[發(fā)明專利]測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202111644637.0
• 申請(qǐng)日: 2021-12-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114413723A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-04-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王慧峰;張力敏;劉倩倩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京無(wú)線電計(jì)量測(cè)試研究所
• 主分類號(hào): G01B5/14
• 分類號(hào): G01B5/14
• 代理公司: 中國(guó)航天科工集團(tuán)公司專利中心 11024
• 代理人: 張國(guó)虹

本申請(qǐng)涉及一種測(cè)試裝置，包括底板和至少兩根定位銷，各所述定位銷立設(shè)在所述底板的同一面，各所述定位銷的外徑和被測(cè)件上各被測(cè)孔的內(nèi)徑相適應(yīng)，各所述定位銷之間中心距和被測(cè)件上各被測(cè)孔之間的孔距相等。本申請(qǐng)的測(cè)試裝置，能夠快速、準(zhǔn)確的測(cè)試出被測(cè)件的被測(cè)孔是否合格，彌補(bǔ)了卡尺、塞規(guī)等傳統(tǒng)測(cè)量工具的不足，提高了測(cè)試效率，節(jié)省了人力物力。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

目前，很多電子元器件上帶有法蘭盤，法蘭盤上設(shè)有安裝孔，安裝孔通過(guò)螺釘和其他元器件連接。為了保證電子元器件的性能，對(duì)于安裝孔的尺寸和孔距的要求都比較高。且由于電子元器件的尺寸一般較小，通過(guò)卡尺、塞規(guī)等傳統(tǒng)方式對(duì)各安裝孔的一致性測(cè)量時(shí)效率很低，無(wú)法快速驗(yàn)證各安裝孔的尺寸即孔距是否達(dá)標(biāo)。

因此，發(fā)明人提供了一種測(cè)試裝置。

發(fā)明內(nèi)容

(1)要解決的技術(shù)問(wèn)題

本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種測(cè)試裝置，解決了不能快速對(duì)電子元器件上法蘭盤的被測(cè)孔的尺寸及孔距進(jìn)行快速測(cè)量及驗(yàn)證的技術(shù)問(wèn)題。

(2)技術(shù)方案

為了解決上述問(wèn)題，本申請(qǐng)的實(shí)施例提出了一種測(cè)試裝置，包括：

底板；

至少兩根定位銷，各所述定位銷立設(shè)在所述底板的同一面，各所述定位銷的外徑和被測(cè)件上各被測(cè)孔的內(nèi)徑相適應(yīng)，各所述定位銷之間中心距和被測(cè)件上各被測(cè)孔之間的孔距相等。

可選地，所述定位銷包括測(cè)試部，所述測(cè)試部為錐形圓柱形，所述測(cè)試部直徑較大的一端靠近所述底板設(shè)置。

可選地，所述測(cè)試部直徑較小一端的直徑等于所述被測(cè)孔的內(nèi)徑的下偏差尺寸，所述測(cè)試部直徑較大一端的直徑等于所述被測(cè)孔的內(nèi)徑的上偏差尺寸。

可選地，所述定位銷還包括引導(dǎo)部，所述引導(dǎo)部位于所述測(cè)試部遠(yuǎn)離所述底板的一端，所述引導(dǎo)部的直徑小于所述測(cè)試部的直徑。

可選地，所述引導(dǎo)部為錐形圓柱形，所述引導(dǎo)部直徑較大的一端靠近所述測(cè)試部。

可選地，所述定位銷還包括安裝部，所述安裝部連接在所述底板上，所述安裝部位于所述底板和所述測(cè)試部之間。

可選地，各所述定位銷的中心距的公差和對(duì)應(yīng)被測(cè)孔的孔距的公差相等。

可選地，所述底板采用鋁材制成，所述定位銷采用銅材制成。

(3)有益效果

綜上，本申請(qǐng)的測(cè)試裝置測(cè)試時(shí)，將被測(cè)件的被測(cè)孔卡入各定位銷，若能夠順利卡入，則說(shuō)明被測(cè)件的被測(cè)孔的尺寸及孔距是合格的，若各被測(cè)孔不能順利卡入，則說(shuō)明被測(cè)件的各安裝的尺寸即孔距不合格。

本申請(qǐng)的測(cè)試裝置，能夠快速、準(zhǔn)確的測(cè)試出被測(cè)件的被測(cè)孔是否合格，彌補(bǔ)了卡尺、塞規(guī)等傳統(tǒng)測(cè)量工具的不足，提高了測(cè)試效率，節(jié)省了人力物力。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本申請(qǐng)實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對(duì)本申請(qǐng)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面所描述的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本申請(qǐng)一實(shí)施例中測(cè)試裝置和被測(cè)件待測(cè)量時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本申請(qǐng)一實(shí)施例中測(cè)試裝置的俯視圖。

圖3是本申請(qǐng)一實(shí)施例中測(cè)試裝置和被測(cè)件測(cè)量時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖中：