[發明專利]芯片寄存器的系統級驗證方法、系統、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202111594096.5
• 申請日: 2021-12-23
• 公開（公告）號: CN114330177A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 楊靜;邵海波;樂亞平
• 申請（專利權）人: 山東云海國創云計算裝備產業創新中心有限公司
• 主分類號: G06F30/33
• 分類號: G06F30/33;G06F11/26;G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 劉珂

1.一種芯片寄存器的系統級驗證方法，其特征在于，包括：

建立待測芯片的CPU的各個總線信號與驗證平臺的各個接口信號之間的一一對應關系，以使得在進行所述待測芯片的寄存器的系統級驗證的過程中，通過所述驗證平臺發送的接口信號替換所述CPU的總線信號；

生成測試用例，并為所述待測芯片的各個寄存器分別建立對應的寄存器模型，并且根據預設的地址映射表確定出各個寄存器的實際地址；

針對所述待測芯片的目標寄存器，基于對應于所述目標寄存器的寄存器模型執行所述測試用例，得到所述目標寄存器的系統級驗證結果。

2.根據權利要求1所述的芯片寄存器的系統級驗證方法，其特征在于，生成的所述測試用例包括：寄存器默認值測試用例，寄存器讀寫測試用例，以及寄存器比特位測試用例；

所述針對所述待測芯片的目標寄存器，基于對應于所述目標寄存器的寄存器模型執行所述測試用例，得到所述目標寄存器的系統級驗證結果，包括：

針對所述待測芯片的目標寄存器，基于對應于所述目標寄存器的寄存器模型依次執行所述寄存器默認值測試用例、所述寄存器讀寫測試用例、以及所述寄存器比特位測試用例，依次得到所述目標寄存器的默認值測試結果、所述目標寄存器的讀寫測試結果、以及所述目標寄存器的比特位測試結果。

3.根據權利要求2所述的芯片寄存器的系統級驗證方法，其特征在于，基于對應于所述目標寄存器的寄存器模型執行所述寄存器默認值測試用例，得到所述目標寄存器的默認值測試結果，包括：

當所述目標寄存器為只寫寄存器時，基于對應于所述目標寄存器的寄存器模型執行所述寄存器默認值測試用例，以后門讀的方式得到所述目標寄存器的實際默認值，并且僅當所述實際默認值與通過對應于所述目標寄存器的寄存器模型得到的鏡像值一致時，確定所述目標寄存器的默認值測試結果為通過；

當所述目標寄存器不為只寫寄存器時，基于對應于所述目標寄存器的寄存器模型執行所述寄存器默認值測試用例，以前門讀的方式得到所述目標寄存器的實際默認值，并且僅當所述實際默認值與通過對應于所述目標寄存器的寄存器模型得到的鏡像值一致時，確定所述目標寄存器的默認值測試結果為通過。

4.根據權利要求2所述的芯片寄存器的系統級驗證方法，其特征在于，基于對應于所述目標寄存器的寄存器模型執行所述寄存器讀寫測試用例，得到所述目標寄存器的讀寫測試結果，包括：

基于對應于所述目標寄存器的寄存器模型執行所述寄存器讀寫測試用例，以后門讀的方式得到所述目標寄存器的實際默認值，并且產生第一寫數據；

當所述目標寄存器為只讀寄存器時，以后門寫的方式寫所述第一寫數據，并在寫入之后以前門讀的方式讀取，并且僅當讀取的數值與所述第一寫數據一致時，確定所述目標寄存器的寄存器讀寫測試結果為通過；

當所述目標寄存器為只寫寄存器時，以前門寫的方式寫所述第一寫數據，并在寫入之后以后門讀的方式讀取，并且僅當讀取的數值為0時，確定所述目標寄存器的寄存器讀寫測試結果為通過；

當所述目標寄存器為讀寫寄存器時，以前門寫的方式寫所述第一寫數據，并在寫入之后以前門讀的方式讀取，并且僅當讀取的數值與所述第一寫數據一致時，確定所述目標寄存器的寄存器讀寫測試結果為通過。

5.根據權利要求4所述的芯片寄存器的系統級驗證方法，其特征在于，還包括：

在確定出所述目標寄存器的寄存器讀寫測試結果之后，判斷針對所述目標寄存器進行的寄存器讀寫測試的操作，是否對所述目標寄存器之外的其他任一寄存器中的數值造成了改變；

如果是，則輸出第一告警提示。