[發明專利]基于仿真和機器視覺的全液晶儀表測試方法及系統

在審

• 申請號: 202111542899.6
• 申請日: 2021-12-16
• 公開（公告）號: CN114264904A
• 公開（公告）日: 2022-04-01
• 發明（設計）人: 車強;王大偉;韓季秋;吳雨;黃明森;楊春
• 申請（專利權）人: 航天科技控股集團股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01D18/00
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 高倩

1.基于仿真和機器視覺的全液晶儀表測試方法，其特征在于，所述方法包括：

步驟一、待測試全液晶儀表的MCU與HMI進行通信：

MCU與HMI通過虛擬串口相連接，MCU通過虛擬串口將顯示目標的ID和數據data發送給HMI；HMI接收串口數據，并進行解析,解析出ID和data，并解析出的ID和data發送給界面仿真系統，且通過進程間通信將ID和data回傳給MCU；

步驟二、把MCU發送的ID和data與HMI回傳的ID和data進行對比，判斷HMI是否解析正確，如果不一致，則確定HMI解析出錯，并作記錄，如果一致，則確定HMI解析正確，轉入步驟三；

步驟三、界面仿真系統根據接收到的ID和data利用待測全液晶儀表的界面仿真程序仿真出全液晶儀表界面圖像；找出回傳給MCU的ID對應顯示目標的位置信息，并根據該位置信息在仿真出的全液晶儀表界面圖像中截取出顯示目標，并識別顯示目標中的數據信息，將識別出的數據信息與MCU發送給HMI的數據data進行對比，判斷界面顯示是否正確。

2.根據權利要求1所述的基于仿真和機器視覺的全液晶儀表測試方法，其特征在于，

所述步驟一中，MCU發送的ID是在消息數據庫選取的，并添加數據data；所述消息數據庫用于存儲滿足MCU與HMI間約定好的數據發送協議的各顯示目標的消息，每條消息包括顯示目標的ID段、數據段、校驗段。

3.根據權利要求2所述的基于仿真和機器視覺的全液晶儀表測試方法，其特征在于，步驟三中，在消息與界面位置對應關系庫中找到回傳給MCU的ID對應的顯示目標的位置信息，所述消息與界面位置對應關系庫是根據待測試全液晶儀表的界面設計確定的消息數據庫中存儲的消息與顯示目標在儀表上的坐標的對應關系。

4.基于仿真和機器視覺的全液晶儀表測試系統，其特征在于，所述系統包括：

采集模塊，用于采集待測試全液晶儀表MCU通過虛擬串口發送給待測試全液晶儀表HMI的顯示目標的ID和數據data，還用于采集HMI解析出并回傳給MCU的ID和data；

HMI解析判定模塊，與采集模塊連接，用于根據MCU發送的ID和data與HMI回傳的ID和data進行對比，判斷HMI是否解析正確，如果不一致，則確定HMI解析出錯，并作記錄，如果一致，則確定HMI解析正確；

界面仿真系統，與采集模塊連接，用于根據HMI回傳給MCU的ID和data利用待測全液晶儀表的界面仿真程序仿真出全液晶儀表界面圖像；

界面顯示判定模塊，同時與采集模塊和界面仿真系統連接，用于當確定HMI解析正確，根據回傳給MCU的ID找到對應顯示目標的位置信息，并根據該位置信息在仿真出的全液晶儀表界面圖像中取出顯示目標，并識別顯示目標中的數據信息，將識別出的數據信息與MCU發送給HMI的數據data進行對比，判斷界面顯示是否正確。

5.根據權利要求4所述的基于仿真和機器視覺的全液晶儀表測試系統，其特征在于，所述系統還包括消息數據庫；

所述消息數據庫用于存儲滿足MCU與HMI間約定好的數據發送協議的各顯示目標的消息，每條消息包括顯示目標的ID段、數據段、校驗段；

MCU發送的ID是在消息數據庫選取的，并添加數據data。

6.根據權利要求5所述的基于仿真和機器視覺的全液晶儀表測試系統，其特征在于，所述系統還包括消息與界面位置對應關系庫；

所述消息與界面位置對應關系庫是根據待測試全液晶儀表的界面設計確定的消息數據庫中存儲的消息與顯示目標在儀表上的坐標的對應關系；

界面顯示判定模塊，在消息與界面位置對應關系庫中找到回傳給MCU的ID對應的顯示目標的位置信息。