于所述標(biāo)準(zhǔn)時(shí)序信息和第一測(cè)試數(shù)據(jù)，確定各個(gè)信號(hào)在各自向量對(duì)應(yīng)的時(shí)序中的信號(hào)波形信息、波形塊數(shù)量以及波形深度，生成標(biāo)準(zhǔn)波形信息；

將所述標(biāo)準(zhǔn)波形信息作為所述第二測(cè)試數(shù)據(jù)。