[發(fā)明專利]一種光模塊老化測(cè)試方法及系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202111605511.2
• 申請(qǐng)日: 2021-12-25
• 公開（公告）號(hào): CN114301522A
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 薄生偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 長(zhǎng)飛光纖光纜股份有限公司
• 主分類號(hào): H04B10/079
• 分類號(hào): H04B10/079;G01K13/00
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務(wù)所(普通合伙) 42224
• 代理人: 雷霄

本發(fā)明公開了一種光模塊老化測(cè)試方法及系統(tǒng)，所述光模塊包括光發(fā)射端口、光接收端口和監(jiān)控模塊，所述監(jiān)控模塊用于根據(jù)所述光接收端口接收到的信號(hào)生成監(jiān)測(cè)值，所述方法包括步驟：將所述光發(fā)射端口和所述光接收端口通過(guò)光纖連接；讀取所述監(jiān)控模塊在老化前和老化后的監(jiān)測(cè)值，根據(jù)老化前和老化后的監(jiān)測(cè)值變化輸出老化測(cè)試結(jié)果；另外本發(fā)明還可以根據(jù)偏置電流與溫度的映射表來(lái)調(diào)節(jié)光模塊偏置電流。本發(fā)明降低了老化不良誤判率，提高了老化測(cè)試效率，降低了老化測(cè)試成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于光通信技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種光模塊老化測(cè)試方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

光模塊主要用于光信號(hào)的收發(fā)，是光纖通信系統(tǒng)中的核心器件。光模塊老化工序是生產(chǎn)過(guò)程中的重要工序，其主要目的是通過(guò)老化工序篩選出可靠性薄弱的激光器，避免發(fā)貨到客戶端的光模塊出現(xiàn)早期失效，從而保證光通信網(wǎng)絡(luò)平穩(wěn)運(yùn)行。

當(dāng)前老化工序需要經(jīng)過(guò)老化前測(cè)試、在老化環(huán)境試驗(yàn)箱中老化、老化后測(cè)試以及判斷是否合格等主要步驟。如圖1所示，具體包括：(1)首先進(jìn)行老化前測(cè)試，將光模塊插入測(cè)試板，通過(guò)光纖連接至光功率計(jì)，記錄光功率值P0；(2)將光模塊插入老化環(huán)境試驗(yàn)箱中的老化板進(jìn)行帶電老化；(3)將光模塊取出，進(jìn)行老化后測(cè)試，測(cè)試方法與老化前測(cè)試相同，記錄光功率值P1，通過(guò)判斷光功率變化值，得出光模塊是否正常。

因老化測(cè)試時(shí)光模塊設(shè)置的偏置電流和老化過(guò)程中設(shè)置的偏置電流不同，通常需要通過(guò)在測(cè)試過(guò)程中設(shè)置光模塊偏置電流，如光模塊默認(rèn)偏置電流為a，此偏置電流為常溫測(cè)試時(shí)光模塊工作電流，老化前后偏置電流應(yīng)保持一致，以便做光功率對(duì)比。老化時(shí)溫度較高，通常在100度甚至更高，此時(shí)需要通過(guò)測(cè)試軟件更新偏置電流為b；而老化結(jié)束后進(jìn)行老化測(cè)試時(shí)又要將偏置電流配置為a。此種方法存在以下不足：(1)在老化前、后測(cè)試中至少需要經(jīng)過(guò)兩次插拔光纖，每次插拔光纖會(huì)帶來(lái)測(cè)試誤差；(2)該過(guò)程需要多次調(diào)節(jié)偏置電流、增加了生產(chǎn)測(cè)試軟件的復(fù)雜度，容易產(chǎn)生混淆；(3)對(duì)于同一個(gè)光模塊，老化前、后測(cè)試的機(jī)臺(tái)通常不是同一臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)，而系統(tǒng)之間有固定的測(cè)試偏差，包括由光纖自身?yè)p耗和光功率計(jì)帶來(lái)的偏差。上述不足可能會(huì)導(dǎo)致一定比例的合格光模塊被誤判為不良，以至于增加了制造成本。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的至少一個(gè)缺陷或改進(jìn)需求，本發(fā)明提供了一種光模塊老化測(cè)試方法及系統(tǒng)，提高了老化測(cè)試效率，降低了老化測(cè)試成本。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，按照本發(fā)明的第一方面，提供了一種光模塊老化測(cè)試方法，所述光模塊包括光發(fā)射端口、光接收端口和監(jiān)控模塊，所述監(jiān)控模塊用于根據(jù)所述光接收端口接收到的信號(hào)生成監(jiān)測(cè)值，所述方法包括步驟：

將所述光發(fā)射端口和所述光接收端口通過(guò)光纖連接；

讀取所述監(jiān)控模塊在老化前和老化后的監(jiān)測(cè)值，根據(jù)老化前和老化后的監(jiān)測(cè)值變化輸出老化測(cè)試結(jié)果。

進(jìn)一步地，光模塊老化測(cè)試方法，還包括步驟：

存儲(chǔ)光模塊偏置電流與溫度的映射表，所述映射表中至少包括第一溫度和第二溫度，第一溫度對(duì)應(yīng)的偏置電流值為第一值，第二溫度對(duì)應(yīng)的偏置電流值為第二值；

老化前將所述光模塊置于第一溫度，并根據(jù)所述映射表將所述光模塊的偏置電流值調(diào)至第一值，老化測(cè)試過(guò)程中將所述光模塊置于第二溫度，并根據(jù)所述映射表將所述光模塊的偏置電流值調(diào)至第二值，老化結(jié)束后將所述光模塊置于第一溫度，并根據(jù)所述映射表將所述光模塊的偏置電流值恢復(fù)至第一值。

進(jìn)一步地，將所述映射表固化在所述光模塊中，所述光模塊根據(jù)所述映射表自動(dòng)調(diào)節(jié)其偏置電流值。