[發(fā)明專(zhuān)利]一種光模塊老化測(cè)試方法及系統(tǒng)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202111605511.2
• 申請(qǐng)日: 2021-12-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114301522A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-04-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 薄生偉
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 長(zhǎng)飛光纖光纜股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): H04B10/079
• 分類(lèi)號(hào): H04B10/079;G01K13/00
• 代理公司: 武漢東喻專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) 42224
• 代理人: 雷霄

1.一種光模塊老化測(cè)試方法，其特征在于，所述光模塊包括光發(fā)射端口、光接收端口和監(jiān)控模塊，所述監(jiān)控模塊用于根據(jù)所述光接收端口接收到的信號(hào)生成監(jiān)測(cè)值，所述方法包括步驟：

將所述光發(fā)射端口和所述光接收端口通過(guò)光纖連接；

讀取所述監(jiān)控模塊在老化前和老化后的監(jiān)測(cè)值，根據(jù)老化前和老化后的監(jiān)測(cè)值變化輸出老化測(cè)試結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的一種光模塊老化測(cè)試方法，其特征在于，還包括步驟：

存儲(chǔ)光模塊偏置電流與溫度的映射表，所述映射表中至少包括第一溫度和第二溫度，第一溫度對(duì)應(yīng)的偏置電流值為第一值，第二溫度對(duì)應(yīng)的偏置電流值為第二值；

老化前將所述光模塊置于第一溫度，并根據(jù)所述映射表將所述光模塊的偏置電流值調(diào)至第一值，老化測(cè)試過(guò)程中將所述光模塊置于第二溫度，并根據(jù)所述映射表將所述光模塊的偏置電流值調(diào)至第二值，老化結(jié)束后將所述光模塊置于第一溫度，并根據(jù)所述映射表將所述光模塊的偏置電流值恢復(fù)至第一值。

3.如權(quán)利要求2所述的一種光模塊老化測(cè)試方法，其特征在于，將所述映射表固化在所述光模塊中，所述光模塊根據(jù)所述映射表自動(dòng)調(diào)節(jié)其偏置電流值。

4.如權(quán)利要求2所述的一種光模塊老化測(cè)試方法，其特征在于，將所述第一溫度記為T(mén)1，將所述第二溫度記為T(mén)2，所述第一值記為a，所述第二值記為b，所述映射表包括第一溫度區(qū)間、第二溫度區(qū)間和第三溫度區(qū)間，所述第一溫度區(qū)間范圍為(T1-σ1，T1+σ2),所述第二溫度區(qū)間為(T2-σ3，T2+σ4)，所述第三溫度區(qū)間為[T1+σ2,T2-σ3],σ1、σ2、σ3、σ4為預(yù)設(shè)閾值，所述第一溫度區(qū)間對(duì)應(yīng)的偏置電流值為所述第一值，所述第二溫度區(qū)間對(duì)應(yīng)的偏置電流值為所述第二值，所述第三溫度區(qū)間對(duì)應(yīng)的偏置電流值為變化值。

5.如權(quán)利要求4所述的一種光模塊老化測(cè)試方法，其特征在于，所述第三溫度區(qū)間對(duì)應(yīng)的偏置電流值與溫度成線性關(guān)系，并且偏置電流值范圍為[a,b]。

6.如權(quán)利要求1所述的一種光模塊老化測(cè)試方法，其特征在于，監(jiān)控值為光接收功率值。

7.如權(quán)利要求1所述的一種光模塊老化測(cè)試方法，其特征在于，在老化板上布置多個(gè)所述光模塊，將上位機(jī)與多個(gè)所述光模塊電連接，并行讀取多個(gè)所述光模塊在老化前和老化后的監(jiān)測(cè)值，輸出多個(gè)所述光模塊的老化測(cè)試結(jié)果。

8.如權(quán)利要求7所述的一種光模塊老化測(cè)試方法，其特征在于，輸出多個(gè)所述光模塊中不合格品的信息。

9.一種光模塊老化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述光模塊包括光發(fā)射端口、光接收端口和監(jiān)控模塊，所述監(jiān)控模塊用于根據(jù)所述光接收端口接收到的信號(hào)生成監(jiān)測(cè)值，所述系統(tǒng)包括：

光纖，用于將所述光發(fā)射端口和所述光接收端口連接；

上位機(jī)，用于將讀取所述監(jiān)控模塊在老化前和老化后的監(jiān)測(cè)值，根據(jù)老化前和老化后的監(jiān)測(cè)值變化輸出老化測(cè)試結(jié)果。

10.如權(quán)利要求9所述的一種光模塊老化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括老化板，所述老化板用于在其上布置多個(gè)所述光模塊并提供多個(gè)所述光模塊與所述上位機(jī)通信的接口。