[發明專利]一體化綜合測試裝置以及基于其的測試方法

有效

• 申請號: 202111507398.4
• 申請日: 2021-12-10
• 公開（公告）號: CN113922871B
• 公開（公告）日: 2022-02-08
• 發明（設計）人: 邱宇為;馬燕;周新亮
• 申請（專利權）人: 長芯盛（武漢）科技有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079;H04L43/18;H04L43/20
• 代理公司: 北京維昊知識產權代理事務所(普通合伙) 11804
• 代理人: 陳姍姍;崔旭東

1.一種一體化綜合測試裝置，其特征在于，包括：

控制單元，其配置成獲取關于待測試有源光纜的測試信息，并基于所述測試信息輸出測試指令；

低速信號測試單元，其包括子測試單元和信號源，其中所述子測試單元與所述控制單元和所述信號源相連接，并配置成接收所述測試指令，以及控制所述信號源輸出測試信號，其中所述測試信號為模擬有源光纜與設備間握手交互用的低速協議信號；

接口單元，其與所述信號源和所述待測試有源光纜相連接，并配置成接收且向所述待測試有源光纜輸出所述測試信號，以及向所述子測試單元輸出所述待測試有源光纜的反饋信號；

其中，所述子測試單元還配置成：

對所述反饋信號進行測試分析；以及

將對所述反饋信號的分析結果發送至所述控制單元。

2.根據權利要求1所述的一體化綜合測試裝置，其特征在于，其中所述子測試單元包括低頻周期信號測試單元和/或熱復位信號測試單元，其中所述低頻周期信號測試單元獲取到的反饋信號包括有源光纜的接收端與發送端之間的雙向反饋信號。

3.根據權利要求2所述的一體化綜合測試裝置，其特征在于，還包括：

動態配置單元，其與所述控制單元和所述低頻周期信號測試單元相連接，并配置成從所述控制單元處獲取所述分析結果，且根據所述分析結果選擇性調整目標寄存器的參數，以及根據對所述目標寄存器的參數的調整結果，觸發所述低頻周期信號測試單元再次執行對待測試有源光纜的測試和分析操作。

4.根據權利要求3所述的一體化綜合測試裝置，其特征在于，其中所述分析結果包括有源光纜的接收端與發送端之間的失敗方向，所述動態配置單元還配置成獲取關于所述失敗方向的目標寄存器的參數，其中所述目標寄存器的參數包括寬帶參數和/或光強參數。

5.根據權利要求4所述的一體化綜合測試裝置，其特征在于，其中所述目標寄存器為多個不同優先級的寄存器時，所述動態配置單元具體配置成根據優先級依次執行對寄存器的參數的調整操作和對所述低頻周期信號測試單元的觸發操作。

6.根據權利要求1所述的一體化綜合測試裝置，其特征在于，其中所述待測試有源光纜包括與所述接口單元連接的光電轉換模組，所述一體化綜合測試裝置還包括：

光功率測試單元，其與所述控制單元和所述接口單元相連接，并配置成執行以下操作：

觸發所述光電轉換模組處于發光狀態；

接收所述光電轉換模組反饋的用于表征接收信號強度指示值的電壓信號；以及

對所述電壓信號進行分析，并將分析結果反饋至所述控制單元。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的一體化綜合測試裝置，其特征在于，其中所述待測試有源光纜包括與所述接口單元連接的光電轉換模組，其中所述測試信息包括關于所述光電轉換模組的固件版本，所述一體化綜合測試裝置還包括：

固件下載單元，其與所述控制單元和所述接口單元相連接，并配置成檢測所述固件版本是否為測試版本，并響應于所述固件版本非測試版本，將其更新為所述測試版本。

8.一種基于權利要求3至5中任一項所述的一體化綜合測試裝置的測試方法，其特征在于，包括：

通過所述控制單元獲取關于待測試有源光纜的測試信息，并基于所述測試信息輸出測試指令；

通過所述子測試單元接收所述測試指令，并在所述子測試單元包括低頻周期信號測試單元時，通過所述低頻周期信號測試單元進行低頻周期信號測試，以及根據對低頻周期信號的測試結果選擇性觸發所述動態配置單元進行目標寄存器的參數的調整；以及

通過所述動態配置單元根據調整結果觸發所述低頻周期信號測試單元再次測試低頻周期信號。