[發(fā)明專利]基于仿真和機(jī)器視覺的全液晶儀表測(cè)試方法及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111542899.6 | 申請(qǐng)日: | 2021-12-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114264904A | 公開(公告)日: | 2022-04-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 車強(qiáng);王大偉;韓季秋;吳雨;黃明森;楊春 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 航天科技控股集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01D18/00 |
| 代理公司: | 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109 | 代理人: | 高倩 |
| 地址: | 150060 黑龍*** | 國(guó)省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 仿真 機(jī)器 視覺 液晶 儀表 測(cè)試 方法 系統(tǒng) | ||
基于仿真和機(jī)器視覺的全液晶儀表測(cè)試方法及系統(tǒng),解決現(xiàn)有如何提高測(cè)試效率的問題,屬于全液晶儀表檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明包括:待測(cè)試全液晶儀表的MCU與HMI進(jìn)行通信:MCU通過虛擬串口將顯示目標(biāo)的ID和數(shù)據(jù)data發(fā)送給HMI;HMI解析出ID和data,并發(fā)送給界面仿真系統(tǒng),且回傳給MCU;把MCU發(fā)送的與HMI回傳的進(jìn)行對(duì)比,判斷HMI是否解析正確,若一致,執(zhí)行:界面仿真系統(tǒng)根據(jù)接收到的ID和data利用待測(cè)全液晶儀表的界面仿真程序仿真出全液晶儀表界面圖像;找出回傳ID對(duì)應(yīng)顯示目標(biāo)的位置信息,在仿真出的圖像中截取出顯示目標(biāo),并識(shí)別出數(shù)據(jù)信息,將該數(shù)據(jù)信息與MCU發(fā)送的data進(jìn)行對(duì)比,判斷界面顯示是否正確。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種基于仿真和機(jī)器視覺的全液晶儀表測(cè)試方法,屬于全液晶儀表檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
在全液晶儀表的開發(fā)過程中,常采用底板程序(MCU)+核心板程序(HMI)的結(jié)構(gòu)形式。兩個(gè)程序通過串口進(jìn)行通信,即MCU程序通過串口把數(shù)據(jù)發(fā)送給HMI端。兩個(gè)程序需要單獨(dú)測(cè)試,單獨(dú)測(cè)試通過后,需要把兩個(gè)程序組成一個(gè)系統(tǒng)在進(jìn)行最終測(cè)試。
類似全液晶儀表這種界面的測(cè)試常常需要大量人工操作和判別,因此出現(xiàn)了基于機(jī)器視覺的儀表檢測(cè)方法,一般其由攝像機(jī),圖像采集卡,儀表設(shè)備等基礎(chǔ)設(shè)備構(gòu)成,為了消除光照的影響,往往還需要一個(gè)封閉或避光的空間,或者是特定得光照環(huán)境。
這種方法的缺點(diǎn)很明顯,首先是需要投入上述硬件,價(jià)格昂貴且不利于普及,一般公司只有一套這樣的設(shè)備,因此同一時(shí)間只能有一個(gè)人使用,不適合多人開發(fā)。其次,由于圖像需要先經(jīng)過攝像頭等采集設(shè)備讀入,攝像頭和目標(biāo)距離,所處得光照環(huán)境會(huì)影響圖像得效果,因此需要對(duì)圖像進(jìn)行濾波去噪等一些列預(yù)處理,這就增加了整個(gè)系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間和復(fù)雜度。另外,上述系統(tǒng)需要儀表接收真實(shí)的can信號(hào),儀表往往需要根據(jù)技術(shù)文檔來響應(yīng)該信號(hào),例如,當(dāng)接收到某信號(hào)后5秒才觸發(fā)某信號(hào)燈,這就需要一個(gè)等待時(shí)間,一般儀表的信號(hào)燈都幾十個(gè)上百個(gè),這會(huì)增加總測(cè)試時(shí)間。
還有,上述設(shè)備只能發(fā)現(xiàn)問題,不能定位問題。其原因如下:
在MCU程序發(fā)送的數(shù)據(jù)正確的情況下,HMI端程序的bug大致產(chǎn)生于以下兩部分:
數(shù)據(jù)解析過程中出錯(cuò):HMI從串口接收數(shù)據(jù)后需要根據(jù)通信協(xié)議進(jìn)行解析,解析的過程中可能出錯(cuò)。例如MCU發(fā)送的數(shù)據(jù)是車速100,而HMI程序員在解析的時(shí)候出現(xiàn)了錯(cuò)誤,得到的是10。
數(shù)據(jù)顯示過程中出錯(cuò):HMI端正確解析出了數(shù)據(jù)100,但是程序員沒有把車速界面和轉(zhuǎn)速進(jìn)行了關(guān)聯(lián),這就導(dǎo)致顯示的車速始終是0,而轉(zhuǎn)速卻指示到了100。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有如何提高測(cè)試效率的問題,本發(fā)明提供一種基于仿真和機(jī)器視覺的全液晶儀表測(cè)試方法及系統(tǒng)。
本發(fā)明的一種基于仿真和機(jī)器視覺的全液晶儀表測(cè)試方法,所述方法包括:
步驟一、待測(cè)試全液晶儀表的MCU與HMI進(jìn)行通信:
MCU與HMI通過虛擬串口相連接,MCU通過虛擬串口將顯示目標(biāo)的ID和數(shù)據(jù)data發(fā)送給HMI;HMI接收串口數(shù)據(jù),并進(jìn)行解析,解析出ID和data,并解析出的ID和data發(fā)送給界面仿真系統(tǒng),且通過進(jìn)程間通信將ID和data回傳給MCU;
步驟二、把MCU發(fā)送的ID和data與HMI回傳的ID和data進(jìn)行對(duì)比,判斷HMI是否解析正確,如果不一致,則確定HMI解析出錯(cuò),并作記錄,如果一致,則確定HMI解析正確,轉(zhuǎn)入步驟三;
步驟三、界面仿真系統(tǒng)根據(jù)接收到的ID和data利用待測(cè)全液晶儀表的界面仿真程序仿真出全液晶儀表界面圖像;找出回傳給MCU的ID對(duì)應(yīng)顯示目標(biāo)的位置信息,并根據(jù)該位置信息在仿真出的全液晶儀表界面圖像中截取出顯示目標(biāo),并識(shí)別顯示目標(biāo)中的數(shù)據(jù)信息,將識(shí)別出的數(shù)據(jù)信息與MCU發(fā)送給HMI的數(shù)據(jù)data進(jìn)行對(duì)比,判斷界面顯示是否正確。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
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