[發(fā)明專利]顆粒物實(shí)時監(jiān)控和揚(yáng)塵行為分析方法、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111508077.6
• 申請日: 2021-12-10
• 公開（公告）號: CN113963317A
• 公開（公告）日: 2022-01-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐潛;鄭勤奮;張曉青
• 申請（專利權(quán)）人: 柏美迪康環(huán)境科技（上海）股份有限公司
• 主分類號: G06V20/52
• 分類號: G06V20/52;G06V10/10
• 代理公司: 上海華誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31300
• 代理人: 崔巍

1.一種顆粒物的實(shí)時監(jiān)控方法，其特征在于，所述方法應(yīng)用于顆粒物的實(shí)時監(jiān)控系統(tǒng)，所述系統(tǒng)被配設(shè)于待監(jiān)控區(qū)域，所述系統(tǒng)包括至少一個第一光源、與所述至少一個第一光源對應(yīng)設(shè)置的至少一個第一采集儀、以及用于后端分析的電子設(shè)備，并且所述方法包括：

利用所述至少一個第一光源，在所述待監(jiān)控區(qū)域內(nèi)以預(yù)設(shè)的第一光強(qiáng)度提供可測光信號；

利用所述至少一個第一采集儀，于一段時間內(nèi)連續(xù)采集來自對應(yīng)的所述至少一個第一光源的、并經(jīng)過所述待監(jiān)控區(qū)域中的至少部分區(qū)域后的所述可測光信號，經(jīng)過所述待監(jiān)控區(qū)域中的至少部分區(qū)域后的所述可測光信號具有第二光強(qiáng)度；

利用所述電子設(shè)備，根據(jù)所述可測光信號的所述第一光強(qiáng)度和所述第二光強(qiáng)度，確定于所述待監(jiān)控區(qū)域中存在的揚(yáng)塵行為。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括至少一個第二光源、以及與所述至少一個第二光源對應(yīng)設(shè)置的至少一個第二采集儀，并且所述方法還包括：

利用所述至少一個第二光源，在所述待監(jiān)控區(qū)域內(nèi)提供激光信號；

利用所述至少一個第二采集儀，于一段時間內(nèi)連續(xù)采集來自對應(yīng)的所述至少一個第二光源的、并經(jīng)過所述待監(jiān)控區(qū)域中的至少部分區(qū)域后的所述激光信號形成的可測高亮光帶；

利用所述電子設(shè)備，確定所述可測高亮光帶上的符合預(yù)設(shè)條件的光點(diǎn)的位置，并且根據(jù)符合預(yù)設(shè)條件的光點(diǎn)的位置來確定于所述待監(jiān)控區(qū)域中存在的揚(yáng)塵行為的位置。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述可測光信號的所述第一光強(qiáng)度和所述第二光強(qiáng)度，確定于所述待監(jiān)控區(qū)域中存在的揚(yáng)塵行為包括：

判斷一段時間內(nèi)所述第二光強(qiáng)度和所述第一光強(qiáng)度的比值變化是否大于第一閾值；

如果一段時間內(nèi)所述第二光強(qiáng)度和所述第一光強(qiáng)度的比值變化大于第一閾值，則確定于所述待監(jiān)控區(qū)域中存在揚(yáng)塵行為，否則確定于所述待監(jiān)控區(qū)域中不存在揚(yáng)塵行為。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述可測光信號的所述第一光強(qiáng)度和所述第二光強(qiáng)度，確定于所述待監(jiān)控區(qū)域中存在的揚(yáng)塵行為包括：

判斷一段時間內(nèi)所述第二光強(qiáng)度和所述第一光強(qiáng)度的比值是否小于第二閾值；

如果一段時間內(nèi)所述第二光強(qiáng)度和所述第一光強(qiáng)度的比值小于第二閾值，則確定于所述待監(jiān)控區(qū)域中存在揚(yáng)塵行為，否則確定于所述待監(jiān)控區(qū)域中不存在揚(yáng)塵行為。

5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述第二光強(qiáng)度和所述第一光強(qiáng)度的比值與顆粒物在單位體積的濃度參數(shù)、顆粒物的介質(zhì)參數(shù)、所述至少一個第一光源和與所述至少一個第一光源對應(yīng)設(shè)置的所述至少一個第一采集儀之間的采集距離相關(guān)聯(lián)，關(guān)系表示為I₂/I₁∝e^-mρD，其中，I₂是所述第二光強(qiáng)度，I₁是所述第一光強(qiáng)度，m是顆粒物在單位體積的濃度參數(shù)，ρ是顆粒物的介質(zhì)參數(shù)，D是所述至少一個第一光源和與所述至少一個第一光源對應(yīng)設(shè)置的所述至少一個第一采集儀之間的采集距離。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，顆粒物的平均濃度與所述第二光強(qiáng)度和所述第一光強(qiáng)度的比值、顆粒物的介質(zhì)參數(shù)、所述至少一個第一光源和與所述至少一個第一光源對應(yīng)設(shè)置的所述至少一個第一采集儀之間的采集距離、顆粒物的體積相關(guān)聯(lián)，關(guān)系表示為其中，N是顆粒物的平均濃度，ρ是顆粒物的介質(zhì)參數(shù)，D是所述至少一個第一光源和與所述至少一個第一光源對應(yīng)設(shè)置的所述至少一個第一采集儀之間的采集距離，V是顆粒物的體積，I₂是所述第二光強(qiáng)度，I₁是所述第一光強(qiáng)度。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

利用所述電子設(shè)備，確定采集的所述可測光信號的圖像中的不可測圖案塊的數(shù)量，并且在不可測圖案塊的數(shù)量小于第三閾值時，確定采集的所述可測光信號的第二光強(qiáng)度。