[發明專利]一體化綜合測試裝置以及基于其的測試方法

有效

• 申請號: 202111507398.4
• 申請日: 2021-12-10
• 公開（公告）號: CN113922871B
• 公開（公告）日: 2022-02-08
• 發明（設計）人: 邱宇為;馬燕;周新亮
• 申請（專利權）人: 長芯盛（武漢）科技有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079;H04L43/18;H04L43/20
• 代理公司: 北京維昊知識產權代理事務所(普通合伙) 11804
• 代理人: 陳姍姍;崔旭東

本發明涉及一種一體化綜合測試裝置以及基于其的測試方法，其中一體化綜合測試裝置包括：控制單元，其配置成獲取關于待測試有源光纜的測試信息，并基于測試信息輸出測試指令；低速信號測試單元，其包括子測試單元和信號源，其中子測試單元配置成接收測試指令以及控制信號源輸出測試信號，其中測試信號為模擬有源光纜與設備間握手交互用的低速協議信號；接口單元配置成接收且向待測試有源光纜輸出所述測試信號以及向子測試單元輸出待測試有源光纜的反饋信號；子測試單元還配置成對反饋信號進行測試分析；以及將對反饋信號的分析結果發送至控制單元。通過本發明的方案，能夠支持有源光纜的低速協議信號的測試，且有效簡化測試操作以及提高測試效率。

技術領域

本發明一般地涉及有源光纜技術領域。更具體地，本發明涉及一種一體化綜合測試裝置和一種基于一體化綜合測試裝置的測試方法。

背景技術

本部分旨在為權利要求書中陳述的本發明的實施方式提供背景或上下文。此處的描述可包括可以探究的概念，但不一定是之前已經想到或者已經探究的概念。因此，除非在此指出，否則在本部分中描述的內容對于本申請的說明書和權利要求書而言不是現有技術，并且并不因為包括在本部分中就承認是現有技術。

大數據時代，高密度、高帶寬應用越來越多，此時無源光纜或基于銅線的電纜系統就顯得捉襟見肘。相較于傳統線纜，有源光纜（例如滿足USB 3.0協議的AOC）使用光纖或銅線來傳輸高速信號，其損耗比相同長度的無源線小，且在長距離傳輸中有巨大的優勢，被大量應用到消費領域和工業領域。另外，相比與傳統的純銅線線纜，滿足USB 3.0協議的有源光纜或混合線纜一般涉及集成有光電轉換芯片以及各種輔助電路的收發模組、傳輸高速信號的光纖以及傳輸供電信號和低速信號的銅線等多個組件。因此，在有源光纜量產過程中需要嚴格把控所裝配的多個組件來提高良品率。

然而目前并沒有相應的測試設備來供測試使用。傳統的USB 3.0銅線一般需要通過測試其電阻值來判斷是否生產合格，然而有源光纜的光-電轉換芯片需要將高速信號轉換成光信號以使用光纖進行傳輸，并且高速信號銅線或者低速透傳銅線在光纜的兩端接頭處截止。因此，傳統的使用電阻值的測試方法不再適用于有源光纜高速信號或低速透傳信號，且無法覆蓋AOC與主機端進行握手的信號質量測試，特別是針對有源光纜與主機端交互用的低速協議信號的測試。

為此，相關技術中可以借助主機設備和示波器對成品進行測試，雖然能夠支持對有源光纜的部分功能的測試。但是整個測試的實現成本較高，且操作過程繁瑣復雜以及測試效率低下，進而影響量產效率。

發明內容

為了至少解決上述背景技術部分所描述的技術問題，本發明提出了一種一體化綜合測試裝置的方案。利用本發明的方案，能夠支持有源光纜的低速協議信號的測試，且有效簡化測試操作以及提高測試效率。

另外，本發明還提了一種基于一體化綜合測試裝置的測試方法，對有源光纜的低速協議信號進行測試和優化，從而有效提升有源光纜量產測試的良率。

鑒于此，本發明在如下的多個方面提供解決方案。

本發明的第一方面提供了一種一體化綜合測試裝置，包括：控制單元，其配置成獲取關于待測試有源光纜的測試信息，并基于所述測試信息輸出測試指令；低速信號測試單元，其包括子測試單元和信號源，其中所述子測試單元與所述控制單元和所述信號源相連接，并配置成接收所述測試指令，以及控制所述信號源輸出測試信號，其中所述測試信號為模擬有源光纜與設備間握手交互用的低速協議信號；接口單元，其與所述信號源和所述待測試有源光纜相連接，并配置成接收且向所述待測試有源光纜輸出所述測試信號，以及向所述子測試單元輸出所述待測試有源光纜的反饋信號；其中，所述子測試單元還配置成：對所述反饋信號進行測試分析；以及將對所述反饋信號的分析結果發送至所述控制單元。

在一個實施例中，其中所述子測試單元包括低頻周期信號測試單元和/或熱復位信號測試單元，其中所述低頻周期信號測試單元獲取到的反饋信號包括有源光纜的接收端與發送端之間的雙向反饋信號。