[發(fā)明專(zhuān)利]測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202111644637.0
• 申請(qǐng)日: 2021-12-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114413723A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-04-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王慧峰;張力敏;劉倩倩
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 北京無(wú)線(xiàn)電計(jì)量測(cè)試研究所
• 主分類(lèi)號(hào): G01B5/14
• 分類(lèi)號(hào): G01B5/14
• 代理公司: 中國(guó)航天科工集團(tuán)公司專(zhuān)利中心 11024
• 代理人: 張國(guó)虹

1.一種測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

底板；

至少兩根定位銷(xiāo)，各所述定位銷(xiāo)立設(shè)在所述底板的同一面，各所述定位銷(xiāo)的外徑和被測(cè)件上各被測(cè)孔的內(nèi)徑相適應(yīng)，各所述定位銷(xiāo)之間中心距和被測(cè)件上各被測(cè)孔之間的孔距相等。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述定位銷(xiāo)包括測(cè)試部，所述測(cè)試部為錐形圓柱形，所述測(cè)試部直徑較大的一端靠近所述底板設(shè)置。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試部直徑較小一端的直徑等于所述被測(cè)孔的內(nèi)徑的下偏差尺寸，所述測(cè)試部直徑較大一端的直徑等于所述被測(cè)孔的內(nèi)徑的上偏差尺寸。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述定位銷(xiāo)還包括引導(dǎo)部，所述引導(dǎo)部位于所述測(cè)試部遠(yuǎn)離所述底板的一端，所述引導(dǎo)部的直徑小于所述測(cè)試部的直徑。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述引導(dǎo)部為錐形圓柱形，所述引導(dǎo)部直徑較大的一端靠近所述測(cè)試部。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述定位銷(xiāo)還包括安裝部，所述安裝部連接在所述底板上，所述安裝部位于所述底板和所述測(cè)試部之間。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的測(cè)試裝置，其特征在于，各所述定位銷(xiāo)的中心距的公差和對(duì)應(yīng)被測(cè)孔的孔距的公差相等。

8.根據(jù)權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述底板采用鋁材制成，所述定位銷(xiāo)采用銅材制成。